一种电子设备贝叶斯可靠性评估的新方法

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1、June2014MICROELECTRONICS&COMPUTER一种电子设备贝叶斯可靠性评估的新方法尹宗润12，李俊山2，苏东1Q中国人民解放军96320部队，河南洛阳471031；2第二炮兵工程大学，陕西西安710025)摘要：针对贝叶斯方法应用中后验参数的运算复杂性问题捉出了--种电子设备贝叶斯可靠性评估的新方法•基于工程实践中常见的先验信息建立失效率先验分布，通过随机采样构建设备寿命分布参数的离散联合先验分布，结合截尾试验数据，再逋过二次随机采样得到分布参数的离散联合后验分布函数•逋过实例给出了运算过程，并与其它贝叶斯运算方法进行了比较•结果表明，此方法在确

2、保精度的同时可以大大简化汁算过程，在电子设备可靠性评估中有较高的应用价值•关键词：电子设备；贝叶斯方法；可靠性评估；寿命分布中图分类号：TB114-3文献标识码：A文章编号：1000-7180814X)6—0107—04ANoveltyMethodforBayesianReliabilityAssessmentofElectronicEquipmentYINZong-ruri12'LIJun-shan25SUDong1196520PLATroops'Luovang471031'Cliina:2TheSecondArtilleryEngineeringUniversi

3、ty*Xfan710025'Cliiiia)Abstract:AimingattheposteriorparametercomputationdifficultyofBayesmethodinengineeringapplication'tliispaperproposedanoveltymethodforBayesianreliabilityassessmentofelectronice(]uiprrient・ThepriorciistributionoffailurerateisbuiltaccordingtotheengineeringexperiencesT

4、basedonthepriorciistribution1thisapproachallowsconstructingthediscretejointpriordistributionoflifetimeciistributionparameterstliroughrandomsampling，combinedwiththecensoringdataoflifetest'randomsampleisadoptedagaintoobtainthediscretejointposteriorclistributionofthep^iraineters・Apractica

5、lexampleisgivenasanillustration*theprocessiscomparedwiththeotherapproaches・Resultshowsthat*thisapproachcansimplifymuchcomputationinpracticalapplicationsaswellasensuretheaccuracy:ithasgreatvaluesforelectronicecjuipmentreliabilityassessment・Keywords:electronicequipment:Bayesm收稿口期：2013-08

6、-27；修回口期：2013-10—18ethod；reliabilityassessment；lifetimedistribution1引言可靠性评估是电子设备可靠性工程的重要内容•电子设备常用的寿命分布模型有指数分布和Weibull分布，Weibull分布模盘由于能够表现为不同的形状以及对各种试验数据的适应性，在可靠性分析中得到了广泛的应用・贝叶斯方法能减少所需试验子样数，提高试验效率但山于其分析过程大多涉及复杂的数值积分运算，因此其后验参数的计算问题也成为应用屮的一大难题•随机模拟方法的出现在一定程度上解决了这一难题典型的方法有蒙特卡洛方法和马尔科夫链蒙特卡洛M

7、arkovChainMonteCarlo*MC-MC)方法•当参数的联合后验分布以一些条件分布或者边缘分布形式给出时采用蒙特卡洛方法很难处理，在这种情况下，采用迭代蒙特卡洛采样方法的前捉条件是获得的采样必须收敛于目标联合后验分布•这种迭代蒙待卡洛过程产生一个具有马尔科夫性质的随机序列，称为马尔科夫链蒙特卡洛过程•从理论上讲，应用MCMC方法随机采样产生的马尔科夫序列最终会收敛于日标概率分布，而在可靠性评估实际应用中，采样生成的马尔科夫链收敛速度难以预测，使得有时采用这种简化方法运算时反而需要花费更大的代价•此外，利用MCMC方法对Weibull分布进行分析时，在