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时间:2019-07-02
《航天电子产品表贴印制板组件的AOI检测分析》由会员上传分享,免费在线阅读,更多相关内容在行业资料-天天文库。
1、精选公文范文管理资料航天电子产品表贴印制板组件的AOI检测分析 虽然AOI检测技术在航天型号产品表贴印制板组件检测的使用还不成熟,且还有很多困难需要解决。但为提高产品的质量一致性和检测效率,AOI设备的使用已经迫在眉睫。如何将已经在民用产品成熟使用的AOI检测技术,成功地应用于航天电子产品表贴印制板组件检测,来取代人工目视检测的方法,提高产品的质量和生产效率是每一个航天电子产品生产企业面临的难题[1]. 本研究选择航天型号产品表贴印制板组件中片式器件回流炉后的AOI检测这一重点,着重讨论炉后片式器件的AOI检测程序的设定要求及程
2、序,统计分析检测误报、漏报较高的缺陷,并提出解决思路。 1[键入文字][键入文字][键入文字]精选公文范文管理资料航天电子产品表贴印制板组件的AOI检测分析 虽然AOI检测技术在航天型号产品表贴印制板组件检测的使用还不成熟,且还有很多困难需要解决。但为提高产品的质量一致性和检测效率,AOI设备的使用已经迫在眉睫。如何将已经在民用产品成熟使用的AOI检测技术,成功地应用于航天电子产品表贴印制板组件检测,来取代人工目视检测的方法,提高产品的质量和生产效率是每一个航天电子产品生产企业面临的难题[1]. 本研究选择航天型号产品表贴印制
3、板组件中片式器件回流炉后的AOI检测这一重点,着重讨论炉后片式器件的AOI检测程序的设定要求及程序,统计分析检测误报、漏报较高的缺陷,并提出解决思路。 1[键入文字][键入文字][键入文字]精选公文范文管理资料航天电子产品表贴印制板组件的AOI检测分析 虽然AOI检测技术在航天型号产品表贴印制板组件检测的使用还不成熟,且还有很多困难需要解决。但为提高产品的质量一致性和检测效率,AOI设备的使用已经迫在眉睫。如何将已经在民用产品成熟使用的AOI检测技术,成功地应用于航天电子产品表贴印制板组件检测,来取代人工目视检测的方法,提高产品
4、的质量和生产效率是每一个航天电子产品生产企业面临的难题[1]. 本研究选择航天型号产品表贴印制板组件中片式器件回流炉后的AOI检测这一重点,着重讨论炉后片式器件的AOI检测程序的设定要求及程序,统计分析检测误报、漏报较高的缺陷,并提出解决思路。 1[键入文字][键入文字][键入文字]精选公文范文管理资料AOI技术原理 自动光学检测(AOI)技术,是利用光源相机获取图像,再将实际影像进行颜色和像素分析,并与模板影像特征进行对比,属于一种外观检测技术[2].AOI设备通过摄像头,用CCD照明光源从不同角度采集印制板电路板的图像,再
5、利用设备自身的光学镜头将器件发射的光收集起来,最后通过软件的各种算法与之前储存的标准模板信息进行分析,判断印制板电路板组件的各种缺陷。 2AOI技术在SMT生产中的应用 在SMT生产过程中,AOI技术具有印制板光板检测、焊膏印刷检测、元件检验和焊接后印制板组件检测等功能。AOI设备放置的位置不一样,其检测的侧重点也有所不同[3].将AOI设备放置于SMT生产线的丝印设备后,对印制板的印刷质量进行检测。将AOI设备放置于贴片设备后,对印制板的元器件贴装质量进行检测。将AOI设备放置于回流炉后,对印制板组件焊接的最终情况进行检测,该
6、检测为SMT生产的最终检测,其他的检测均为过程控制检测。 3[键入文字][键入文字][键入文字]精选公文范文管理资料航天型号产品表贴印制板组件片式器件检测标准 要想利用AOI设备进行印制板电路板组件检测,首先要了解检测的工艺标准,不同的检测标准对设备的程序设置是完全不同的。公司型号产品表贴贴装印制电路板组件检测依据的是科工集团的检测标准Q/QJB177《表面贴装印制电路板组装件装配质量检验工艺规范》[4].工艺规范中对片式器件的检测相关标准有两个方面要求,其一是片式器件焊接端与焊盘的相对位置标准,如图1所示:元器件沿Y向偏移,最
7、小搭接量L应大于元器件焊接端长度T的75%;元器件沿X向偏移,侧面偏移A应小于或等于元器件焊接端宽度W的15%或焊盘宽度P的15%;元器件在焊盘上有旋转偏差,侧面偏移A应小于或等于元器件焊接端宽度W的15%或焊盘宽度P的15%其中的较小者,且不违反最小电气间隙。 其二是片式器件焊接点外观标准,焊点宽度C大于或等于元器件焊接端宽度W的75%,焊接端有良好的润湿,焊料偏少时焊点高度F大于三分之一元器件本体的高度H,焊料偏多时焊料超出焊盘或爬升至金属镀层的顶部,但不应接触元器件本体。侧面可焊接元器件焊点质量图例如图2所示。 4.片式器
8、件焊接缺陷AOI检测程序的设定 4.1片式器件AOI图像特征区域的识别 AOI设备检测流程中最为关键的步骤是如何设CGF置片式器件的检测区域和检测参数。为解决这一问题,首先要将片式器件在光学检测下的检测关键特征点转化为AOI设备图
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