六阶有源低通滤波器总结

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时间:2019-05-09

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1、六阶有源低通滤波器组员:郑兴权缪堂伟汪翀1.设计要求2.系统框架/方案、仿真、设计等材料说明3.实物展示和结果测试4.数据的分析5.通过计算可知,三级的放大符合我们的设计要求,在截止频率10KHZ之内,KP增益保存不变,随着频率的增大,输入输出的波形有一定的相位差,从最初的18度到截止频率时的175度一、设计要求1、截止频率为10KZ;2、通带内允许范围9.576dB;3、阻带衰减:<-26dB;4、采用三级放大:2.4824;1.586;1.0619,Kp=4.2;2.1系统框架/方案、仿真、设计等材料说明2.1.1系统设计框架/方案的论证系统的总体设计主要包括了传递

2、函数,选择电路结构,选择有源器件及计算无源元件参数四个步骤。(1)、确定系统的传递函数确定电路的传递函数首先选择一种逼近方法,对于选择有巴特沃斯逼近电路,切比雪夫逼近电路,贝塞尔逼近电路。对相位非常敏感的电路选择贝塞尔逼近电路,大多数的情况下我们选择巴特沃斯逼近电路和切比雪夫逼近电路。电路阶数选择应按照给定的通带截止频率,阻带的截止频率,通带增益变化量来选择阶数。(2)、电路的选择,有一阶滤波电路,压控电压源型滤波电路,无限增益多路反馈电路,双二阶环电路,可根据自己的设计要求选择相应的电路。注意,电路的选择与特性要求密切相关,而特性的要求需要我们选择灵敏度较低的电路,这

3、就要求我们对品质因数的要求更高。(3)、有源器件的选择,由于器件的特性不理想,一般情况下会限制信号的频率上限,同时避免会引入噪声,降低信噪比,从而限制有用信号的下限幅值。根据信号幅值范围及信噪比要求,选择噪声足够低的器件,达到自己的设计要求。(4)、无源参数的计算,滤波器的特性主要由R,C元件值决定,根据电路的要求,计算出对应的R,C参数。2.1.2系统仿真及说明说明:第一幅图是采用Multisim13.0仿真的电路,根据计算出的R,C值,确定相应电路结构,仿真的结果符合自己的设计要求,采用LM324芯片4级运放放大。第二幅图为仿真的波特仪实验结果图,从仿真的数据可以看

4、出,设计的电路为低通滤波器,截止频率为10KHZ。2.2系统设计及说明根据对比选择,本次滤波器设计为六阶低通滤波器,采用巴特沃斯逼近电路,压控电压源型滤波电路,以下为各参数的计算:6阶巴特沃思低通滤波器的传递函数,用3个2阶巴特沃思低通滤波器构1个6阶巴特沃恩低通滤波器,其传递函数为:为了简化计算,其参数满足如下条件:选取C=0.1uF,可算得R=160 Ω6阶巴特沃思低通滤波器3个阻尼系数为:0.5176;1.414;1.9386,由此算得两个零频增益为:G1=3-0.5176=2.48224G2=3-1.414=1.586G3=3-1.9381=1.0619可以选择

5、3个2阶巴特沃斯低通滤波器级联组成。增益分别为:G1=1+1.148G2=1+0.586G3 =1+0.00619对于第一级,若选取R3=60KΩ,则R4=3.714KΩ;对于第二级,若选取R7=30KΩ,则R8=17.58KΩ;对于第三级,若选取R11=20KΩ,则R12=29.684KΩ。2.3测试框架和各指标测试方法的描述2.3.1输入输出的Vpp测量输入的Vpp测量,可以通过函数发生器的输入电压读取,根据电路的要求,输入电压的Vpp为1V;输出的Vpp测量,使用示波器的进行测量,示波器的使用,可以观察出Vmax,Vmin,Vpp,电路的相位偏移。2.3.2三级中

6、各级的VPP测量三级中各级的VPP测量,使用示波器进行测量,使用示波器电笔逐级测量LM324芯片各级的输出端,记录数据。2.3.3各个频率下波形的记录测量的频率有1KHZ,2KHZ,10KHZ,20KHZ,使用示波器测出对应频率下波形图,使用手机进行拍照,用于数据的处理使用。2.4测试主要设备及设备指标要求与评价2.4.1DP832主要性能指标单路输出40V/5A,20V/10A,最大功率可达到195W低纹波噪声:<350uVrms/3mVpp快速的瞬态响应时间:<50us0.01%的电源调节率和负载调节率内置V/A/W测量和波形显示实时测量并同时显示V/A/W参数变化

7、趋势。输出分析、监视、设置预设等功能具有输出分析、监视、设置预设等功能,实现全方位监控分析。2.4.2DG1022U主要性能指标2.4.3SDS3102主要性能指标带宽高达1GHz实时采样率高达4GSa/s存储深度达10Mpts/CH波形捕获率高达250,000帧/秒高波形捕获率实时波形录制以及回放,分析功能256级波形辉度和色温显示采用windows操作系统,支持键鼠控制提供IIC,SPI,RS232,CAN,LIN等总线的触发和解码功能2.4.4对于实验提供仪器的评价实验室提供的仪器,信号发生器,学生电源,示波器都满足电路的测量要求,

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