实训项目二` 锻件探伤

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1、实训项目二、 锻件探伤   一、训练目标掌握锻件探伤的技能，包括纵波检测是扫描速度的调整及底波方式调灵敏度的技能。二、原理1、纵波扫描速度的调节锻件探伤前，一般根据锻件要求的探测范围来调节扫描速度，以便发现缺陷，并对缺陷定位。扫描速度的调节可在试块上进行，也可在锻件上尺寸已知的部位上进行，在试块上调节扫描速度时，试块上的声速应尽可能与工件相同或相近。调节扫描速度时，一般要求第一次底波前沿位置不超过水平刻度极限的80%，以利观察一次底波之后的某些信号情况。2、探伤灵敏度的调节锻件探伤灵敏度是由锻件技术要求或有关

2、标准确定的。一般不低于最大声程φ2平底孔当量直径。调节锻件探伤灵敏度的方法有两种，一种是利用锻件底波来调节，另一种是利用试块来调节。1、底波调节法当锻件被探部位厚度χ≥3N，且锻件具有平行底面或圆柱曲底面时，常用底波来调节探伤灵敏度。底波调节法，首先要计算或查AVG曲线求得底面回波与某平底孔回波的分贝差，然后再调节。（1）计算：对于平底面或实心圆柱体底面，同距离处大平底面回波与平底孔回波的分贝差为：对于空心圆柱体，同距离处圆柱曲底面与平底孔回波分贝差为：（2）调节：探头对准完好区的底面。调[增益]使底波B1达

3、基准高50%，然后用[衰减器]增益△dB，这时灵敏度就调好了。为了便于发现缺陷可再增益5--10dB作为搜索灵敏度，即扫查灵敏度。2、试验块调节法当锻件的厚度χ<3N或出于几何形状所限或底面粗糙时，应利用具有人工缺陷的试块来调节探伤灵敏度，如CS-1和CS-2试块。调节时将探头对准所需试块的平底孔，调“增益”使平底孔回波达基准高即可。值得注意是，当试块表面形状、粗糙度与锻件不同时，要进行耦合补偿。当试块与工件的材质衰减相差较大时，还要考虑介质衰减补偿。三、实验用品1、仪器：CTS—22型探伤仪。2、探头：2.

4、5PN20Z探头。3、试块：CSK—IA、CSK－ⅢA试块。4、耦合剂：甘油、机油或浆糊。5、带缺陷的锻件试样（以厚度T=225mm为例）。四、实验内容与步骤1、量取被探工件尺寸，长×宽×高或直径×高：100×80×225（mm）。（如图7.1）。图7.12、根据被探工件尺寸调整扫描速度（T=225mm选择声程1:3定标），并记下探头型号，仪器型号，被探工件的编号（钢印号）。具体调整扫描速度的方法如下：①将纵波探头对准CSK－ⅢA试块上厚150mm的底面。②调节探伤仪上[深度微调]、[脉冲移位]旋钮，使底波B

5、1、B2回波前沿分别对准水平刻度50、lOO，这时扫描线水平刻度值与实际声程的比例正好为1:3。3、调整探伤灵敏度（用底波法）①计算：其中Df=2mm，xB=T=225mm，=3.14,对于使用2.5PN20Z的探头时λ=2.36mm。②将探头置于被探工件探伤面上，找到无缺陷处底面回波，调节[增益]使底波B1达基准高50%，记下此时[衰减器]读数N0。③用[衰减器]增益△1dB，记下此时[衰减器]读数N1（N1=△1+N0），这时灵敏度就调好了。为了便于发现缺陷可再增益5--10dB作为搜索灵敏度，即扫查灵敏

6、度。4、探伤扫查①在第一次底波B1之前找到反射波幅高于50%的缺陷波。②记下此时缺陷波前沿在水平刻度上所对应的刻度。5、缺陷定量①将缺陷最大回波调至50%波高，记下此时[衰减器]读数N2。②将此时的底波降至50%波高（注意：探头不能移动），记下此时[衰减器]读数N3。则缺陷处底波降低量为N0-N3（要求底波降低量填入报告）。③缺陷反射波高比探伤灵敏度高△2=（N2-N1）dB，然后计算与缺陷埋深相同的φ2mm平底孔与最大声程处φ2mm平底孔反射回波高的dB差：其中xB=T=225mm，xf==3。6、缺陷定位

7、①找到缺陷最高回波后固定探头，确定此时探头所在圆对应的圆心。②对缺陷定位（如图7.2）：a)量取圆心对应的X、Y。b）缺陷埋深H(Z)==3c）则此时缺陷的位置坐标即为（X，Y，Z）7、缺陷当量换算缺陷当量=[φ4+△2-△3-12]dB五、考核要求1、能独立、正确操作仪器，进行缺陷检测（20分）2、能独立、正确检测出缺陷位置、当量，并进行评级（40分）3、能按要求完成锻件探伤报告（40分）