《ICT测试原理》PPT课件

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1、ICT基本测试原理电阻测试原理电容/电感测试原理二极体及IC保护二极体测试原理齐纳二极体测试原理电晶体(三极管)测试原理光藕合元件测试原理电容极性测试原理欢迎访问梦想在线论坛http://dream.guqu.net1.1电阻测试原理1.1.1固定电流源(ConstantCurrent)模式(MODE0)对于不同的电阻值,ICT本身会自动限制一个适当的固定电流源做为测试的讯号源使用,如此才不会因使用都的选择不当,因而产生过高的电压而烧坏被测试元件,故其测试方式为:提供一个适当的固定电流源I,流经被测电阻R,再于被测电阻R两端,测量出Vr,由于Vr及I已知,利用Vr=IR公式,即可得知

2、被测电阻R值,如附图一.RANGECURRENT1欧姆--299.99欧姆5mA300欧姆--2.99K欧姆500uA3K欧姆--29.99K欧姆50uA30K欧姆--299.99K欧姆5uA300K欧姆--2.99M欧姆0.5uA3M欧姆--40M欧姆0.1uAVr=IR(图一:固定电流源方法)RVr欢迎访问梦想在线论坛http://dream.guqu.net1.1电阻测试原理1.1.2低固定电流源(LowConstantCurrent)模式(MODE1)该测试方法和上述固定电流源模式一样,只是在被测电阻于电路上并联(Parallel)着二极体(Diode)或是IC保护二极体(I

3、CClampingDiode)时,对于该电阻两端测量电压值若超过0.5V至0.7V左右时,因为二极体导电的关系,该电阻两端电压将被维持在0.5V至0.7V左右,固无法量测出真正的Vr值,为了解决此问题,只要将原先的电流源降低一级即可.如附图二.RANGECURRENT1欧姆--299.99欧姆500uA300欧姆--2.99K欧姆50uA3K欧姆--29.99K欧姆5uA30K欧姆--299.99K欧姆0.5uA300K欧姆--2.99M欧姆0.1uAVr=IR(图二:低固定电流源方法)RVr欢迎访问梦想在线论坛http://dream.guqu.net1.1电阻测试原理1.1.3交

4、流相位(ACPhase)测试模式(MODE3、MODE4、MODE5)由于电路设计关系,被测试电阻,将会并联着电感等元件,对于此电阻值测量,若使用固定电流源方式测试,电阻值将会偏低而无法测量出真正的电阻值,故使用AC电压源,利用相位角度的领先,及落后方式而得知被测电阻值.故其测试方式为:提供一个适当频率的AC电压源V,同时在被测电阻两端测量出Iz,由于V=Iz*Zrl,因为V及Iz已知,故可得知Zrl,又因为R=Zrl*cosθ,而Zrl及cosθ已知,故即可得知被测电阻R值.如附图三.SIGNALRANGE(L)RANGE(R)1KHz600uH--60H5欧姆--300欧姆10K

5、Hz60uH--600mH5欧姆--40K欧姆100KHz6uH--6mH5欧姆--4K欧姆V=Iz*ZrlR=Zrl*cosθ(图三:交流相位测试方法)RLV欢迎访问梦想在线论坛http://dream.guqu.net1.1电阻测试原理1.1.4快速(High-Speed)测试模式(MODE2)假如被测电阻并联一颗0.3uF以上的电容时,若使用上述固定电流源测试时,需要花费很长的时间,让电容充饱电荷,再去测量出Vr值,而得知R值,如此测试方法将增加ICT测试时间,为解决此问题,可以将固定DC电流源改为0.2VDC固定电压源,直接接于被测电阻两端,如此电容将会在短暂时间内使其Ic=

6、0,故电路上所有电流将流经电阻R.其测量方式为:提供一个0.2VDC电压源,当Ic=0时,再测试流经电阻两端的Ir,因为V=IrR,而V及Ir已知,即可得知电阻R值.如附图四.SIGNALRANGE(L)RANGE(R)1KHz600uH--60H5欧姆--300欧姆10KHz60uH--600mH5欧姆--40K欧姆100KHz6uH--6mH5欧姆--4K欧姆V=Ir*R(图四:交流相位测试方法)RC0.2V欢迎访问梦想在线论坛http://dream.guqu.net2电容/电感测试原理2.1固定AC电压源(ConstantACVoltage)测试模式(MODE0、MODE1、

7、MODE2、MODE)对于不同阻抗的电容或电感,ICT本身会自动选择一个适当频率(frequency)的AC电压源,作为测试使用,其频率计有:1KHz,10KHz,100KHz,1MHz,对于极小阻抗值的电容或电感将需要较高频率的AC电压源,再测量被测元件两端的电压源,由于V=Ic*Zc或V=Il*Zl,而V及Ic或Il已知,故得知Zc=1/2π*f*C或Zl=2πfL,又因f已知,故即可得知电容C或电感L值.如附图五.DEBUGSIGNALCAPACIT