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1、万方数据第13卷第1期哈尔滨理工大学学报VoL13No.12008年2月JOURNALHARBINUNIV.SCI.&TECH.Feb·,2008=:::===:==:===============================================================================一种基于覆盖率的功能验证方法席筱颖1,毛志刚2,殷景华1(1.哈尔滨理工大学应用科学学院,黑龙江哈尔滨150080;2.上海交通大学微电子学院,上海200240)摘要:针对功能验证的特点,在传统功能验证
2、的基础上,引入覆盖率作为验证程度的反馈信息,从而有针对性地完善了验证环境,提高了验证程度.并以一款8位MCU为例,介绍了基于覆盖率的功能验证方法的具体实现.关键词:功能验证;基于覆盖率的方法;验证环境;测试向量中图分类号:TN321.5文献标识码:A文章编号:1007-2683(2008)01-0090—03AnCoverage—basedApproachinFunctionalVerificationX/凰∞川n91,MAOZhi—gan92,YINJing—hual(1.College0fAppliedSciences
3、,HarbinUniversityofScienceandTechnology。Harbin150080,Cbina;2.ShanghaiJiantongUniversity,SchoolofMicroelectn)nics,Shan扣200240)Abstract:Basedonconventionalapproachesinfunctionalverificationthisarticleintroducescoverage—rateasafeedbacktoshowthegradeofverification.Thu
4、swecanimprovetheverificationenvironmentforpurposetoimprovethegradeofverification.Thenthisarticletookall8一bitMCUforexampletoshowhowtou跎thismethod.Keywords:functionalverification;coverage-basedapproach;verificationenvironment;testvector1引言验证是保证集成电路设计正确性的关键.在集成电路的整个设
5、计周期里用于验证的时间约占70%一80%川.随着半导体技术的发展,芯片的集成规模急剧增大,这大大增加了验证的难度,使得验证逐渐成为大规模集成电路设计的瓶颈.如何得到高质量的测试向量是所有验证人员共同探索的问题.验证的主要目的是检查设计模型是否满足设计需求,是否实现了设计所需的功能.具体就是施加在设计需求规定下的激励,验证电路是否产生了符合功能要求的输出,以及在设计所需规定的条件下,电路是否能完成正常的功能.收稿日期:2006一11一16作者简介:席筱颖(1981一),女,哈尔滨理工大学硕士研究生2传统的功能验证功能验证不考
6、虑电路的结构,只考虑电路的功能流程,在验证因果设计方案时是非常有用的.其仿真结果得到的测试向量还可以应用在检验生产厂家的产品上.目前针对微处理器的功能验证可分为基于形式验证的方法和基于仿真的验证方法.形式验证完全通过数学推理来证明设计指标和设计实现之间的等效性,期研究和开发应用还不完善旧1.因此基于仿真的功能验证方法仍是当前的主流验证技术.基于仿真的功能验证是将激励向量同时施加到待测系统和参考模型上进行运行,通过结果比较来验证待测系统是否满足设计功能的正确性.但是由万方数据第1期席筱颖等:一种基于覆盖率的功能验证方法91于
7、验证时间的限制和电路复杂程度的提高,在功能验证中不可能穷举所有的激励向量,因此衡量验证的完备程度成为验证中的关键13J.所谓验证的程度就是哪些逻辑已经被验证过,哪些逻辑还没有验证.但是传统的功能验证方法只能反映发现问题的数目,而无法反映验证的程度.也就是说传统的功能验证无法证明其验证方法的完备性.因此需要引入一个反馈环节,来监视并提高验证的完备性.3基于故障覆盖率的功能验证基于以上关于传统功能验证无法反映验证程度的问题,本文引入覆盖率作为反馈.在功能验证的过程中以测试向量覆盖率作为一个衡量验证程度的标准,通过覆盖率分析不断
8、调整、改善激励向量以达到理想的功能验证的目的.其验证流程如图l所示.设计方案●__-______-●_-____-●●●.............】C......一模似(覆盖率分析)———1r—一..............I......一测试向量产生模块fNi为检备、、i耍垩势,一』Y7\率评估满足!
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