近红外显微分光测定仪USPMRUW

《近红外显微分光测定仪USPMRUW》由会员上传分享，免费在线阅读，更多相关内容在行业资料-天天文库。

1、近红外显微分光测定仪USPM-RU-W覆盖380nm至1050nm波长的多功能、高精度、高速显微分光测定仪Products从380nm~1050nm的可视光至近红外实现大范围波长区域中的分光测定。奥林巴斯的近红外显微分光测定仪USPM-RU-W近红外显微分光测定仪USPM-RU-W可以高速&高精细地进行可视光区域至近红外区域的大范围波长的分光测定。由于其可以很容易地测定通常的分光光度计所不能测定的细微区域、曲面的反射率，因此最适用于光学元件与微小的电子部件等产品。▲标准装置1测定反射率2测定膜厚3测定物体颜色▲透过测定装置4测

2、定透过率3测定物体颜色▲45度反射测定装置5测定入射角为45度的反射率3测定物体颜色1Features奥林巴斯卓越的技术可以进行曲面·微小区域的高精度&高速测定。优点优点1实现高速测定3测定反射率时，不需要背面防反射处理使用平面光栅及线传感器进行全波长同时分光测定，从而实现将专用物镜与环形照明组合，不需要进行被检测物背面的防反高速测定。射处理，就可测定最薄0.2mm的反射率*。*使用40×物镜时，在本公司的测定条件下进行测定。平面光栅照明光光圈线传感器视野光圈光源部位成像镜片物镜半反射镜环形光圈物镜样品面背面样品优点4可选择的

3、膜厚测定方法根据测定的分光反射率数据进行单层膜或多层膜的膜厚解析。优点可以根据用途选择最佳的测定方法。2最适用于测定细小部件、镜片的反射率峰谷法新设计了可以在Ø17~70µm的测定区域中进行非接触测定的这是一种根据测定的分光反射率值的峰值与低谷专用物镜。通常的分光光度计不能进行测定的细小电子部件或的周期性计算出膜厚的方法，对于测定单层膜是有效的。不需要复杂的设置，可以简单地求出。镜片等的曲面，也可以实现再现性很高的测定。微小点测定图傅里叶转换法这是一种根据测定的分光反射率值的周期性计算测定图膜厚的方法，对于单层膜及多层膜的测定

4、有效。难以检测出峰值及低谷等时，可以几乎不受噪音的影响进行解析。专用物镜曲线调整法这是一种通过推算测定的分光反射率值与根据某种膜构造计算的反射率的差达到最小的构造计算出膜镜片样品厚的方法，对于单层膜及多层膜的测定有效。还可以进行不会出现峰值及低谷的薄膜解析。※插图为形象图。（不能正确地表现实际情况）※膜厚测定在测定反射率时是一种有效的功能。2Measurement使用一台就可以进行各种分光测定的充实的测定功能。1测定反射率2测定膜厚3测定物体颜色测定以物镜聚光的Φ17~70μm的微小点活用反射率数据，测定约50nm~约10μm

5、根据反射率数据显示XY色度图、L*a*b*的反射率。的单层膜、多层膜的膜厚。色度图及相关数值。膜厚测定的图例物体色的测定图例反射率测定光路图4测定透过率5测定入射角为45度的反射率偏光元件装置从受台下部透过Ø2mm的平行光，测定从侧面向45度面反射Ø2mm的平行光，进行透过率及入射角45度的反射率测平面样品的透过率。（选配）测定其反射率。（选配）定的P偏光、S偏光测定。（选配）旋转台很容易进行镜头周围部位的反射率测定。（选配）透过率测定光路图45度反射率测定光路图USPM-RU-WSystemDiagram标准套装USPM-R

6、U-W45度反射测定装置USPM-OBL40×USPM-OBL20×USPM-OBL10×USPM-CS0140倍物镜20倍物镜10倍物镜控制电源箱笔记本PCUSPM-45EXP45度反射测定组件USPM-CL-T透过测定装置偏光元件组件USPM-TUUSPM-ST-TUSPM-CL-TUSPM-ST-R透过测定组件倾斜受台透过准直仪组件旋转台※插图为形象图。（不能正确地表现实际情况）3Software&Field使用方便的用户界面的分光解析软件。易懂的布局显示各个窗口的布局配置、尺寸变更、窗口的显示/不显示等可以根据测定目的

7、、操作人员的喜好进行自动设置。多样的测定结果可以在一个界面中易懂地显示分光位置调整、可以在[FOCUS]窗口与[CT]窗反射率/透过率图表、文本、颜色测口中简单地调整测定样品的焦焦点调整简单定（XY色度图、L*a*b*色度图）、点与位置。膜厚测定值。位置对准焦点根据测定样品、测定目的、测定方法，详细地设置测定条件，从而可可以简单地设置判定设置规格值，显示OK/NG，充实的设置功能以进行正确、迅速的测定。合格与否的规格值合格与否的判定一目了然。高速、高精度地应对多样化测定需求。通过测定球面、非球面的镜片、滤镜、反适用于平面光学元

8、件、彩色滤镜、光学薄射镜等光学元件的反射率，进行涂层评膜等的反射率测定、膜厚测定、透过率测价、物体颜色测定、膜厚测定。定。光学薄膜眼镜片液晶彩色滤镜数码相机镜片投影仪镜片光读取头镜片适用于LED反射镜、半导体基板等微小电适用于棱镜、反射镜等45度入射产生的反子部件的反射率测定