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1、東莞主山今上電子廠品保部培訓教材教材名稱:SPC運用手法總頁數:12版本編著日期編著者審核者變更原因A2001.3.1石樂安石樂安新發行.東莞主山今上電子厂SPC的運用手法一.SPC概念、發展歷程及末來展望統計制程管制即SPC(statisticalprocesscontrol).它是利用統計方法對制程中的各個階段進行監控,從而達到改進与保証質量的目的.SPC強調全制程以預防為主.SPC不僅用于生產制程,而且可用于服務制程和一切管理制程.SPC的特點是:(1)全系統的,要求全員參加,人人有責.(2)強調用科學方法來保証達到目的.1.0SPC發展簡介制程管制的概念与實施監控的方法
2、早在20世紀20年代就由美國的休哈特(W.A.Shewhart)提出在第二次世界大戰后期,美國開始將休哈特方法在軍工部門推行.但由於美國工業過於強大而沒有競爭對手,於是統計制程管制方法在1950-1980年這一階段內,逐漸從美國工業中消失.反之,戰后經濟在嚴重破坏的日本在1950年通過休哈特早期的一個同事戴明博士,將SPC的概念引入日本.從1950年到1980年,經過三十年的努力,日本躍居世界質量与生產率方面的領先地位.美國著名質量管理專家伯格教授指出,日本成功的基石之一就是SPC.在日本強有力的競爭下,SPC在西方工業發達國家复興,并列為高科技之一.例如,加拿大鋼鐵公司在19
3、88年列出的該公司七大高科技方向如下(1)鑄鐵;(2)爐外精鍊鋼包冶金站;(3)真空除气;(4)電鍍鋅流水線;(5)電子測量;(6)高級電子計算机;(7)SPC,其中第七項就是SPC.美國從20世紀80年代起開始推行SPC.美國汽車工業已大規模推行了SPC,如福特汽車公司.通用汽車公司,克萊斯勒汽車公司等.今天我們公司正在推行的QS9000質量体系就是這三大汽國公司長期共同努力的結晶.二.SPC手法的種類SPC統計手法最常用种類有P管制圖、X-R圖表,作為我廠現在主要采用P-Chart、X-R圖表來管制制程.其表格如附表所示.(見教材最后面).三.P-Chart及X-R管制圖的
4、制作方法3.0P-Chart的制作方法:3.0.1收集數據確定數據子組的容量,頻率及數量.我廠之P管制圖就是收集一天總抽驗的樣本數和發現的總不良數.然后計算出不良率,即:3.0.2計算不合品率(P)當收集到一個數据子組后,應計算并記錄每個子組內的下列值:該項目被檢驗的數量--------n發現的不合格的數量------np不良率(%)=不良數/樣本數不合格率: p=np/n這些數据應記錄在數据表中作為分析研究的基礎.3.0.3選擇管制圖的坐標刻度,并將不合格品率描點3.0.4將不合格品率作為縱坐標,子組數量作為橫坐標圖,縱坐標的刻度應從0到分析數据中最大不合格率的1.5到2
5、倍.3.0.5將每個子組的不合格品率(P)用藍色或黑色筆點繪在管制圖上,并將這些點用藍色或黑色連線,以使發現异常圖形和趨勢.當點描完后,粗覽一遍看看它們是否合理,如果任意一點比別的高出或低出許多,都應檢查計算是否正确.3.0.6當有制程的變化或者可能影響制程的异常情況出現時,應將它們記錄在管制圖的“原因追查”部分,以幫助特殊情況的原因分析和糾正,如新員工上崗、人手調換等.版本:A版次:01頁數2of12東莞主山今上電子厂SPC的運用手法3.1計算管制限3.1.1計算平均不合格率(P),即中心線(CL)當數据子組數量達到25或以上時,就可以計算平均不合格率(P).在分析研究時期,
6、計算平均不合格品率按如下公式進行:P=(n1p1+n2p2+…+nkPk)/(n1+n2+…+nk)=Σnp/Σn式中:n1p1、n2p2、…為每個子組內的不合格數:n1、n2、…為每個子組的檢查數.3.1.2計算上、下管制限(UCL、LCL)若每個數据子組的樣本容量不超過平均樣本容量的+/-25%,則可計算上下管制限.在分析研究時期按下式計算上下管制限:上管制限:UCLp=P+3P(1-P)/n下管制限:LCL=P-3P(1-P)/n式中:n為平均樣本容量,n=Σnk/k在分析研究階段,這些管制限叫做試驗管制限.注:1.當P很小或n很小時,LCL的計算值有時會為負值,在這种情
7、況下則沒有下管制限.3.1.3理論上,只要樣本容量改變(即使是一個子組),管制限也隨之改變,對每個具有不同的樣本容量的子組應分別計算各組的管制限.但實際應用時,當各子組容量与其平均組相差不超過正負25%時,可用平均樣本容量(n)來計算管制限,即上面所述的公式.當子組容量的變化超過平均樣本容量的+/-25%時,則要求單獨計算這些特別小或特別大的樣本子組的管制限,其合理的方法為:确定可能超過其平均值25%的樣本容量范圍,找出樣本容量超出該范圍的所有子組;按下式重新計算這些點准确的管制限;UCL=
