实训项目二` 锻件探伤

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1、实训项目二、 锻件探伤   一、训练目标掌握锻件探伤的技能，包括纵波检测是扫描速度的调整及底波方式调灵敏度的技能。二、原理1、纵波扫描速度的调节锻件探伤前，一般根据锻件要求的探测范围来调节扫描速度，以便发现缺陷，并对缺陷定位。扫描速度的调节可在试块上进行，也可在锻件上尺寸已知的部位上进行，在试块上调节扫描速度时，试块上的声速应尽可能与工件相同或相近。调节扫描速度时，一般要求第一次底波前沿位置不超过水平刻度极限的80%，以利观察一次底波之后的某些信号情况。2、探伤灵敏度的调节锻件探伤灵敏度是由锻件技术要求或有关标准确定的。一般不低于最大声程φ2平底孔当量直径。调节锻件探伤灵敏度的方

2、法有两种，一种是利用锻件底波来调节，另一种是利用试块来调节。1、底波调节法当锻件被探部位厚度χ≥3N，且锻件具有平行底面或圆柱曲底面时，常用底波来调节探伤灵敏度。底波调节法，首先要计算或查AVG曲线求得底面回波与某平底孔回波的分贝差，然后再调节。（1）计算：对于平底面或实心圆柱体底面，同距离处大平底面回波与平底孔回波的分贝差为：对于空心圆柱体，同距离处圆柱曲底面与平底孔回波分贝差为：（2）调节：探头对准完好区的底面。调[增益]使底波B1达基准高50%，然后用[衰减器]增益△dB，这时灵敏度就调好了。为了便于发现缺陷可再增益5--10dB作为搜索灵敏度，即扫查灵敏度。2、试验块调节

3、法当锻件的厚度χ<3N或出于几何形状所限或底面粗糙时，应利用具有人工缺陷的试块来调节探伤灵敏度，如CS-1和CS-2试块。调节时将探头对准所需试块的平底孔，调“增益”使平底孔回波达基准高即可。值得注意是，当试块表面形状、粗糙度与锻件不同时，要进行耦合补偿。当试块与工件的材质衰减相差较大时，还要考虑介质衰减补偿。三、实验用品1、仪器：CTS—22型探伤仪。2、探头：2.5PN20Z探头。3、试块：CSK—IA、CSK－ⅢA试块。4、耦合剂：甘油、机油或浆糊。5、带缺陷的锻件试样（以厚度T=225mm为例）。四、实验内容与步骤1、量取被探工件尺寸，长×宽×高或直径×高：100×80×

4、225（mm）。（如图7.1）。图7.12、根据被探工件尺寸调整扫描速度（T=225mm选择声程1:3定标），并记下探头型号，仪器型号，被探工件的编号（钢印号）。具体调整扫描速度的方法如下：①将纵波探头对准CSK－ⅢA试块上厚150mm的底面。②调节探伤仪上[深度微调]、[脉冲移位]旋钮，使底波B1、B2回波前沿分别对准水平刻度50、lOO，这时扫描线水平刻度值与实际声程的比例正好为1:3。3、调整探伤灵敏度（用底波法）①计算：其中Df=2mm，xB=T=225mm，=3.14,对于使用2.5PN20Z的探头时λ=2.36mm。②将探头置于被探工件探伤面上，找到无缺陷处底面回波，

5、调节[增益]使底波B1达基准高50%，记下此时[衰减器]读数N0。③用[衰减器]增益△1dB，记下此时[衰减器]读数N1（N1=△1+N0），这时灵敏度就调好了。为了便于发现缺陷可再增益5--10dB作为搜索灵敏度，即扫查灵敏度。4、探伤扫查①在第一次底波B1之前找到反射波幅高于50%的缺陷波。②记下此时缺陷波前沿在水平刻度上所对应的刻度。5、缺陷定量①将缺陷最大回波调至50%波高，记下此时[衰减器]读数N2。②将此时的底波降至50%波高（注意：探头不能移动），记下此时[衰减器]读数N3。则缺陷处底波降低量为N0-N3（要求底波降低量填入报告）。③缺陷反射波高比探伤灵敏度高△2=

6、（N2-N1）dB，然后计算与缺陷埋深相同的φ2mm平底孔与最大声程处φ2mm平底孔反射回波高的dB差：其中xB=T=225mm，xf==3。6、缺陷定位①找到缺陷最高回波后固定探头，确定此时探头所在圆对应的圆心。②对缺陷定位（如图7.2）：a)量取圆心对应的X、Y。b）缺陷埋深H(Z)==3c）则此时缺陷的位置坐标即为（X，Y，Z）7、缺陷当量换算缺陷当量=[φ4+△2-△3-12]dB五、考核要求1、能独立、正确操作仪器，进行缺陷检测（20分）2、能独立、正确检测出缺陷位置、当量，并进行评级（40分）3、能按要求完成锻件探伤报告（40分）