基于FPGA的E1误码测试技术研究

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1、摘要摘要台式误码仪体积庞大、无法实现集成测试，论文研究了用于VXI总线集成测试系统的El误码测试技术及其FPGA实现，具有重要的工程应用价值。论文首先论述了误码测试原理，给出基于VXI总线技术及虚拟仪器开发模式的集成测试系统误码测试方案。以国际标准和国家标准为依据，分析了各部分硬件电路原理，完成了模拟部分电路参数计算。仪器主要由电源供电、时钟产生、VXI总线接口、El接口、FPGA控制、继电器控制等功能电路构成。根据仪器功能设计了FPGA内部逻辑框架，给出了伪随机序列产生、周期／随机性误码插入、本地图案同步、HDB3编

2、解码、误码率测量等逻辑模块的设计原理。详细介绍El通信协议中的单帧同步、复帧同步、CRC校验技术以及随机误码产生技术，并采用逐位检测方式设计了成帧器、解帧器和CRC校验逻辑。设计的误码测试仪，实现了所需的功能，并通过了国家相关部门的认证。现场实际使用情况表明该仪器具有较好的易用性和稳定性。关键词：FPGA误码率E1接口VⅪ总线AbstractThedesktopbiterrortesterisnotsuitableforintegrationtestingbecauseofitshugevolume，thispaper

3、researchofthebiterrortestingtechnologyanditsFPGAimplementationwhichusedintheintegrationtestingsystembasedonVXIbusforE1．111istechnologyhasallimportantengineeringapplicationvalue．Theprincipleofbiterrortestingisanalyzed．andaschemeofbiterrortestingtechnologyusedinth

4、eintegrationtestingsystembasedontheVXIbusandvirtualinstrumentispresented．T11ispaperanalysisandcalculatstheparametersofanaloghardwarebasedontheintemationalandnationalstandard．Theinstrumentisconsistofpowersupply,clockgenerating，VXIbusinterface，E1interface，FPGAcont

5、rol，relaycontrolcircuits．nedesignedprincipleofPRBScodegenerating，periodicityrandomerrorinserting，synchronizationofthelocalpaaem，theHDB3coding-decodingandthebiterrorratetestingisworkoutbasedonthefunctionofbiterrortester．111edesignedmethodofheElframing-reframingan

6、dtheCRCcheckingisintroducedindetail．Theframer,reframerandtheCRCcheckerisrealizationbasedonthebitforbittechnology．111einstrumentrealizesallfunctionsrequired，showsagoodperformanceoffacilityandstabilityandpassednationalauthentication．Keywords：FPGABitErrorRateE1Inte

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