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《基本统计技术与统计制程管制(1)》由会员上传分享,免费在线阅读,更多相关内容在教育资源-天天文库。
1、北京三箭和众鼎公司基本统计技术与统计制程管制特别补强培训课程讲师:阮建荣2008,6,25~27.课程大纲第1天(6/25):基本统计概论(上)1.导论:从检验品管→制程管制→源流管理(设计品质)的发展历程2.基本统计概论──数据的性质3.母数与统计量的全面复习及统计思维梳理4.各种分配的剖析及应用excel取代查表的技术第2天(6/26):基本统计概论(下)5.统计解析的基础知识6.Excel的母集团分配7.统计的检定8.统计的推定第3天(6/27):统计制程管制9.QCSQCSPC10.基本統計概述11.基本統計量數12.SPC背景說明13.
2、制程變異14.建立SPC的步驟2StatisticalProcessControlSPC統計制程管制健峰管理技術研修中心資深顧問師:阮建榮3阮建榮先生 簡介學歷國立台灣大學企管研究所EMBA學分班國立中央大學電機系經歷鼎新電腦/甲上資訊/新知企管/所羅門企業/敦緯數位/健峰企管現任:健峰管理技術研修中心資深顧問師專長ERP/ISO9000,TQM/策略+方針管理/績效管理與教育訓練體制規劃連系方式公司0574-62710186手機13958358873e-mailedroan@vip.sina.com4引言:QCSQCSPC一、基本統計概述二、基本統
3、計量數三、SPC背景說明四、制程變異五、建立SPC的步驟SPC統計制程管制(基礎篇)5QCSQCSPCQC,QualityControl,檢驗品管用“規格界限”檢查產品。(LSL,SL(T0),USL)用語:“良品”、“不良品”。數學工具:良率,不良率;良品數,不良品數。SQC,StatisticalQualityControl,統計品管用“管制界限”監控制程。(UCL,CL,LCL)用語:“管制狀態”、“機遇原因”、“非機遇原因”數學工具:管制圖、AQL。SPC,StatisticalProcessControl,過程品管用“6σ-PPM-Cpk數据
4、”評價制程能力和品質水準。用語:“零缺點”、“降低變異”數學工具:Cpk+SQC工具。6QC:品質檢驗獨立的檢驗員。產品特性的規格界限。良品、不良品的判別。良率、不良率的計算。檢驗無法改善品質。7QC的品質觀規格中心值規格上限規格下限USLxLSLxxxxxxxx良品不良品不良品μ8SQC的工具-管制圖管制圖是1924年由蕭華特博士(Dr.W.A.Shewhart),在研究產品品質特性的次數分配時所發現。正常制程所生產出來產品的品質特性,其分佈大都呈正態分佈,會超出三個標準差(3)的概率只有0.27%,依據此原理,將正態曲線圖旋轉90度,在三個標準差的
5、地方加上兩條界限,並將抽樣的順序點繪成為管制圖。9+3σ68.26%95.45%99.73%%数据点的百分比UCLLCL时间我们测量的项目管制圖示例CLXXXXXXXXXXXXXX+2σ+1σ-1σ-2σ-3σ10SPC的品質觀規格中心值規格上限規格下限USLxLSLxxxxxxxx良品不良品不良品μQC的品質觀σx愈小愈好μX11何謂“品質”品質是檢驗出來的檢驗品管(IQC:InspectionQualityControl),1900~品質是製造出來的製程品管(PQC:ProcessQualityControl),1930~統計品管(SQC:Stati
6、sticalQualityControl),1930~品質是設計出來的全面品管(TQC:TotalQualityControl),1950~品質是要求出來的全公司品管(CWQC:Company-WideQualityControl),1970~品質文化全面品質管理(TQM:TotalQualityManagement),1980~ISO-9000品質管理系統,1987~1221世紀品質的新定義:品質:產品、體系或流程的一組固有特性滿足顧客和其他相關方要求的能力。註:本定義改寫自ISO9000:2000,摘自楊錦洲教授“21世紀的質量管理”講座資料。13統計
7、方法的意義群體與樣本資料的分類資料的分析品質管制與統計方法一、基本統計概述14統計方法的意義統計:描述“現象”的“特徵”。集中趨勢:,中位數,…離散趨勢:σ(標準差),R(極差),…規劃資料的收集,整理與解釋資料,並據以導出結論或予以推廣的過程,稱為統計方法。闡述統計方法與理論的科學,即為統計學。上述統計方法,乃自全部資料中,抽取部分資料,此部份資料的收集、整理,並將其結果加以解釋,使不了解統計方法的人得以了解,並據以對全部資料作成結論,或推導出全部資料所蘊含的特性。X15統計資料屬性資料屬量資料合格/不合格好/不好滿意/不滿意計數值─間斷資料計量值─連續
8、資料16群體與樣本群體〈Population〉,可為整個制程的所有