電子設計自動化研究群

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1、6電子設計自動化研究群ElectronicDesignAutomationResearchGroup成員周景揚教授〉jyjou@faculty.nctu.edu.tw黃俊達教授〉jdhuang@mail.nctu.edu.tw陳宏明教授〉hmchen@mail.nctu.edu.tw李毅郎教授〉ylli@cs.nctu.edu.tw李育民教授〉yumin@cm.nctu.edu.tw江蕙如教授〉huiru.jiang@gmail.com趙家佐教授〉mango@faculty.nctu.edu.tw溫宏斌教授〉opwe

2、n@g2.nctu.edu.tw研究方向及特色針對深次微米時代的晶片設計，提出了五大關鍵技術分別表列如下：
符合次世代晶片上通訊思維之具備幾何考量的系統架構合成技術
整合性低耗電管理之技術開發
角落錯誤之矽除錯
應用計算智慧推理處理後深次微米時代電路設計上的可靠度挑戰
考慮可製造化、可靠度與良率的繞線系統以上技術用以解決目前晶片設計流程中所遇到的急需解決的問題。本研究群提出之相關解決方案，並已經設計出自動化的工具解決相關問題，更可整合進入目前的設計流程，有效的縮短整體的晶片設計時間。涵蓋面包括了：可製造性設計(Des

3、ignforManufacturing,DFM)、可確保良率性設計(DesignforYield,DFT)、可測試性設計(DesignforTest,DFT)、除錯化設計(DesignforDebug)以及低功率設計(DesignforLow-Power)等相關領域。153D-ICRelatedResearches電子設計自動化研究群iLap:iterativelayer-awarepartitioningArchitecturalexplorationfor3DFPGAsfor3D-ICsElectronicDes

4、ignAutomationResearchGroupTPGforTSVTestingin3D-IC616EcientStochasticElectro-ermalSimulatorStochasticThermalSimulationConsideringSpatialCorrelatedWithin-DieProcessVariationsTestingMethodforMTCMOSDesignTestingMTCMOSswitchesforlogicDevelopedaSAT-basedATPGtogener

5、atemaximaltransitionsfortargetswitchandalsosensitizealongpathTestingMTCMOSSwitchesforSRAMs1stelement:Writeeachwordwithalternatingoppositedatabackground2ndelement:Readeachwordinthereverseaddresstraversingasinthe1stelement17