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时间:2019-02-13
《能量色散x射线荧光分析基本参数法研究与初步应用》由会员上传分享,免费在线阅读,更多相关内容在学术论文-天天文库。
1、Abstractmeetstheneedsofproductlon.(4)InordertoinVestigatethereproducibili锣ofmeaSurements,theprecisioneXperimentisdone.Tllatistosay,weaJlalyzeseVeraltypesofstaIldardgeologicalminerals锄plesaSwell嬲astaIldardalloys锄pleprepared、Ⅳimthismethod.Urlderthes锄econdition,、Ⅳedid1OparallelteStsto也es锄esam
2、ple、^,ithmisme也odandresultisthatitsprecisionishigller,mema)(imalrelatiVestaIldarddeviationoftheelementNiis5.78%,tllegreatestrelatiVest锄darddeViationofotherelementsisnotmorethall2.58%锄dtllestabilit)rispe彘ct.Theresearchintothisalgorithmhasacllievedthedesiredaim.Byanalyzingalloysamplesprepare
3、dandanumberofminerals锄ples,theresultsshowthatitsaccuracyaIldprecisioncanmeettheon-lineanalysisoftllematerialandfillishedpmduCt.ThismethodcouldoVercomemeinfluenceofabso印tionalldeIlllaIlceeg.ectfbmbaSematerialcoInponentscommerldably觚dobt砒啮tllepreliIIliIla:叮resultofthisapplication.Keywords:X-
4、rayfluorescenceallalysis如nd砌entaIp黝ctersmemoddI纯en】【linationofcontentmatrixe任.cctcalculationproF锄V独创性声明本人声明所呈交的学位论文是本人在导师指导下进行的研究工作及取得的研究成果。据我所知,除了文中特别加以标注和致谢的地方外,论文中不包含其他人已经发表或撰写过的研究成果,也不包含为获得盛都理工太堂或其他教育机构的学位或证书而使用过的材料。与我一同工作的同志对本研究所做的任何贡献均已在论文中作了明确的说明并表示谢意。学位论文作者签名d阳转f只;
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7、二篇则首次提出了X射线荧光(XRF)光谱定量分析中用于元素间吸收一增强效应数学校正的基本参数法(FundamentalParametersMethod),从而开辟了基本参数法在X射线光谱分析中的应用“1。基本参数法即FP法是基于描述X射线荧光产生过程的基本物理公式来计算样品中元素的含量,因而其可靠,但毕竟算法比较复杂,受当时的计算工具的限制,只能脱机在大型计算机上进行计算得出结果。在80年代已将该法移植到个人计算机上。时至今日,随着计算机技术的飞速发展,基本参数法已成为一种常规的分析方法,连两磅重的手持式X光谱仪都可以采用此法瞳1。元素间吸收增强效应的数学校正是从20世纪5
8、0年代中期开始的,基本上沿着三条路径发展:(1)基本参数法;(2)影响系数法;(3)基本参数法和影响系数法相结合。第三种方法具有两种形式,一是在最后计算中采用系数和基本参数来校正试样的强度数据;二是根据X射线荧光理论强度公式计算理论影响系数,经过实验验证后直接用来处理数据。至于影响系数法则有经验系数法(或称经验影响系数法)和理论影响系数法两种。经验系数法又分为含量模式和强度模式。从实际应用角度出发,基体校正大体分为三个阶段,20世纪60年代至80年代初,主要使用经验系数法,50年代末至80年代间提出的经验方程约50
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