测控技术与仪器 毕业论文范文——多次重触发存储测试系统设计

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1、多次重触发存储测试系统设计摘要：多次重触发存储测试的特征是能对测试系统多次触发，计量每次触发的数据。存储测试的主要技术特点是,现场实时快速采集记忆,事后回收处理再现.实现动态参数存储测试的技术关键在于研制能够在被测环境内正常工作的,对被测对象工作无影响或影响在允许范围内的数据采集与存储测试系统。本设计主要实现通过CPLD对AD转换器控制实现AD转换，最关键的是通过对存储器的控制实现每次触发存储64K的数据，等到下次触发测试系统才继续开始工作，当存满了整个存储器512K后发出满信号，读信号来时对存储器进行读操作，读操作要实现把并行数据串行输出，

2、上面的过程都通过程序来实现，可以看出VHDL的程序设计是本设计的关键。关键字：重触发，存储测试，CPLDSeveraltimestotriggermemorytestsystemdesignAbstract:Storagetestsseveraltimestotriggerthecharacteristicsofthetestingsystemisabletotriggerseveraltimes,eachtimetriggeringthemeasurementdata.Themainteststoragetechnologyischarac

3、terizedbyrapidacquisitionmemoryatthesceneimmediatelyaftertherecoveryreproduction.Realizationofdynamicparametersoftheteststoragetechnologyisthekeytothedevelopmentmeasuredinthenormalworkenvironment,theworkhadnoeffectonthetestedobjectoreffectofallowingWithinthescopeofdatacolle

4、ctionandstoragetestsystem.ThemaindesignthroughtheCPLDcontrolofADconverterstoachieveADconversion,thekeyistorealizethememoryofeachcontrol64Ktriggerstorageofdata,waitforthenexttriggertobegintestingsystemtowork,whentheentirememoryofMan512Kafterafullsignal,whenthereadingsignalst

5、othememoryforreading,readingparalleloperationtoachievetheserialoutputdata,aboveallthroughtheprocessofprocedurestoachieve,wecanseethattheprocedureVHDLdesignisthekeytothisdesign.Keyword:re-trigger，storagetest，CPLD第III页共III页目录1绪论11.1存储测试技术概述11.2存储测试技术国内外研究情况及发展趋势11.3多次重触发存储测试3

6、1.4本文的主要内容及章节安排31.5本章小结42EDA技术的介绍52.1EDA技术的内涵52.2EDA的基本工具52.3CPLD/FPGA的概述52.3.1CPLD和FPGA的介绍52.3.2可编程逻辑器件的一般设计流程62.4ISE介绍72.4.1ISE5.2的特点72.4.2ISE的工具72.4.3基于ISE5.2的设计输入方法72．5硬件描述语言VHDL162.5.1VHDL语言简介162.5.2VHDL中的控制语句162.6本章小结183系统硬件设计193.1本课题要研究的问题193.2系统组成193.3芯片的选择203.3.1CP

7、LD的选择203.3.2A/D的选择223.3.3存储器的选择23第III页共III页3.4XCR3256对硬件的控制原理243.4.1XCR3256对AD7492的控制原理243.4.2XCR3256对N08T1630存储器控制原理253.5本章小结264系统控制设计274.1系统的控制框图274.2CPLD对A/D的编程控制284.2.1控制原理284.2.2原理图及VHDL实现284.3CPLD对存储器的编程控制304.3.1CPLD对存储的写地址控制304.3.2CPLD对存储器读的数据转换控制324.3本章小结375系统仿真时序38

8、5.1仿真时序图385.2本章小结406结论41附录42参考文献43致谢44第III页共III页1绪论1.1存储测试技术概述存储测试是指在对被测对象无影响或影响在允