导电阳离子迁移_CAF_测试系统

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1、………………⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯SInusmpemcatr&izTaetisotn⋯⋯⋯⋯⋯⋯&Comment⋯⋯⋯⋯⋯检挠综性验述印导电阳离子迁移（CAF）测试系统与与测制评李小明杨峰试板论…………………………………………………………………………………………摘要本文主要讨论CAF测试的原理、方法以及对测试和试验设备的要求。关键词CAF测试TestingSystemofCAFLiXiaomingYangFengAbstractThispaperdescribestherequir

2、ementoftestedprinciple,methodandequipmentforCAF.KeywordsCAFtesting1概述这一切都增加了CAF形成的可能性。因此，在印制CAF是指印制线路板内部在电场作用下跨越非线路板的质量与可靠性测试中，CAF的测试也就变得金属基材而迁移传输的导电性金属盐构成的电化学迁越来越重要。移。它通常发生在印制线路板基材中沿玻璃纤维到树2CAF测试原理及方法脂的界面上，从而导致两个相邻的导体之间绝缘性能CAF通常是在高温高湿环境及电场的作用下产下降甚至造成短路（见

3、图1），是印制线路板产生电气生的。因此，CAF的测试也就围绕其产生的条件及造故障的一个重大而且具有潜在危险的根源。成的影响来进行。CAF测试通常是在加温（temperature）、加湿（humidity）及加偏置电压（bias）的条件下进行，因此也称为THB测试。目前，测试条件温度、湿度、测试电压一般都设定为85℃/85％RH/100V。其测试原理框图如图2所示。图1CAF的形成（呈枝晶状）随着电子设备在提高功能和性能的同时也向小……型化、轻量化迅速发展，印制线路板的线路也越来越49细，间距越来越小，绝

4、缘层越来越薄，钻孔尺寸也向……………更小更密的方向发展，并且由于信息传输速度的提升，使得印制板所承受的工作温度也在不断地上升。图2CAF测试原理框图PrintedCircuitInformation印制电路信息2004No.10⋯⋯⋯………………⋯⋯⋯⋯⋯SInusmpemcatr&izTaetisotn⋯⋯⋯⋯⋯⋯&Comment⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯CAF离子迁移的测试通常使用梳型图形为测试晶状物的生长，将会降低测试电路中的电阻，导致回试样，在高温高湿环境下，在梳型图形电极之间

5、施加路电流增大。当电流增大时，使穿过枝晶状物的电源电压信号进行试验。以前，电极间绝缘电阻的测量则损耗也随之增大。当电源损耗增大到超出枝晶状物所检综述是在每一个规定时间从高温高湿槽中取出测试试样能承受的最大值时，枝晶状物就会扩散开来。当枝晶验与后在室温环境下进行。但由于CAF离子迁移非常脆状物发生这种现象时，它破坏枝晶状物并且离子将重与评弱，在通电瞬间产生的电流会使离子迁移本身溶断新分散到扩散的区域。为了阻止枝晶状物区域的扩大测论试……………………………………………………………………………………………消失

6、，可以想象采用这种测试方法在实际测定时，和保护电源不受到损坏，必须限制测试电路中的最大CAF离子迁移现象已经消失恢复到高绝缘状态，因电流。因此，通常将一个阻值在1MΩ或10MΩ的此尽管发生异常，也会存在误认为没有异常的危险；电阻接入每个测试试样的电源电路中以达到限流的目而且大量测试试样的绝缘电阻都是由人工测定，处的。该电阻的电阻值在测试电路中相对于试样的电阻理这些数据本身就是一项既费时又低效率的工作。来说非常小，因此完全可以忽略该电阻的影响。为解决这些问题，就需要在高温高湿环境下在电极（4）绝缘电阻测试

7、仪。绝缘电阻测试仪本质上是间施加电压应力同时，连续的自动测量因CAF离子一个稳定的电压源、电压表和皮安表的综合体。其测迁移而在瞬间发生绝缘劣化和绝缘阻值变化，并连量的电阻值通过欧姆定律（电阻=电压／电流）得出。续监测泄漏的电流值，才能比较全面和客观地评价在实际的测试过程中，每次试样的测量应持续60秒CAF离子迁移。钟，以保持稳定的读数。3CAF测试对测试及试验设备的要求（5）程控开关。印制线路板绝缘电阻测试的工作从图2可以看出，CAF测试需要的试验设备有：量非常大。目前，有些绝缘电阻测试仪本身就带有开交

8、变湿热试验箱。测试设备有：绝缘电阻测试仪、泄关系统，而有些绝缘电阻测试仪则不带，此时就需要漏电流测试仪、可编程直流电源和程控开关。下面将添加开关系统，以免去大量的人为操作。另一方面，逐一进行介绍。大量的测试对象也就意味着测试需要花费大量的时间（1）交变湿热试验箱。用于模拟印制线路板的环进行测量和数据处理。因此，建立一套完整的自动化境条件。为了保证良好的试验效果，试验箱内温度及测试系统就显得非常重要。湿度应保持均匀；测试试样放置时应保证箱内的