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时间:2019-10-16
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1、材料分析方法题库一、单项选择题(每题2分,共10分)1.M层电子回迁到K层后,多余的能量放出的特征X射线称(B)A.Ka;B.K卩;C.Ky;D.La。2.X射线衍射方法中最常用的方法是(b).A.劳厄法;B.粉末法;C.周转晶体法。3.当X射线发生装置是Cu靶,滤波片应选(C)A.Cu;B.Fe;C.Ni;D.Mo。4.一束X射线照射到晶体上能否产生衍射取决于(C)。A.是否满足布拉格条件;B.是否衍射强度序0;C・A+B;D.晶体形状。5.测角仪中,探测器的转速与试样的转速关系是(B)oA.保持同步;B.2:1;C.
2、1:2;D.1:0o6.测定钢中的奥氏体含量,若采用定量X射线物相分析,常用方法是(C)。A.外标法;B.内标法;C.直接比较法;D.K值法。7.X射线物相定性分析方法中有三种索引,如果已知物质名时可以采用(C)・A.哈氏无机数值索引;B.芬克无机数值索引;C.戴维无机字母索引。8.Sin2屮测量应力,通常取屮为(BD)进行测量。A.确定的屮角;B.0-45°之间任意四点;C.0。、45。两点;D.015°>30。、45。四点。9.透射电子显微镜中可以消除的像差是(B).A.球差;B.像散;C.色差;D.A+Bo10.
3、能提高透射电镜成像衬度的可动光阑是(B).A.第二聚光镜光阑;B.物镜光阑;C.选区光阑.11・透射电镜的两种主要功能:(B).A.表面形貌和晶体结构;B.内部组织和晶体结构;C.表面形貌和成分价键;D.内部组织和成分价键。12.电子衍射成像时是将(A)。A.中间镜的物平面与与物镜的背焦面重合;B.中间镜的物平面与与物镜的像平面重合;C.关闭中间镜;D.关闭物镜。13.选区光栏在TEM镜筒中的位置是(B)oA.物镜的物平面;B.物镜的像平面C.物镜的背焦面;D.物镜的前焦面。14.中心暗场像的成像操作方法是(C).A.以
4、物镜光栏套住透射斑;B.以物镜光栏套住衍射斑;C.将衍射斑移至中心并以物镜光栏套住透射斑.12.单晶体电子衍射花样是(A)。A.规则的平行四边形斑点;B.同心圆环;C.晕环;D.不规则斑点。13.薄片状晶体的倒易点形状是(C)oA.尺寸很小的倒易点;B.尺寸很大的球;C.有一定长度的倒易杆;D.倒易圆盘。14.当偏离矢量S<0时,倒易点是在厄瓦尔德球的(A)oA.球面外;B.球面上;C.球面内;D.B+C。18・表面形貌分析的手段包括(D)。A.X射线衍射(XRD)和扫描电镜(SEM)B.SEM和透射电镜(TEM)C.波
5、谱仪(WDS)和X射线光电子谱仪(XPS)D.扫描隧道显微镜(STM)和SEM19.电子朿与固体样品相互作用产生的物理信号中可用于分析lnm厚表层成分的信号是(B).A.背散射电子;B.俄歇电子;C.特征X射线。20•将某一衍射斑点移到荧光屏中心并用物镜光栏套住该衍射斑点成像,这是(C)oA.明场像;B.暗场像;C.中心暗场像;D.弱束暗场像。21.当第二相粒子与基体呈共格关系时,此时的成像衬度是(C)oA.质厚衬度;B.衍衬衬度;C.应变场衬度;D.相位衬度。22.仅仅反映固体样品表面形貌信息的物理信号是(B)oA.背
6、散射电子;B.二次电子;C.吸收电子;D.透射电子。23.可以探测表面lnm层厚的样品成分信息的物理信号是(D)。A.背散射电子;B.吸收电子;C.特征X射线;D.俄歇电子。24.扫描电子显微镜配备的成分分析附件中最常见的仪器是(B)oA.波谱仪;B.能谱仪;C.俄歇电子谱仪;D.特征电子能量损失谱。25•波谱仪与能谱仪相比,能谱仪最大的优点是(A)oA.快速高效;B.精度高;C.没有机械传动部件;D.价格便宜。二、判断题(正确的打7,错误的打x,每题2分,共10分)1.透射电镜图像的衬度与样品成分无关。(x)1.扫描电
7、镜的二次电子像的分辨率比背散射电子像更高。(7)2.X射线衍射与光的反射一样,只要满足入射角等于反射角就行。(x)3.大直径德拜和机可以提高衍射线接受分辨率,缩短暴光时间。(x)5•选择小的接受光栏狭缝宽度,可以提高接受分辨率,但会降低接受强度。(7)6.德拜法比衍射仪法测量衍射强度更精确。(x)7•理论上X射线物相定性分析可以告诉我们被测材料中有哪些物相,而定量分析可以告诉我们这些物相的含量有多少。(7)8.只要材料中有应力就可以用X射线来检测。(x)9.电子衍射和X射线衍射一样必须严格符合布拉格方程。(7)10.厚样
8、品中存在消光距离gg,薄样品中则不存在消光距离逢。(X)11・明场像是质厚衬度,暗场像是衍衬衬度。(X)12.晶体中只要有缺陷,用透射电镜就可以观察到这个缺陷。(x)13.扫描电子显微镜的分辨率主要取决于物理信号而不是衍射效应和球差。(7)14.扫描电了显微镜的衬度和透射电镜一样取决于质厚衬度和衍射衬度。(x)15・
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