毕业设计论文--(基于功能覆盖率的处理器运算部件测试)

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1、毕业设计（论文）题目基于功能覆盖率的处理器运算部件测试专业微电子学班级微电061班学生杨光指导教师余宁梅（教授）2010年西安理工大学本科生毕业设计（论文）基于功能覆盖率的处理器运算部件测试专业：微电子学班级：微电061班作者：指导教师：职称：教授答辩日期：2010-06-22摘要测试验证是数字集成电路设计中一个非常重要的环节，一般一个复杂的芯片从设计到封装成型，测试将占用百分之七十的时间。因此，一种能花费最短时间，并且能最大限度测试出芯片中设计错误的测试方法是非常重要的。基于功能覆盖率的测试方法就是一种可信性比较高的测试方法。本论文主要研究如何用借助仿真工具以及基于功能覆盖率的测试方法，对

2、微处理器中功能部件功能正确性及语法正确性进行批量测试。测试过程是在systemverilog平台环境下进行的，应用gcc编译工具和GDB调试工具测试C-modle,以及应用Vcs仿真软件测试RTL代码，最后运用基于功能覆盖率的方法编写覆盖组方案代码以及用嵌入式汇编语言编写测试激励，完成C-modle和RTL代码中除了浮点除、浮点乘加以外的所有运算功能测试任务。测试出部分功能部件模块存在代码语法错误或结构错误，并反馈改正。达到了对数字电路测试验证的目的。关键词：测试，功能覆盖率，处理器功能部件，IEEE-754浮点标准Abstract35西安理工大学本科生毕业设计（论文）Testverific

3、ationisaveryimportantpartofdigitalintegratedcircuitdesign,andgenerallyacomplexchipfromdesigntothepackage-molding,thetestwilltakeup70%time.Therefor,amothodoftestwhichcosttheshortesttimeandcantestthewrongofthedesignofthechipmaximumextentisveryimportant.Testingmethodbasedonfunctionalcoveragerateisamet

4、hodwhichhasarelativelyhighcredibility.Inthispaper,studyhowtousethesimulationtoolsandtestmethodsbasedonfunctionalcoverageratetofinishthebatchtestsofthefunctionalcorrectnessandsyntacticcorrectnessofthecpu.Testingprocessiscarriedoutunderthesystemverilogplatform,usingGCCcompilertoolandGDBdebuggingtoolt

5、otestC-modle,andVCSsimulationsoftwaretotestRTLcode,finally,finishallthecomputingfunctionstestingtaskintheC-modleandRTLcodeexceptfloating-pointadditionandfloating-pointmultiply-addusingprogramcodecoveragegroupbasedonfunctionalcoveragerateandtestingstimulusbytheembeddedassemblylanguage.Testexistences

6、ofthesyntaxerrororthestructuralerrorinsomefunctionalmodule,thenfeedbackandcorrect,whichhasreachedthepurposeoftestingthedigitalcircuit.Keywords：Test，Functionalcoverage，Processorfunctioncomponents，IEEEStandard754forBinaryFloating-PointArithmetic目录35西安理工大学本科生毕业设计（论文）第1章绪论11.1测试方法学的研究现状11.2测试的意义21.3本文的

7、主要内容2第2章测试内容的基本介绍42.1基于Mips指令集的微处理器功能部件的简单介绍42.1.1功能部件在微处理器中的位置42.1.2功能部件实现功能和内部结构42.1.3Mips指令集介绍52.2IEEE-754标准72.2.1IEEE-754内容72.2.1IEEE-754舍入方式和异常情况92.3基于功能覆盖率测试方法学的简单介绍11第3章微处理器功能部件参考模型（C-MODLE）的测试153.1微