AOI检测能力的开发

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1、AOI检测能力的开发　　摘要：对于表面工艺为热风+选择镀金的产品，容易出现金盘上锡等缺陷，采用人工检验的方法，容易出现漏验，且检验效率低，可靠性差，严重影响产品的使用。本文介绍了利用AOI来检验金盘缺陷（表面工艺为热风+选择镀金）的方法，突破了使用AOI只检验蚀刻产品的传统检验方法的局面，保证金盘使用的可靠性，进一步提升AOI的检测能力。　　关键字：人工检验AOI（自动光学检测）检验方法检测能力　　一、背景：　　对于表面工艺为热风整平+选择镀金的产品，容易出现镀金连接盘上锡等缺陷，采用人工检验的方法，容易出

2、现漏验，且检验效率低，可靠性差，严重影响产品的使用。故提出了使用AOI进行检验金盘缺陷，且将AOI检验内外层蚀刻产品的功能扩展为检验成品板的镀金连接盘。　　二、AOI的基本原理的介绍　　AOI（自动光学检查），是基于光学的反射原理，将标准资料与扫描资料进行逻辑比较，从而产生缺陷信息。标准资料是由CAM资料转换获得的，扫描资料是通过AOI的光学部件扫描实际产品，并经过内部处理器处理转换而成的。本文提到的方法即是利用了标准资料与扫描资料之间的差异，从而产生缺陷信息。所不同的是：传统的AOI检测原理是用正确的资料

3、检测各类产品，发现产品上的缺陷；而本文提出的方法是预设实际产品均为合格的产品，标准资料是由缺陷的，将缺陷信息转移到标准资料上，然后用实际产品检验标准资料，将标准资料上的缺陷信息报告出来。检验完成后，在量产模式下产生检测数据，检测数据传输到CVR（检修台）上，在CVR上将检测数据调取，由人员再通过CVR进行检验金盘缺陷。　　自动光学检查机所实现的并非是检验真实的缺陷，而是通过检验在标准资料中添加的模拟缺陷，再通过AOI设备固有的检测原理将此缺陷信息检测出来，以此方法，自动找到每个金盘；而CVR所实现的功能是：

4、为检验人员提供了一个能自动查找到所要检查的每一个金盘的平台，且根据个人视觉效果能进行可变的放大，确保人眼能够清晰的检测到金盘上的缺陷。　　三、采用AOI检测镀金连接盘锡点的方法：　　1、CAM数据的制作：　　在UCAM中调入生产数据.　　确认含有镀金连接盘的层别，删除无镀金连接盘的层别，可保留可剥层，或根据需要进行删除不用的层别，图中只保留了两层，绿色层为可剥层，红色为含镀金连接盘的线路层；　　因检验的产品为交货板，所以只保留了一个交货板，其他部分删除。此步骤完全根据检验产品的尺寸、类型而定。　　在交货板上

5、的每一个镀金连接盘上添加一个0.5mm大小的盘，此处的添加盘即为添加的缺陷，加在镀金连接盘的正中心，方便检测程序制作，也方便后续检验。如果镀金连接盘是一个实铜盘，所添加盘则为0.5mm的负像盘（或称为**），如果镀金连接盘不完全是实铜盘，则在上添加一个正像盘（或称为残铜）或负像盘，使添加缺陷能够与未添加缺陷前的图形有明显的差异，即可显示出缺陷。　　缺陷添加完成后，打开可剥层与含有添加缺陷的线路层，进行比对检查，看是否有未添加上的缺陷，保证每个金盘上都已完成缺陷添加，防止检验时漏验。检查完毕后，进行保存，保存

6、格式为产品工号.job，输出。　　2、AOI检测数据的制作：　　1）工作站数据传输：调取已做好的CAM数据，经过工作站转换输出，工作站是将CAM资料转化为AOI所能够识别的数据，以便后续的工作。　　2）在AOI上调用工作站输出的数据，对已调用的数据进行参数设置，将没有缺陷的区域遮盖掉不检验，如下图，黄色区域是遮盖的区域，漏出的区域添加缺陷的地方，是需要AOI设备检测到，并将漏出的缺陷信息报告出来。切忌将添加缺陷处遮盖掉，防止检测时有漏失，造成漏验。　　3）对位区块的设置　　AOI是在标准资料和扫描资料完全重

7、合的情况下，扫描时通过对角或同侧的两个上下对位区块，实现标准资料与实际产品的扫描资料完全重合，为缺陷扫描提供良好的保证。　　4）当机扫描验证　　选择对为扫描模式，进行扫描。查看扫描的信息，保证所有添加缺陷处都能报告缺陷信息。确认无误后，在量产模式下，进行自动扫描，只扫描一次即可。此数据可在CVR上重复使用。　　3、CVR数据的使用：　　AOI将检测数据传输到CVR上，调取数据后，调整定位钉，并调整合适的放大倍率，将需要检查的镀金连接盘完全呈现在显示器上，确保所有镀金连接盘及金盘的所有部位都能够不检测到。　　

8、四、过程中产生的问题及其解决措施：　　从金盘的CAM数据的制作到镀金连接盘缺陷制作过程中应注意以下几点：　　1、缺陷点的添加：　　添加缺陷时需要注意缺陷点的大小及其添加的位置。　　添加缺陷点太小，在检测时，产生的检测信息会太小，容易产生漏验；添加缺陷点太大，则报告的错误点又会太多，严重影响检验速度，一般缺陷点添加为0.3~0.6mm即可。缺陷点添加的位置尽量添加在镀金连接盘正中心，否则在CVR上检验时，镀金连接盘