实验十九 纳米氧化铁的制备和物相表征(~25学时)

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1、膁蒈蚀羄芃芁薆羃羃蒆蒂羃肅艿螁肂膇蒅蚇肁芀芇薃肀罿蒃蕿聿膂莆袈肈芄薁螄肇莆莄蚀肇肆薀薆蚃膈莂蒂螂芁薈螀螁羀莁蚆螀肃薆蚂螀芅葿薈蝿莇节袇螈肇蒇螃螇腿芀虿螆芁蒆薅袅羁芈蒁袄肃蒄蝿袄膆芇螅袃莈薂蚁袂肈莅薇袁膀薀蒃袀节莃螂衿羂蕿蚈罿肄莁薄羈膇薇蒀羇荿莀袈羆聿膃螄羅膁蒈蚀羄芃芁薆羃羃蒆蒂羃肅艿螁肂膇蒅蚇肁芀芇薃肀罿蒃蕿聿膂莆袈肈芄薁螄肇莆莄蚀肇肆薀薆蚃膈莂蒂螂芁薈螀螁羀莁蚆螀肃薆蚂螀芅葿薈蝿莇节袇螈肇蒇螃螇腿芀虿螆芁蒆薅袅羁芈蒁袄肃蒄蝿袄膆芇螅袃莈薂蚁袂肈莅薇袁膀薀蒃袀节莃螂衿羂蕿蚈罿肄莁薄羈膇薇蒀羇荿莀袈羆聿膃螄羅膁蒈蚀羄芃芁薆羃羃蒆蒂羃肅艿螁肂膇蒅蚇肁芀芇薃肀罿蒃蕿聿膂莆袈肈芄薁

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3、就开始水解。水解所形成的胶体是多种水解产物的混合体。[Fe(OH)(H2O)2]2+、[Fe(OH)2H2O]1+、Fe(OH)3,FeO(OH)等化合物所占比例的多少受pH值和温度的影响。pH>3,温度超过70°C。水解产物基本上以FeO(OH)的形式存在。至于是以α型还是β型以及颗粒的大小与温度的高低和反应时间的长短有关。纳米氧化铁的制备利用了铁盐易水解的性质。颗粒的种类和大小决定于晶种的多少和水解速度的快慢。直截一点,就是对pH值和温度十分敏感。本实验采用酸化的[Fe(H2O)6]Cl3溶液,加热溶液,HCl气体挥发,溶液的pH值缓慢升高,在尽可能低的pH值下产生少量

4、的晶核,控制温度和时间,就会得到一定粒径的均匀的纳米颗粒。样品物象的表征包括形貌、粒度和晶相三个方面。物相分析一般使用X-射线粉末衍射仪(XRD)和电子显微镜。形貌和粒度可通过扫描电镜(SEM)和透射电镜(TEM)直接观测到粒子的大小和形状。但由于电镜只能观测局部区域,可能产生较大的统计误差。晶粒(注意粒子的大小和晶粒的大小不是一个概念,在多数情况下纳米粒子是由多个完美排列的晶粒组成的)的晶相和大小,虽然也可通过更强的场发射透镜(HRTEM)得到,但是机器昂贵、操作复杂,所以实验室一般使用X-射线粉末衍射仪。下面就简单介绍两种大型分析仪器:XRD和TEM。纳米氧化铁是一种电

5、阻较大的半导体,它的表面可以吸附氧气,并使氧气分子活化,在300°C以上可作为催化剂催化氧化可燃性气体。表面吸附的氧气分子的电负性强,它夺取纳米颗粒表层的电子,使纳米氧化铁晶粒内部的空穴数目增加,即材料的导电性增强。当可燃性气体通过其表面时,表面上活化的氧气分子参与反应,使表面吸附的氧气分子数目急剧减少,同时导致材料的导电性降低,降低的值与通过气体的浓度有近似线形的关系。利用这种关系人们制造了气敏测试仪,这种仪器已用于环境监测、交通安全的酒精、汽油等可燃性气体的实际测试中。X-射线仪(XRD)当高速电子撞击靶原子时,电子能将原子核内K层上一个电子击出并产生空穴,此时具有较高

6、能量的外层电子跃迁到K层,其释放的能量以X-射线的形式(K系射线,电子从L层跃迁到K层称为Kα)发射出去。X-射线是一种波长很短的电磁波,波长范围在0.05~0.25nm之间。常用铜靶的波长为0.152nm。它具有很强的穿透力。X-射线仪主要由X光管、样品台、测角仪和检测器等部件组成。XRD物相定性分析物相定性分析的目的是利用XRD衍射角位置以及强度,鉴定未知样品是由哪些物相组成。它的原理是:由各衍射峰的角度位置所确定的晶面间距d以及它们的相对强度I/I173是物质的固有特性。每种物质都有其特定的晶体结构和晶胞尺寸,而这些又与衍射角和衍射强度有着对应关系,因此,可以根据衍射

7、数据来鉴别物质结构。通过将未知物相的衍射花样与已知物质的衍射花样相比较,逐一鉴定出样品中的各种物相。目前,可以利用粉末衍射卡片进行直接比对,也可以计算机数据库直接进行检索。XRD粒度分析纳米材料的晶粒尺寸大小直接影响到材料的性能。XRD可以很方便地提供纳米材料晶粒度的数据。测定的原理基于样品衍射线的宽度和材料晶粒大小有关这一现象。当晶粒小于100nm时,其衍射峰随晶粒尺寸的变大而宽化。当晶粒大于100nm时,宽化效应则不明显。晶粒大小可采用Scherrel公式进行计算D=Kλ/B1/2cosθ式中,D是沿晶面垂直方

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