cpk介绍31356

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1、QS9000之工序能力指數(Cpk)簡介一、制程能力与制程能力指數Cp与Cpk所謂制程能力是指制程條件在正常情況下，某种產品特性的變异幅度，一般以–3σ与+3σ所包括的變异范圍作為靜態能力，或單稱制程能力。所以有制程能力=6σ的說法。其所包括的制品為99.73%。以統計方法研究制程的工作，稱為制程能力研究或制程能力分析。其所用的方法有三：(1)直方圖或次數分配表(2)管制圖(3)制程能力指數(1)制程能力指數CpT6σUSL-LSL6σ規格公差制程能力Cp===Cp有時又稱靜態能力指數，1980年代很多工厂要求Cp≧1.33，

2、現Motorola則要求Cp≧2.0，制程能力才夠。意即T/2≧6σ，或公差的一半要大于6Sigma品質，在此种情況下，如制程平均值与規格中心一致，則超出規格界限的產品低于2PPB。如Cp≧1.33，則超限產品低于66PPM。X-SL3σ(2)綜合能力指數CpkX-MT/2Cpk=Cp(1-K)=Cp(1-)，或Cpk=使用雙邊規格使用單邊規格式中的T為規格公差，X為制程平均，M為規格中心，SL為規格上限或下限，K為制程中心偏离指數。工序能力的判斷方法見附表《工序能力判斷標准表》。二、直方圖介紹与使用1.何謂直方圖？直方圖就是

3、將所收集的數据、特性或結果值，用一定的范圍在橫軸上加以區分成几個相等的區間，將各區間內的測定值所出現的次數累積起來的面積用柱形畫出的圖形。直方圖可以了解產品在規格標准之下分布的形態、制程的中心值差异的大小等情形。2.直方圖的制作步驟：2.1收集數据并且記錄在紙上收集數据時對于抽樣分布必須特別注意，不可只取某些部分樣品，應就全部均勻的加以抽查。數据的收集最好在50~100組之間。2.2找出數据中的最大值与最小值從數据中找出最大值与最小值。2.3計算全距R所謂全距就是最大值与最小值的差。第5頁，共5頁2.4決定組數与組距組數就是直

4、方圖柱形數量，組數的計算是根据數据數量的多寡來決定。可由數据分組數參考表查出：數据數組數~505~750~1006~10100~2507~12250~10~20另外也可用公式算出：組數的計算公式是：組數(K)=1+3.23logn組距的計算公式是：組距=全距÷組數2.5決定各組的上組界与下組界組界的決定由最小一組的下組界為基准以下列公式求出：最小一組的下組界=全部數据的最小值-測量值最小位數*0.5最小一組的上組界=最小一組的下組界+組距最小二組的下組界=最小一組的上組界如此各組依此類推，計算到最大一組的上組界。2.6決定組的

5、中心點計算方法是：(上組界+下組界)÷2=組的中心點2.7制作次數分配表將所有的數据依照數值的大小記入各組的組界內，然后計算各組界的次數。2.8制作直方圖首先以橫軸表示測量值的變化，縱軸表示頻數，橫軸与縱軸取出适當長度標示上記號，然后將各的組界分別是標示在橫軸上；各組頻數的多少則用柱形畫在各組距上，柱与柱之間不要有間隔，如此便初步完成了直方圖。2.9填上主題、規格、平均值、數据來源、日期等資料。1.直方圖在應用上必須注意事項：3.1直方圖可根据山形圖案分布形狀來觀察制品工程是否正常。3.2產品規格分布圖案可与目標，標准規格作比

6、較，有多大的差异。3.3是否必要再進一步層別化。2.如何依据山形圖案的分布狀態判斷下限上限4.1正常型說明：中間高、兩邊低、有集中趨勢。結論：左右對稱分配(常態分配)，顯示制程在正常運轉下。第5頁，共5頁4.2缺齒型(凹凸不平型)說明：高低不一，有缺齒情形。不正常的分配，系因測定值或換算方法有偏差，次數分配不妥當形成。結論：檢查員對測定值有偏好現象，如對5，10之數字偏好；或是假造數据。測量儀器不精密或組數的寬度不是倍數時，亦有此种情形。4.3偏態型說明：高處偏向一邊，另一邊低，拖長尾巴。可分偏右型、偏左型。為偏態分配。偏右型

7、：例如微量成分的含有率等，不能取到某值以下的值時，所出現的形狀。偏左型：例如成分含有高純度的含有率等，不能取到某值以上的值時，就會出現的形狀。結論：尾巴拖長時，應檢討是否在技術上能夠接受。工具磨損或松動時，亦有此种情形發生。4.4絕壁型(切邊型、斷裂型)說明：有一端被切斷。結論：原因為數据經過全檢過，或制程本身有經過全檢過，會出現的形狀。若剔除某規格以上時，則切邊在靠近右邊形成。第5頁，共5頁4.5雙峰型(二山型)說明：有兩個高峰出現。結論：有兩种分配相混合，例如兩台机台或兩种不同原料間有差异時，會出現此种形狀，因測定值受不同

8、的原因影響，應予層別后再作直方圖。4.6离島型(二山脫离型)說明：在右端或左端形成小島。結論：測定有錯誤、工程調節錯誤或使用不同原料所引起。一定不异常原因存在，只要去除，即可制出合乎規格的制品。4.7高原型說明：形狀高原狀。結論：不同平均值的分配混在一起，應層別之后再作直方圖