仪器分析重点~

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1、光学分析法：1.光谱分析法与其他分析法的核心区别光谱法：基于物质与辐射能作用时，测量由物质内部发生量子化的能级之间的跃迁而产生的发射、吸收或散射辐射的波长和强度进行分析的方法。分为原子光谱法和分子光谱法。非光谱法：·基于物质与辐射相互作用时，测量辐射的某些性质，如折射、散射、干涉、衍射、偏振等变化的分析方法。·非光谱法不涉及物质内部能级的跃迁，电磁辐射只改变了传播方向、速度或某些物理性质。·属于这类分析方法的有折射法、偏振法、光散射法、干涉法、衍射法、旋光法和圆二向色性法等。（表一）2.原子发射光谱产生的原理当原子受到外

2、来能量如光、热、电的作用时，原子中的最外层电子就被激发而从基态跃迁到激发态，处于激发态的原子或离子是很不稳定的，在极短的时间内（约经10-8s），电子就要从激发态跃迁回基态或能量较低的激发态。此时，电子以电磁辐射的形式将多余的能量释放出来，称为原子发射，这样就得到发射光谱。每一种元素都有其特定的电子构型，即特定的能级层次，所以各元素的原子只能发射出它特有的那些波长的光，经过分光系统得到各元素发射的互不相同的光谱，即各种元素的特征光谱。原子发射光谱是线光谱。3.原子吸收分光光度法存在几种干扰及相应的消除方法干扰产生原因特点

3、消除方法非光谱干扰物理干扰大量基体元素存在（即总盐量增加）使测量信号下降。因物理性质（粘度、表面张力、溶剂、蒸气压、雾化气压力）不同引起干扰。非选择性(1)通过控制试液与标准溶液的组成尽量一致。(2)标准加入法或稀释法来减小和消除。化学干扰待测元素与试样中共存组分或火焰成分发生化学反应，引起原子化程度改变所造成的干扰。(1)原子吸收光谱分析中主要干扰来源；(2)产生的原因是多方面的；(3)典型的是待测元素与共存元素之间形成更加稳定的化合物，使基态原子数目减少。(1)加释放剂（优先与干扰离子反应）(2)保护剂：生成稳定稳定

4、的化合物，防止干扰元素与它作用(3)基体改进剂（配位剂）：与基体形成易挥发的化合物，在原子化前除去，避免与待测元素共挥发。(4)化学分离(5)使用高温火焰(6)增量法定量校正。电离干扰基态原子电离；(1)该干扰造成火焰中待测元素的基态原子数量减少，使测定结果偏低。(2)火焰温度越高，元素电离电位越低，元素越易电离。a.控制火焰温度b.加入电离缓冲剂（比被测元素有更低的电离电位）光谱干扰谱线干扰共振线附近存在有非待测元素的谱线，或试样中待测元素共振线与另一元素吸收线十分接近时，均会产生谱线干扰。通过采用调小狭缝的方法。背景

5、干扰主要来自原子化器，包括蒸汽中气态分子对光的吸收（无机酸、气体燃烧等）及高盐度颗粒的散射干扰。多采用空白校正法、氘灯校正法和塞曼效应校正法的方法来消除这种干扰。4空心阴极灯的构造空心阴极灯是一种气体放电管，其构造如下：常用的空心阴极灯是由一个圆柱形空心阴极和一个棒状阳极组成的气体放电灯。空心阴极是由待测元素的纯金属或合金构成，或者由空穴内衬有待测元素的其它金属构成。阳极可用钨、钛、锆等纯金属制作，最常用是钨棒。阴极和阳极同时被封装在充有低压惰性气体的玻璃套管内，空心阴极腔应面对能投射辐射的石英窗口，这样放电的能量可集中

6、在较小的面积上，使辐射强度更大。5.几种主要光谱的检测波长范围P14γ射线：0.01-0.1nmX射线：0.1-10nm远紫外光（真空紫外光）：10-200nm近紫外光：200-400nm可见光：400-780nm近红外光：0.78-2.5m中红外光：2.5-50μm远红外光：50-1000μm微波：0.1-1000cm无线电波：1-100m6了解吸光物质摩尔吸收系数的内涵摩尔吸收系数用K来表示。单位为L/mol·cm。它表示吸光质点浓度为1mol/L，溶液厚度为1cm时，溶液对光的吸收能力，它是光度灵敏度的一种表示。摩

7、尔吸光系数越大，表示物质对波长为λ的光的吸收能力越强，同时在分光光度法中测定的灵敏度也越大。※补充：K的两种表示方法：·当溶液浓度c的单位为g/L,溶液液层厚度b的单位为cm时，K叫“吸光系数”，用a表示，其单位为L/g·cm，此时：A=abc·当溶液浓度c的单位为mol/L，液层厚度b的单位为cm时，K叫“摩尔吸光系数”，用ελ表示，其单位为L/mol·cm，此时：A=ελbc·对于K的这两种表示方法，它们之间的关系为：ελ=aM7.自吸现象内涵物质在高温下被激发时，在中心区域激发态原子较多，边缘处处于基态及低能级的原

8、子较多。某元素的原子从中心发射某一波长的辐射光必须通过边缘射出，其辐射就可能被处在边缘的同一元素的基态或较低能态的原子吸收，因此检测器接受到的谱线强度就会减弱。这种原子在高温区发射某一波长的辐射，被处在边缘低温状态的同种原子所吸收的现象称为自吸。※补充：自蚀当样品达到一定含量，由于自吸严重，谱线中心的辐射完全被吸收称