反相高效液相色谱法测定鼻渊枢滴鼻剂中阿魏酸的含量

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1、反相高效液相色谱法测定鼻渊枢滴鼻剂中阿魏酸的含量作者：李春花，严玉平，宋晓宇，范精华【关键词】鼻渊枢滴鼻剂；,,阿魏酸；,,反相高效液相色谱法　　摘要：目的建立以反相高效液相色谱法测定鼻渊枢滴鼻剂中阿魏酸含量的方法。方法采用反相高效液相色谱法，色谱柱为DiamonsilC18柱(200mm×4.6mm,5μm)；甲醇水乙酸（35∶65∶1V/V/V）为流动相；流速1.0ml/min；检测波长为322nm；外标法定量。结果阿魏酸在0.208~1.040μg范围内进样量X（μg）与峰面积Y呈良好的线性关系，Y=1704575.96X－13177.4（r=0

2、.9997，n=5），平均回收率为97.12％，RSD=1.28%。结论反相高效液相色谱法测定滴鼻剂溶液中阿魏酸含量用于制剂质量控制，方法简便，灵敏，准确。　　关键词：鼻渊枢滴鼻剂；阿魏酸；反相高效液相色谱法　　DeterminationoftheContentofFerulicAcidinBiyuanshuNoseDropsbyRPHPLC　　Abstract：ObjectiveToestablishtheRPHPLCmethodforcontentdeterminationofferulicacidinBiyuanshunosedrops.Meth

3、odsTheassayedonadiamonsilC18columnbyUVdetectionattheethanolobilephaseattheflol/min.ResultsThecontentofferulicacid0.208μg~1.04μg，Y=1704575.96X-13177.4（r=0.9997，n=5）.Theaveragerecoveryethodisconvenient,sensitiveandaccurateonsilODSC18反相柱（200mm×4.6mm，5μmserNo.8023115），流动相为甲醇水乙酸（35∶6

4、5∶1，V/V/V)；流速1.0ml/min；检测波长322nm；柱温为室温；进样量20μl，理论塔板数按阿魏酸计不低于3000，阿魏酸与其相邻色谱峰分离度大于1.5。　　2.2对照品溶液的制备精密称取干燥至恒重的阿魏酸对照品5.2mg，用少量甲醇溶解后，加双蒸水于50ml棕色容量瓶中至刻度，超声处理10min，放置室温，双蒸水定容。取上清液，过0.45μm微孔滤膜，取滤液作为供试品溶液,得0.104mg/ml对照品溶液备用。　　2.3供试品溶液的制备　　2.3.1鼻渊枢滴鼻剂的制备［1］按处方比例准确称取各味药材，混匀后置500ml烧杯中，加8倍量水

5、室温下浸泡60min，煮沸后改文火煎60min，用4层纱布过滤，残渣加8倍量水重复以上过程，合并3次滤液，浓缩至每毫升药液含1g生药材，放置室温，以95%乙醇醇沉至60%，静置过夜，减压抽滤，滤液回收乙醇至无醇味，继续浓缩至每毫升药液约含原药材1g的提取液，得供试品原液。用NaHCO3调pH6.5，氯化钠调整渗透压至等渗，消毒，分装，灌封，得鼻渊枢滴鼻剂，2ml/支。　　2.3.2样品供试液的制备精密量取供试品原液1.0ml，置10ml棕色容量瓶中，加入流动相，超声混匀15min，放至室温定容。取上清液，过0.45μm微孔滤膜，取续滤液作为供试品溶液。

6、　　2.4阴性对照液的制备按处方比例称取不含川芎的各味药材，按上述2.3项下方法制备不含川芎的阴性对照液。　　2.5检测波长的选择吸取阿魏酸标准品液，紫外扫描，阿魏酸在322nm处有最大吸收且干扰小，故选择322nm作为检测波长。　　2.6色谱系统的适用性考察分别精取标准品溶液，供试品及阴性对照液，在本实验选定的色谱条件下，分别进样20μl，在阿魏酸标准品出峰位置，阴性对照液无干扰，见图1～3。　　图1阿魏酸标准品色谱图（略）　　图2鼻渊枢滴鼻剂样品色谱图（略）　　图3鼻渊枢滴鼻剂阴性样品色谱图（略）　　2.7线性关系及灵敏度考察精密量取对照品液1，2

7、，3，4，5至10ml棕色容量瓶中，用双蒸水定容，超声处理5min，0.45μm微孔滤膜滤过，分别进样20μl，测峰面积。以峰面积（Y）对进样量（X）进行回归，得回归方程为：Y=1704575.96X-13177.4(r=0.9997,n=5)。结果表明，阿魏酸进样量在0.208～1.040μg范围内与峰面积呈良好的线性关系。最低检测限为0.208μg。　　2.8精密度实验精密吸取对照品液2.5ml，双蒸水定容至10ml，超声处理5min，0.45μm微孔滤膜滤过，连续进样5次，进样20μl，测峰面积依次为806636，800160，802339，79

8、9924，795551，以峰面积大小计算RSD=0.50%(n=5)，结果表明本测定系统精密度