实验2门电路特性参数测试

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1、实验2门电路特性参数测试实验二门电路特性、参数测试说明：实验内容中，红色标注的部分为基本内容，必须完成。其他内容按照实验老师的要求做。一、实验目的1.了解数字集成电路外形结构及外部引脚的排列规律。2.掌握逻辑门电路主要特性、参数的测试方法。3.学习查阅器件手册。4.进一步训练实验箱及常用仪器的使用方法。二、实验资料1.TTL与非门74LS0074LS00为四个2输入TTL与非门，为双列直插14脚塑料封装，外部引脚排列如图2.1所示。它共有4个独立的两输入端“与非”门，各个门的构造和逻辑功能相同，其内部电路结构如图2.2所示。CCABY图2.174LS00引脚排列图

2、2.274LS00与非门内部电路结构74LS00特性参数见表2・1、表2・2、表2・3。表2-1推荐工作条件*负号表示电流由器件流岀表2・2直流特性（0〜70°C）2・COMS与非门74HC0074HC00为四2输入COMS与非门，外部引脚排列与74LS00相同（图2.1）o它共有4个独立的两输入端“与非”门，各个门的构造和逻辑功能相同，其内部电路结构如图2.3所示。74HC00特性参数见表2・4、表2・5、表2・6。表2-4推荐工作条件*负号表示电流由器件流岀表2・5直流特性（一40〜85°C,除非另有说明）*负号表示电流由器件流出，和典型值在T=25°C条件下

3、测得□方框内的数字是线性外推值表2-6开关特性*典型值在T=25°C条件下测得**CPD为空载功率消耗电容，决定空载动态功耗和空载电流功耗三、实验设备与器件设备：数字电子技术实验箱、万用表、电流表、示波器器件：74LS00（74HC00）一片（四个2输入与非门）四、实验内容及步骤（一）TTL与非门测试1.验证TTL与非门逻辑功能（1）任意选择其中一个与非门进行实验。将与非门的两个输入端分别接到两个电平开关上，输出端接到一个电平指示灯发光二极管上（电平指示灯接高电平时点亮)，接通电源，操作电平开关，完成真值表——表2.7。(2)判断功能是否正确，写出逻辑表达式。表2

4、.7与非门真值表1.电压传输特性测试按图2.4连好线路。调节电位器，使VI在0~3VZ间变化，记录相应的输入电压VI和输入电压V0的值并填入表2.&并在图2.5的坐标系中画出电压传输特性。V04.7kVI图2.4电压传输特性测试电路图2.5电压传输特性表2.8与非门输入、输岀电平关系数据表3•直流参数的测试(1)输岀高电平VOH的测试测试电路如图2.6所示。闭合开关，调节电位器使电流表读数为400UA,用万用表测量输出端带负载时的输出电压VOH；断开开关，用万用表测量输出端负载开路时的输岀电压WOH,将数据填入表2.9VOL图2.6V0H的测试电路图2.7VOL的

5、测试电路(1)输出低电平VOL的测试测试电路如图2.7。闭合开关，调节电位器使电流表读数为8mA,用万用表测量输出端带负载时的输岀电压VOL；断开开关，用万用表测量输岀端负载开路时的输出电压V’0L,将数据填入表2.9中。表2.9VOH、VOL测试结果(2)高电平输入电流IIH测试电路如图2.8所示。连接电路，通电后读出电流表的读数即为负载门高电平输入电流HH,并用万用表测量此时负载门输入高电平的电压VIH,将数据填入表2.10中。图2.8IIH测试电路图2.9IIL测试电路(3)低电平输入电流IIL测试电路如图2.9所示。连接电路，通电后读岀电流表的读数即为负载

6、门低电平输入电流HL,并用万用表测量此时负载门输入低电平的电压VIL,将数据填入表2.10中。表2.10IH、IL测试结果4.输入端负载特性测试(探)测试电路如图2.10所示。用万用表测试，将VI和V0随RI变化的值填入表2.11中。(注意:每次测量电阻RI的值时，须将RW中间活动头和门的输入端断开)。表2•口输入负载特性测试结果RW10k图2.10输入端负载特性测试电路5•“封锁”门电路实验（1）将与非门的一个输入端接到电平开关上，另一个输入端接到连续脉冲信号源上。信号源频率调至约2kHZo电平开关置“1”，用双踪示波器（输入耦合方式置于“DC”档位），同时观察

7、门的输入VI和输出VO波形；电平开关置“0”，再次观察输入VI和输出VO波形。画出两种情况下输入VI和输出VO波形。（2）用3个两输入端与非门接成一个两输入端的或门，做或门封锁实验。实验方法口拟。五、实验报告1.实验预习（1）熟悉TTL与非门电路（74LS00）各参数的测量原理、测量方法及测量步骤；（2）完成实验的预习报告，包括：实验目的、实验设备、布置实验内容及步骤、测试电路、原始数据记录表格及图形。1.实验及数据处理（1）根据布置实验内容认真完成实验中的各项测试任务，仔细观察实验中的各种现象并加以分析。（2）在数据记录表格及图形中记录实验测量数据，并对实验数据

8、进行分析。