基于覆盖率的集成电路验证

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1、2009年第14期第301基于覆盖率的集成电路验证罗登富，赵建明(电子科技大学四JII成都610054)摘要：随着集成电路规模和复杂度的逐渐提高，百万千万门级以上的集成电路验证消耗了整个芯片开发过程大约7O的时间，不仅需要专职的团队，而且人数通常是设计团队的1．5～2倍。针对当前超大规模集成电路验证的这个瓶颈，在传统验证平台的基础上提出了代码覆盖率和功能覆盖率、随机激励与定向激励结合的验证方法。代码覆盖率确保代码的执行，功能覆盖率确保功能点的覆盖，随机与定向激励结合在验证的各个阶段有针对性地编写测试用例，三者相互结合实现高效率验证。此方法在多协

2、议标签交换转发芯片项目中将验证时间缩短了三个月，而且问题的收敛速度加快，验证的规格更可靠。与传统的验证方法相比，此方法提高了验证效率，缩短了验证周期，增强了可靠性，对今后的项目开发有重要借鉴意义和指导意义。关键词：芯片验证；代码覆盖率；功能覆盖率；随机激励；定向激励中图分类号：TN71O文献标识码：A文章编号：1004—373X(2009)14—1l5～05IntegratedCircuitVerificationBasedonCoverageLUODengfu，ZHAOJianming(UniversityofElectronicScienc

3、eandTechnologyofChina，Chengdu，610054，China)Abstract：AsthescaleandcomplexityofICsincreasinggradually，verificationofmillionor10millionVLSIcostsabout7OtimeofwholeICresearch．Notonlyprofessionalverificationgroupsareneeded，butalsotheymustbeahalfandonetotwotimesthandesigngroups．Bas

4、edonthebottleneckofpresentICresearch，methodologyofcodecoverageandfunctionCO—veragedrivenverificationassociatingwithrandomanddirectstimulusisintroducedatthefundamentalofcommontestbench．Codecoveragetoensuretheimplementationofthecode，functioncoveragetoensureimplementationoffunc

5、tionpoints，andthecombinationofrandomanddirectstimulustOcodespecialtestcasesatthevariousstagesofverification，thecombinationofthethreegetshighlyefficientverification．Themethodologyshortensthreemonthsofverificationatamulti—protocollabelswi—tchingforwardingproject，speedsupthecon

6、vergenceofproblem，andgetsmorereliablefunctionpoints．Comparingwithcon—ventionalverificationmethodology，itimprovesverificationproductivity，decreasesverificationtime，increasesreliability，andhasreferencemeansandguidancemeansforfutureprojects．Keywords：verificationofICs；codecovera

7、ge；functioncoverage；randomstimulus；directstimulus出满意的回答。为了解决此问题，在传统验证平台的基0引言础上采用代码覆盖率和功能覆盖率驱动、随机激励和定伴随着超大规模集成电路规模和复杂度的不断提向激励结合的超大规模集成电路验证方法，以应用于多高，各种验证方法逐步形成并得到发展和推广。目前，协议标签交换(MPLS)转发芯片项目。传统VLSI验证方法采用高级语言搭建验证平台1传统的验证方法(Testbench)，采用直接观察结果或自动比较器检测结果。验证工作的结束标志是“用例执行完成，结果检测1．1推

8、行验证与设计分离正确”。但是，面对千万门级、功能复杂的设计，在验证为了适应市场的需求，面对千万门级的芯片设计，的过程中常有这样的问题：是否遗漏有什么缺