ict 测试原理

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1、版权所有,2000(c)TRI德律泰电子(苏州)有限公司.在线测试仪应用原理篇制作WinchlChengTraining(R)forTR-518FSeriesDate:12/01/2000应用教程(二)Http://www.tri.com.cnE-Mail:winchl@163.net2021/7/1電阻測試系统依标准值(STD_V)选取相应大小的电流源。被測電阻愈大,測試電流須更小,以確保量回被測電阻兩端的電壓VO在規定的範圍(0.15~1.5V)之內.2021/7/1GUARDING原理(隔離點的選擇,通過按F7或ALT+F7,或者加適當延時等修改後再按F7或AL

2、T+F7由系統自動完成,絕大多數可達到效果.經驗表明,隔離點太多,測量值可能不穩定.一般選擇0~2個隔離點可以滿足要求,並且隔離點的選擇一般僅隔離一面.如果按F7或ALT+F7後,系統選擇的隔離點太多,則要重新作自動隔離,以找到一種隔離點較少且測量效果最好的方案.)2021/7/1RX//R量回的阻值Rm=Rx*R/(Rx+R)≠Rx.量回的阻值Rm=Rx*R/(Rx+R)≠Rx.2021/7/1Rx//C2021/7/1Rx//C測試順序是:[放電],充電和電壓測試.如FIGURE4示.考慮到電容的分流,要先對其充電,經過T2以后,Ic→0.此時可量回准確的阻值.故

3、遇到R//C的情形,釆用定電流源測試時,須加DELAYTIME.且電容越大,延遲要更久,才能得到准確值.2021/7/1當C較大(μ級以上)時,當C較大(μ級以上)時,若仍釆用定電流源方式,則電容會將電流源分流,直至電容充飽時才成斷路,這樣會消耗太久測量時間.此時改以電壓源(0.2VDC)對電容充電,迅速將電容加至0.2VDC(斷路),再量回電流Ix值,即可求得Rx,(RX=0.2VDC/IX)在TR-518F系列测试仪中,選擇MODE2:HIGHSPEEDFORR//C,再加适量延時即可。2021/7/1EXAMPLE:◎如果在被測電阻RX的相關電路中有電容存在,如

4、FIGURE10示.通過設置虛地隔離點,可以提高測試速度,見FIGURE11,12.2021/7/1Comparation:2021/7/1RX//D(FIGURE6)推而廣之,電阻與帶PN結的零件并聯.(包括D,ZEN,TR,FET,IC,etc).2021/7/1MODE0→MODE1假設RX=2kΩ若IS=500μA則VR=IS*R=500*10-6(A)*2*103(Ω)=1(V)此時D已導通,將Rx兩端限壓至約0.7V.那么RM=0.7(V)/(500*10-6(A))=1.4*103(Ω)=1.4kΩ≠Rx.此時,要改以低一檔電流源測試.在TR-518F系

5、列测试仪中為MODE1.若IS=50μA則VR=IS*R=50*10-6(A)*2*103(Ω)=0.1(V)此時D仍處于截止狀態,故可量得正確的Rx值.即RM=0.1(V)/(50*10-6(A))=2*103(Ω)=2(KΩ)=Rx.结论:釆用低一檔電流源,可避免D的“限壓”.2021/7/1另外,互換高低點(HI-PIN←→LO-PIN).即IS從DIODE的陰極注入,亦可避免D的“限壓”.互換高低點不可行的情況可能出現在以下連接電路.2021/7/1RX//D//C而對于RX//D//C,見FIGURE7.在TR-518F系列测试仪中,選擇MODE2:HIGH

6、SPEEDFORR//C,因電壓源為0.2VDC,故D仍處于截止狀態,亦可避開D的“限壓”.2021/7/1RX//L(FIGURE13)2021/7/1RX//L若仍以電流源量測Rx.由于L的暫態為由“OPEN”至“SHORT”,其暫態時間不易控制,而穩態時電感相當于“SHORT”,將電流源完全分流,致Vx→0,此時,須以AC來測量,使得L呈現一阻抗值(愈大愈好).再利用相位差即可計算出Rx,見FIGURE14.2021/7/1四點測量適用于小電阻的精確測量.(如為兩點測量,則RM=RAB>RX)2021/7/1電容測試由OSC分別產生1kHZ/10kHZ/100k

7、HZ/1MHZ的AC輸出信號,其振幅均為固定(40mVrms)(FIGURE16)∵VS/IX=XC=∣1/(jωCX)∣=1/(2πfCX)∴量回IX的振幅,即可求得CX.2021/7/1DC法(3μF以上)對于大電容,若使用上述AC電壓源模式測試時,將需要較低頻率來測試,從而增加ICT的測試時間.另外,大電容交流阻抗很小,如此無法判斷電容內部是否有短路發生.2021/7/1此時須以DC測量,見FIGURE17.測試順序(FIGURE18):在被測電容上加載定電流,然后通過測量其積分電壓,計算其電容值.2021/7/1CX//CCM=CX+C≠CX

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