课程名称：集成电路测试技术基础

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1、课程名称：集成电路测试技术基础课程编码：7050601课程学分：4学分课程学时：64学时适用专业：微电子学《集成电路测试技术基础》（TestingTechnologyFoundationofIntegratedCircuits）教学大纲一、课程性质与任务性质：本课程的授课对彖为微电子学专业本科生，课程属性为专业基础必修课。该课程在《电子器件》、《半导体工艺原理与技术》、《超大规模集成电路设汁基础》等课程的基础上，全面系统地介绍集成电路测试的基本原理、基本分析方法，为《集成电路测试实践》和《集成电路可靠性》的学习打下基础。任务：通过此课程学习，使学生了解集成电路测试的重要性，了解集成电路测试技术

2、的发展现状、发展趋势；使学生对集成电路测试的主要儿种方法有明确的概念；与《数字集成电路》、《模拟集成电路》相结合，使学生对集成电路可测试性设计、测试原理和设计方法有明确的概念。二、教学基本内容及基本要求第一章集成电路测试概述（一）基本要求1、掌握：集成电路测试的基本概念，主要任务。2、理解：集成电路测试技术在整个集成电路产业链中的地位和作用。3、了解：集成电路测试技术发展的趋势。（二）教学及考核内容1.1测试哲学1.2测试的作用1.3数字和模拟VLSI测试1.4VLSI技术的发展趋势对测试的影响第二章集成电路测试过程和测试设备（一）基本要求1、掌握：集成电路测试过程。2、理解：基本的测试原理。

3、3、了解：常见的测试设备。（二）教学及考核内容1.1如何测试芯片2.2常用的自动测试设备及测试原理2.3电学参数测试第三章数字集成电路中常见的故障（一）基本要求1、掌握：常用的故障模型如单固定故障模型。2、理解：故障的支配性原理和等价性原理。3、了解：故障模型和故障模型术语。（二）教学及考核内容3.1缺陷、错误和故障2.2功能测试与结构测试3.3故障模型的级别3.4故障模型屮的常见术语3.5单固定故障第四章组合电路的测试生成（一）基木要求1、掌握：一维敏感路径、D算法等测试向量生成算法。2、理解：故障诊断的基本原理、方法。3、了解：非冗余电路的概念。（二）教学及考核内容3.1数字电路的故障诊断

4、4.2组合逻辑电路的向量生成技术4.3组合逻辑电路屮多故障的检测第五章时序电路的测试方法（一）基本要求1、掌握：时序电路的特点，四种序列的概念及推导过程。2、理解：Chose提岀的基于机构的测试方法。3、了解：迭代法的原理。（二）教学及考核内容4.1时序电路特点5.2使用迭代法对时序电路进行测试5.3状态表验证法5.4基于电路结构的测试方法第六章可测试性设计（一）基本要求1、掌握：可控制性和可观测性的涵义，电平敏感型扫描电路的时序分析。2、理解：可诊断时序电路的设计及测试方法。3、了解：儿种提高可测试性的AdHoc设计规则。（二）教学及考核内容1.1可控制性和可观察性6.2提髙可测试性的AdH

5、oc设计规则6.3可诊断时序电路的设计6.4可测试时序电路设计中的扫描路径技术6.5电平敏感型扫描设计第七章边界扫描技术（一）基本要求1、裳握：边界扫描技术的基本原理和测试结构。2、理解：边界扫描技术的主要思想。3、了解：边界扫描技术的指令。（二）教学及考核内容2.1边界扫描的由来7.2边界扫描测试基本原理7.3边界扫描测试结构7.4边界扫描指令第八章内建自测试（一）基本要求1、掌握：内建自测试的原理和测试向量生成技术。2、理解：内建自测试的规则。3、了解：内建自测试的结构。（二）教学及考核内容8.1BIST的测试向量生成技术8.2输出响应分析8.3循环型BIST8.4SoC设计中的BIST第

6、九章混合信号测试（一）基本要求1、掌握：ADC的转换原理，ADC和DAC的电路结构。2、理解：ADC在时域和频域内的测试方法。3、了解：ADC和DAC的特性参数和故障模型。（二）教学及考核内容7.1模数转换器（ADC）简介9.2ADC和DAC的电路结构7.3ADC和DAC的特性参数和故障模型7.4IEEE1057标准7.5ADC在时域内的测试9.6频域ADC的测试第十章测试开发系统（一）基本要求1、掌握：测试语言和程序的编写。3、理解：测试开发的基本原则理。3、了解：常用测试语言及开发环境。（二）教学及考核内容10.1测试语言8.2测试程序8.3测试开发环境10.4测试转换系统10.5测试设备

7、脱机开发环境三、本课程与其它相关课程的联系与分工在学习本课程之前，应对电子器件、半导体工艺原理等有深入的了解，并且应该至少了解集成电路设计以及数字电路、模拟电路的基本知识。本课程的先修课程：《电子器件》、《半导体工艺原理与技术》、《超大规模集成电路设计基础》。本课程的后续课程：《集成电路测试实践》和《集成电路可靠性》。四、实践性教学内容安排与要求主要包括集成电路测试过程和测试设备1、数字集成电路的