《XRF技术规范培训》PPT课件

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1、南京电子电气产品实验室NJEEE(CIQ)何重辉Tel:025-52345385M.T.13951697725hechonghui@jsciq.gov.cn南京出入境检验检疫局2011-10-12XRF的原理介绍二次X光-X荧光原子核e-e-△E=E–E0E0EX光管产生的XrayE1E2Xray△E=E1–E0=KαXray△E=E2–E0=KβKLMNX射线激发所产生的分析线原子核e-KLMNKαKβLαLβMα特性X射线的能量定性分析的原理１次X射线１次X射线１次X射线由元素A所构成的样品由元素B所构成的样品由元素A和元素B所构成的样品元素A的荧光X射线元素B的

2、荧光X射线元素A和元素B的荧光X射线对由元素A和元素B所构成的样品进行X射线照射后，各个元素都会发生荧光X射线，但因两者所持能量强度不同，所以可以辨别。定量分析的应用元素A含量少的样品元素A元素A的荧光X射线元素A含量多的样品含元素A越多的话，元素A的荧光X射线也越强元素A的荧光X射线用XRF测定元素的方法事先测定标准物质(已知浓度的样品)↓从测定结果中求得浓度和X射线强度的关系(标准曲线)↓根据标准曲线算出实际样品的浓度一般用标准曲线法测定样品浓度样品强度XRF仪器构造样品波形分析器光管检测器滤光片筛选实验室技术规范电子电气产品的生产企业为了确保限用物质符合法规的要

3、求，需要对产品的材料进行检测。由于电子电气产品组成复杂，使用材料众多，批次更换频繁，因此湿法化学分析无论是在时间和费用上无法满足如此巨大的检测需求，这就迫使人们去寻找一种快速、低成本、易于操作甚至是无损的定量或半定量的检测方法。X射线荧光光谱分析法恰能满足上述要求。背景情况a)由于通过XRF不能获得样品中元素的价态和分子信息，因此对六价铬、多溴联苯和多溴二苯醚只能检测其总铬和总溴的含量；b)XRF提供的检测准确度只能达到半定量分析水平，也就是说，在规定的68%置信度水平下，测量结果的相对不确定度的典型值为30%甚至更好，但这和湿法化学分析相比，相对不确定度还是偏大。关

4、注点符合性判定Br的限量值是根据Br在PBB/PBDE中最常见同类物中的理想配比计算得到的，其限值为1000mg/kg。本方法设定以30%（复合材料为50%）的安全余量作为筛选过程的“处置界限（actionlevels）”；“低于限值”(BL)或者“高于限值”(OL)分别被确定为低于或者高于限值的30%（复合材料为50%；符号“X”表示需要进一步研究的区域。考虑到不同的XRF光谱仪之间的性能差异非常大，为了让采用不同设计、不同复杂程度及不同性能的XRF光谱仪都可以用于筛选分析，并考虑到实验室的操作人员、环境、管理对检测结果的影响，需要对采用XRF的电子电气产品中限用物

5、质筛选检测实验室规定必要的技术规范。存在问题及解决方案a)XRF仪器操作人员应具有：——对检测结果进行分析、解释的能力；——建立工作曲线的能力；——对能谱谱图进行读谱和识谱的能力。b)具有符合相关法规和标准要求的取制样能力。c)掌握GB/T26125-2011和GB/T26572-2011相关内容。人员从事XRF仪器操作人员应经过相关专业培训，包含但不限于设备的操作、日常维护、原理、结构、谱图分析、数据处理和相关法规要求，并能系统分析仪器设备、检测过程中相关因素对检测结果的影响。如涉及到样品拆分、制样岗位的人员应经过拆分、制样相关知识的培训，能熟练操作各类拆分和制样设

6、备，并能系统分析拆分和制样过程中相关因素对检测结果的影响培训a)仪器所在环境应相对独立，温湿度可单独控制，波动应不大于2℃/h。b)仪器周围应无强烈电磁干扰，无强气流及酸、碱等腐蚀性气体，无强烈振动源。c)所有与样品接触的材料应不含有目标元素或不产生对样品的污染。d)仪器所用的校准样品、质控样品或标准物质应有清晰的标识并妥善存放，避光保存，应避免用于规定用途以外的场合，除非能证明其性能不会失效。监督、设施和环境a)仪器应有型号、制造厂、出厂编号、出厂日期等标志；；b)辐射安全保护装置工作正常；(断路、自锁等）c)仪器的电离辐射应符合GB18871要求并持有国家规定部门

7、出具的合格报告。光谱仪-总体要求a)提供测试结果的标准偏差；b)具有储存测试部位图像功能；c)人工或自动基体匹配；d)经验系数法（EC法）；e)基本参数法（FP法）；f)干扰校正功能。光谱仪-软件要求为了验证指定测试部位和X射线照射光斑的吻合性，使用荧光板，同时打开X射线和图像功能，目测图像标示的中心点和X射线光斑中心点距离，对于标称光斑直径3mm～7mm，其偏离距离不应超出X射线最小光斑直径的四分之一。为了使X射线照射光斑清晰，可关闭照明光源，移开滤光片，将X光管高压电源调至40KV～50KV，逐渐增大灯丝电流至X射线照射光斑可见，但灯丝电流不应超