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时间:2018-12-02
《测控技术与仪器 毕业论文范文——应用于存储测试系统的ASIC可靠性分析及实验研究》由会员上传分享,免费在线阅读,更多相关内容在学术论文-天天文库。
1、中北大学信息商务学院2010届毕业设计说明书应用于存储测试系统的ASIC可靠性分析及实验研究摘要本文针对应用于存储测试系统的ASIC可靠性的问题,做了以下几个方面的研究:一、对ASIC可靠性设计方法和ASIC封装进行总结,并对设计中的关键技术做出详细解释。二、运用可靠性理论对存储测试系统进行了有关理论分析和研究并通过对存储测试系统的分析来分析ASIC。三、掌握ASIC可靠性试验方法对ASIC可靠性进行环境实验。本文的目的是通过对应用于存储测试系统的ASIC可靠性问题的研究,对ASIC可靠性做出概述;了解并掌握ASIC可靠性设计方法;对存
2、储测试系统进行可靠性模型分析并建模;对存储测试系统中ASIC芯片进行可靠性试验。在广泛查阅国内外相关文献的基础上,作者采用理论分析和实验相结合的方法对上述问题进行了研究:(1)系统论述了可靠性理论的内容和发展状况。介绍了可靠性理论中的可靠度、故障率等概念。(2)对ASIC可靠性设计方法和封装进行总结,并对可靠性设计中的关键技术做出详细解释。(3)分析存储测试系统构成,建立详尽的系统原理框图。总结分析了存储测试系统测试实验中可能出现在的各种可靠性问题。建立系统的可靠性模型。(4)掌握集成芯片可靠性试验和可靠性评估的方法,并对指定芯片进行可
3、靠性环境试验及可靠性评估。通过本课题的研究分析,对应用于存储测试系统的ASIC进行了可靠性领域的分析总结。通过可靠性设计方法和可靠性模型和故障的分析,为集成芯片提高可靠性找到了明确的途径。关键词:ASIC,存储测试系统,可靠性,可靠性设计,可靠性模型,可靠性实验中北大学信息商务学院2010届毕业设计说明书reliabilityanalysisandexperimentalstudyforASICofStorageTestSystemAbstractThispapermainlydiscussestheASICreliabilitypro
4、blemanddotheresearchfromthefollowingaspects: First, dosummarizedofASIC reliabilitydesign andmakedetailedexplanationforthe keytechniquesofASIC reliabilitydesign .Second, usereliabilitytheorytodotheoreticalanalysisandresearchforthemeasuredASIC.Third,controlthere
5、liabilityoftestmethodsforASICreliabilityenvironmentalexperiment. ThepurposeofthisarticleisthroughresearchASICreliabilityproblemtobetheASICoutlined;understandandcontroltheASICdesignmethods;makethereliabilitymodelanalysisandmodelingforspecifiedship;makespecifiedASICreli
6、abilityexperiment.onthebasisofawiderangeofrelevantliterature,makerusethetheoreticalanalysiscombiningwithexperimentalmethodtoresearchtheseissues:(1)Discussedthereliabilitytheorycontentanddevelopment.Describesthereliability,failurerateandsoonaboutreliabilitytheory.(2)There
7、liabilityofASICdesignproceduresandmethodsweresummarizedandadetailedexplanationofthekeytechnologiesforreliabilitydesign. (3)Analysisthespecifiedintegratedshipsystemstructure,establishmentofdetailsystemblockdiagram.Analyzedtheintegratedchiptestmayappearavarietyofreliabilit
8、yproblems.Theestablishmentofthesystemreliabilitymodel. (4)Controlintegratedchipreliabilitytestingmethod
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