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《电子元器件低频电噪声测试技术及应用的论文的研究》由会员上传分享，免费在线阅读，更多相关内容在学术论文-天天文库。
1、作者简介陈文豪，四川遂宁人。2006年毕业于西安电子科技大学、获学士学位。同年于西安电子科技大学攻读硕士学位，并于2007年攻读博士学位。2012年获西安电子科技大获工学博新华士学位。导师：杜磊教授图主要研究方向：电子器件可靠性、可靠性测试、电子器片社件噪声等。照片代表成果及经历：已在《物理学报》、《ChinesePhysicsB》、《红外技术》、第十六届电子元件学术年会等权威、核心刊物和国内学术会议发表学术论文14余篇。曾荣获国家电子设计大赛全国二等奖、陕西省一等奖。授权发明专利一项，申请受理发明专利一项。参与国家自然基金项
2、目两项，国家重点基础研究发展计划子项目一项。参与制定电子器件噪声测试标准，负责完成多种电子器件噪声测试设备与系统。WenhaoChen,wasborninSuining,SiChuanProvince,China,in1983.HereceivedhisB.A.inMaterialScienceTechnologyfromXiDianUniversity,Xi’an,China,in2006.ThenhestudiedatXiDianUniversitysinceAugust2006foraMaster’sdegree,bec
3、omingadoctoralcandidateinAugust2007,andconferredaPh.D.degreeinMaterialPhysicsandChemistryatXiDianUniversity,Xi’an,China,in2012.HisresearchinterestsincludeElectronicDevicereliability,ReliabilityTesting,andTheNoiseofElectronicDevice.In2005hehasgotthe2ndlevelofNational
4、UndergraduateElectronicDesignContest,andthe1stlevelofNationalUndergraduateElectronicDesignContestinShaanxiProvince.From2009to2010hehaspublishedover14journalandconferencepapers.Hehasalsoauthored2ChinaissuedandpendingPatents.Hehasparticipatedintheprojects“TheFundament
5、alTheoryResearchonNoiseCharacterizingInformationofSemiconductorSpintronics”and“Mesoscopicscalematerialcharacteristicsandthebasicresearchoftheservicebehaviorcharacterization”,whicharesupportedbyTheNationalNaturalScienceFoundationofChinaandTheNationalBasicResearchProg
6、ramofChina,respectively.Hehaspresidedovertheprojectof“ElectronicDeviceNoiseMeasurementSystem”form2008to2011.西安电子科技大学学位论文独创性（或创新性）声明秉承学校严谨的学风和优良的科学道德，本人声明所呈交的论文是我个人在导师指导下进行的研究工作及取得的研究成果。尽我所知，除了文中特别加以标注和致谢中所罗列的内容以外，论文中不包含其他人已经发表或撰写过的研究成果；也不包含为获得西安电子科技大学或其它教育机构的学位或证书而使
7、用过的材料。与我一同工作的同志对本研究所做的任何贡献均已在论文中做了明确的说明并表示了谢意。申请学位论文与资料若有不实之处，本人承担一切的法律责任。本人签名：日期：西安电子科技大学关于论文使用授权的说明本人完全了解西安电子科技大学有关保留和使用学位论文的规定，即：研究生在校攻读学位期间论文工作的知识产权单位属西安电子科技大学。学校有权保留送交论文的复印件，允许查阅和借阅论文；学校可以公布论文的全部或部分内容，可以允许采用影印、缩印或其它复制手段保存论文。同时本人保证，毕业后结合学位论文研究课题再攥写的文章一律署名单位为西安电子
8、科技大学。（保密的论文在解密后遵守此规定）本学位论文属于保密，在年解密后适用本授权书。本人签名：导师签名：日期：日期：摘要I摘要电子元器件低频电噪声是载流子微观运动的表现，其精确测量可为噪声特性、产生机理研究及其分析应用奠定基础。通过噪声测试能够有效验证电子元器件中与载流子输
