材料分析方法(贺毅)

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1、Ｘ射线：波长很短的电磁波特征Ｘ射线：是具有特定波长的X射线，也称单色X射线。连续Ｘ射线：是具有连续变化波长的X射线，也称多色X射线。荧光Ｘ射线：当入射的X射线光量子的能量足够大时，可以将原子内层电子击出，被打掉了内层的受激原子将发生外层电子向内层跃迁的过程，同时辐射出波长严格一定的特征X射线二次特征辐射：利用X射线激发作用而产生的新的特征谱线Ka辐射：电子由L层向K层跃迁辐射出的K系特征谱线相干辐射：X射线通过物质时在入射电场的作用下，物质原子中的电子将被迫围绕其平衡位置振动，同时向四周辐射出与入射X射线波长相同的散射X射线，称之为经典

2、散射。由于散射波与入射波的频率或波长相同，位相差恒定，在同一方向上各散射波符合相干条件，称为相干散射非相干辐射：散射位相与入射波位相之间不存在固定关系，故这种散射是不相干的俄歇电子：原子中一个K层电子被激发出以后，L层的一个电子跃迁入K层填补空白，剩下的能量不是以辐射原子散射因子：为评价原子散射本领引入系数f(f≤E)，称系数f为原子散射因子。他是考虑了各个电子散射波的位相差之后原子中所有电子散射波合成的结果结构因子：定量表征原子排布以及原子种类对衍射强度影响规律的参数，即晶体结构对衍射强度的影响多重性因素：同一晶面族{hkl}中的等同

3、晶面数系统消光：原子在晶体中位置不同或种类不同引起某些方向上衍射线消失的现象吸收限：当入射X射线光子能量达到某一阈值可击出物质原子内层电子时，产生光电效应。与此能量阈值相应的波长称为物质的吸收限。分辨率：是指成像物体上能分辨出的两个物点的最小距离明场像：用另外的装置来移动物镜光阑，使得只有未散射的透射电子束通过他，其他衍射的电子束被光阑挡掉，由此得到的图像暗场像：或是只有衍射电子束通过物镜光阑，投射电子束被光阑挡掉，由此得到的图像景深：是指当成像时，像平面不动，在满足成像清晰的前提下，物平面沿轴线前后可移动的距离焦长：焦长是指物点固定不

4、变（物距不变），在保持成像清晰的条件下，像平面沿透镜轴线可移动的距离。像差：由于透镜几何形状和电磁波波长变化对电磁透镜聚焦能力不一样造成的图像差异等厚干涉条纹：在电镜下我们会看到整个楔形晶体是亮暗相间的条纹，这些条纹很像地图上的等高线，每一条纹对应晶体的相等厚度区域所以叫等厚干涉条纹弯曲消光条纹：当样品厚度一定时，衍射束强度随样品内反射面相对布拉格位置偏移矢量S变化而呈周期摆动，相应的投射束强度按相反周期摆动，摆动周期为1／T，因而在电镜内显示出相应的条纹。衬度：像平面上各像点强度的差别质厚衬度：样品上的不同微区无论是质量还是厚度的差别

5、，均可引起相应区域投射电子强度的改变，从而在图像上形成亮暗不同的区域这一现象叫质厚衬度效应双束近似：假定电子束透过晶体试样成像时，除投射束外只存在一束较强的衍射束，而其他衍射束则大大偏离布拉格条件，他们的强度都可以视为零衍射衬度：把薄晶体下表面上每点的衬度和晶柱结构对应起来的处理方法称柱体近似消光距离：表示在精确符合布拉格条件时透射波与衍射波之间能量交换或强度振荡的深度周期。柱体近似：把成像单元缩小到一个晶胞相当的尺度。只有把各个晶柱底部的衍射强度记录下来，就可以推测出晶体下表面的衍射强度，这种把薄晶体像表面上的衬度和结构对应起来处理。

6、二次电子：是指被入射电子轰击出来的核外电子。背散射电子;是指被固体样品中的原子核反弹回来的一部分入射电子。表面形貌衬度:是由于试样表面形貌差别而形成的衬度原子度数衬度：是由于试样表面物质原子序数（或化学成分）差别而形成的衬度1.布拉格方程和衍射强度不等于零2.温度差3.波长很短的电磁波4.定点分析、线分析、面分析5.物镜6.球差、像散、色差7.聚光镜光阑装在（第二聚光镜的下方）-物镜光阑安放在（物镜的后焦面上）-选区光阑放在（物镜的像平面位置）8.9.一系列同心圆环1)按入射电子能量的大小，电子衍射可分为(高能电子衍射)、(低能电子衍射

7、)及(反射式高能电子衍射)。2)阿贝成像原理可以简单地描述为两次(干涉):平行光束受到有周期性特征物体的衍射作用形成(衍射波)，各级衍射波通过(物镜)重新在像平面上形成反映物的特征的像。3)按照出射信号的不同，成分分析手段可以分为两类:（x光谱和电子光谱），出射信号分别是（x射线，电子）4)表面形貌分析技术经历了(光学显微分析)、(透射电镜分析）、扫描探针显微分析）的发展。5）材料性能主要决定于其(化学成分)、(物相组成)、(微观组织）。6)常用的热分析法有(差热分析法)、(差热扫描量热法)、（热重法）及（动态热机械法）和（热机械分析法

8、）。7)电子能谱包括(光电子能谱)、(俄歇电子能谱)、(电子能量损失能谱）、（离子中和谱)。8)光谱分析方法包括各种(吸收光谱分析)和（发射光谱分析）以及（散射光谱分析）。9)光谱分析仪器主要由(光源)、(