spc(统计过程管制培训资料)

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1、SPC(StatisticalProcessControl)统计制程管制有反馈的过程控制模型过程的呼声统计方法人我们的工作方式和资源的融合设备顾客材料产品和服务方法识别不断变化的需求和期望环境ΔΔΔ输入过程/系统输出顾客的呼声1.目的：通过对制程产品特殊特性的动态的控制，使产品的不良或即将发生的不良得到预先防止。（以前品质控制为静态控制，以进行批量的检验为主，但现代生产中有许多仪表仪器是随时反映过程参数，出这些仪器控制外，SPC是最好的动态控制方法，如股票分析的走势图）2.管制图类型：计量型数据X-R均值和极差图计数型数据Pchart不良率

2、管制图X-δ均值和标准差图nPchart不良数管制图~X-R中位值极差图Cchart缺点数管制图X-MR单值移动极差图Uchart单位缺点数管制图3.管制图的选择方式：（数据）计量数据计数数据n≧2n=1不良数缺点数x取平均值x取中位值n=cn变化n=cn变化X-MRn≧10N=2-6~X-RnppcuX-δX-R4.计量型数据管制图4.1均值和极差图（X-R）4.1.1收集数据(以样本容量恒定的子组形式报告，子组通常包括2-5件连续的产品，并周性期的抽取子组。)4.1.1.1选择子组大小，频率和数据4.1.1.1.1子组大小：一般为5件连

3、续的产品，仅代表单一刀具/冲头/过程流等。（变差小）4.1.1.1.2子组频率：在适当的时间内收集足够的数据，这样子组才能反映潜在的变化，这些变化原因可能是换班/操作人员更换/材料批次不同等原因引起。对正在生产的产品进行监测的子组频率可以是每班2次，或一小时一次等。4.1.1.1.3子组数：子组越多，变差越有机会出现，一般为25组就可以检验稳定性，首次使用管制图选用35组数据，以便调整。4.1.1.2建立控制图及记录原始数据4.1.1.3计算每个子组的均值（X）和级差R对每个子组计算：X=（X1+X2+…+Xn）/n（n表示子组容量）R=X

4、max-Xmin4.1.1.4选择控制图的刻度4.1.1.4.1两个控制图的纵坐标分别用于X和R的测量值4.1.1.4.2刻度选择上：对于X图，坐标上的刻度值的最大值与最小值的差应至少为子组均值（X）的最大值与最小值的差的2倍，对于R图坐标上的刻度值的最大值与最小值的差应为初始阶段所遇到的最大极差（R）的2倍。注：一个有用的建议是将R图的刻度值设置为X图刻度值的2倍。4.1.1.5将均值和极差画到控制图上4.1.2计算控制限：(首先计算极差的控制限，在计算均值的控制限)4.1.2.1计算平均极差（R）及过程均值（X）R=（R1+R2+…+R

5、k）/k（K表示子组数量）X=（X1+X2+…+Xk）/k4.1.2.2计算控制限：UCLx=X+A2RUCLR=D4RLCLx=X-A2RLCLR=D3RA2,D3,D4为常系数，决定于子组样本容量n2345678910D43.272.572.282.112.001.921.861.821.78D30.080.140.180.22A21.881.020.730.580.480.420.370.340.314.1.2.3在控制图上以虚线作出均值和极差控制限的控制线4.1.3过程控制的分析4.1.3.1极差图上的数据点分析4.1.3.1.1超

6、出控制限的点：a)出现一个或多个点超出任何控制限是该点处于失控状态的主要证据，应分析。b)超出极差上控制限的点通常说明存在下列情况中的一种或几种：b.1控制限计算错误或描点时描错b.2零件间的变化性或分布的宽度已增大b.3测量系统变化（如：不同的检验员或量具）a)有一点位于控制限之下，说明存在下列情况的一种或多种c.1控制限或描点时描错c.2分布的宽度变小（变好）c.3测量系统已改变（包括数据编辑或变换）4.1.3.1.2链----有下列现象之表明过程已改变或出现某种趋势：连续7点在平均值一侧或7点连续上升或下降a)高于平均极差的链或上升链

7、说明存在下列情况之一或全部：a.1输出值的分布宽度增加，原因可能是无规律的（设备工作不正常或固定松动）或是由于过程中的某要素变化（如使用新的不一致的原材料），这些问题都是常见的问题，需要纠正。a.2测量系统的改变（如新的检验人或新的量具）b)低于平均极差的链或下降链说明存在下列情况之一或全部：b.1输出值的分布宽度减小，好状态b.2测量系统的改好4.1.3.1.3明显的非随机图形a)非随机图形例子：明显的趋势；周期性；数据点的分布在整个控制限内，或子组内数据间有规律的关系等。b)一般情况，各点与R的距离：大约2/3的描点应落在控制限的中间1

8、/3的区域内，大约1/3的点落在其外的2/3的区域。c)如果显著多余2/3以上的描点落在离R很近之处（对于25子组，如果超过90%的点落在控制限的1/3区域），则应对下列情况的一