转靶X射线多晶体衍射仪检定规程

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1、MV_RR_CNJ_0035转靶X射线多晶体衍射仪检定规程1.转靶X射线多晶体衍射仪检定规程的说明编号JJG(教委)009-1996名称(中文)转靶X射线多晶体衍射仪检定规程(英文)VerificationRegulationforRotatingAnodeX-RayPolycrystallineDiffractometer归口单位国家教育委员会起草单位国家教育委员会主要起草人马礼敦黄清珠批准日期1997年1月22日实施日期1997年4月1日替代规程号无适用范围本检定规程适用于新安装、使用中或修理后配备有转靶X射线发生器的X

2、射线多晶体衍射仪(以下简称仪器)的性能检定。使用密封X射线管或其它类型的X射线多晶体衍射仪也可参照执行。主要技术要求1.外观要求2.安装条件3.检定条件4.检定设备5.样品6.检定项目和检定方法是否分级无检定周期(年)2附录数目5出版单位科学技术文献出版社检定用标准物质相关技术文件备注2.转靶X射线多晶体衍射仪检定规程的摘要2范围本检定规程适用于新安装、使用中或修理后配备有转靶X射线发生器的X射线多晶体衍射仪(以下简称仪器)的性能检定。使用密封X射线管或其它类型的X射线多晶体衍射仪也可参照执行。2.1原理转靶X射线多晶体衍射

3、仪配备的转靶X射线发生器中的X射线管是可拆的，其中的阳极靶是一个用流水冷却的、高速旋转的，靶面复以特定金属的圆形组件，因而可承受的电子流大大增强，其功率远大于密封式X射线管。与X射线多晶体衍射仪配用的常为12kW或18kW的可拆式转靶X射线管。本仪器使用按Bragg－Branteno原理制造的粉末衍射测角器，由多晶平板形样品产生的衍射X射线由粒子探测器(常用闪烁计数器)及相关的电子电路及计算机进行探测记录和处理。从衍射线的位置、强度及线形等的分析可以对多晶聚集体的相结构，晶粒大小与分布，点阵畸变、各种晶体缺陷，多晶材料的晶体

4、结构及其它多晶聚集体的结构信息进行测定研究。2.2构成本仪器由转靶X射线发生器，Bragg－Branteno测角器，探测器与放大计数系统，计算机控制与数据处理系统等四大部分构成.3计量单位本规程中的计量单位一律采用国家颁布的法定计量单位及其符号。衍射线的位置用衍射线所处的衍射角2θ表达，单位为度(°)。衍射线的强度I采用在规定时间内收集到的光子数目[单位为(1)]或每秒的光子数目(单－1位为s)表达。分辨率定义为衍射线极大一半处的衍射线全宽度(2θ)[称为半高宽，英文缩写为FWHM]，单位为度(°)。4计量要求4.1计量特性

5、4.1.1安全装置项目名称计量特性4.1.1.1过电压保护器当电源电压超过仪器允许的最高电压时应能自动切断外电源，使仪器停止工作4.1.1.2过负荷保护器当仪器的实际负荷大于额定的最大负荷时应能自动切断电源，使仪器停止工作4.1.1.3水继电器在冷却水压力、流量不能满足仪器要求时应能自动切断电源，使仪器停止工作－44.1.1.4真空指示真空度如达不到10Pa，停止发生X射线4.1.1.5靶子转速监测若靶子实际转速小于仪器规定的最小转速时不能发生X射线4.1.1.6仪器状态报警灯任一个报警灯亮，X射线发生器不能工作4.1.1.

6、7X射线工作示警灯任一个不亮，X射线发生器不能工作－64.1.1.8防护罩正常操作时罩外X射线散射剂量≤2.5×10Sv/h4.1.2角度检定项目项目A级B级C级4.1.2.1测角准确度Δ(2θc)≤0.01°≤0.05°≤0.10°4.1.2.2测角重复性Sθt≤0.001°≤0.003°≤0.005°4.1.2.3测角复现性Sθd≤0.002°≤0.004°≤0.006°4.1.3强度检定项目项目A级B级C级544.1.3.1强度的线性上限Imax≥3×10≥3×10≥1×4104.1.3.2强度测量的重复性SI≤1％≤

7、2％≤3％4.1.3.3强度的稳定性SV≤1％≤2％≤3％564.1.4分辨率(半高宽)βc≤0.07°(2θ)≤0.12°(2θ)≤0.25°(2θ)4.2等级评定4.2.1角度测量A级4.1.2.14.1.2.24.1.2.3三项指标均应分别达到A级指标B级4.1.2.14.1.2.24.1.2.3三项指标应分别达到或超过B级指标C级4.1.2.14.1.2.24.1.2.3三项指标应分别达到或超过C级指标4.2.2强度测量A级4.1.3.14.1.3.24.1.3.3三项指标均应达到A级指标B级4.1.3.14.1.3

8、.24.1.3.3三项指标应分别达到或超过B级指标C级4.1.3.14.1.3.24.1.3.3三项指标应分别达到或超过C级指标4.2.3分辨率同4.1.44.2.4仪器等级评定A级4.2.14.2.24.2.3三项指标均应达到A级指标B级4.2.14.2.24.2.3三项指标应分别达到或