电子元器件通用检验规程

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1、电子元器件通用检验规程1、目的为电子元器件检验提供规范以控制其质量。2、适用范围本检验规范除特殊要求外，适用于所有电子元器件的检验。3、质量特性的分类及定义3.1、质量特性分A、B、C三类：A类质量特性：即关键质量特性，若超过规定的特性值要求，会直接影响产品安全性或产品整体功能丧失的质量特性。B类质量特性：即重要质量特性，若超过规定的特性值要求，会造成产品部分功能丧失的质量特性。C类质量特性：即次要质量特性，若超过规定的特性值要求，暂不影响产品功能，但可能会引起产品功能逐渐丧失的质量特性。4、批的

2、组成与抽样原则以供应方交付批为一批，按抽样标准随机抽样，确保样本具有代表性。A类关键质量特性：抽检，检验水平I，AQL=1.0%批数量抽样量AcRe<2801301281-5002001>5013212B类质量特性：抽检，检验水平II，AQL=1.5%批数量抽样量AcRe<2803212281-5005023>50180345、检验内容与方法检验项目质量特性分类质量要求检验方法测试设备A类1、外包装及标签上的制造商标识、型号等应与要求一致在自然光或良好的光线条件下对封样目检。供应商提供材质说明书，

3、（备案）B类2、包装牢固，细小精密器件无散失在自然光或良好的光线条件下目检。3、样品表面的标识应清楚并与特性要求一致在自然光或良好的光线条件下目检。4、表面应清洁，无损伤，引脚或焊接端面无氧化、松动；在自然光或良好的光线条件下目检。5、封装形式正确在自然光或良好的光线条件下目检。6、管状包装的器件其排列顺序要一致在自然光或良好的光线条件下目检。7、有方向的元器件管状或带装的，其排列顺序要一致在自然光或良好的光线条件下目检。8、元器件表面文字等印刷清晰，印字方向一致，方向标识清晰在自然光或良好的光线

4、条件下目检。7、.不合格及不合格品的分类a)不合格的分类不合格分A、B、C三类，定义如下：A类不合格：单位产品的极重要的质量特性不符合规定，或单位产品的质量特性极严重不符合规定；本公司规定A类质量特性不符合规定为A类不合格。B类不合格：单位产品的重要的质量特性不符合规定，或单位产品的质量特性严重不符合规定；本公司规定B类质量特性不符合规定为B类不合格。C类不合格：单位产品的一般质量特性不符合规定，或单位产品的质量特性轻微不符合规定；本公司规定C类质量特性不符合规定为C类不合格。b)不合格品的分类不

5、合格品分A、B、C三类，定义如下：A类不合格品：有一个或一个以上A类不合格，也可能还有B类不合格和C类不合格的单位产品。B类不合格品：有一个或一个以上B类不合格，也可能还有C类不合格，但没有A类不合格的单位产品。C类不合格品：有一个或一个以上C类不合格，但没有A类不合格，也没有B类不合格的单位产品。8、判定以上检验项目全部合格，则判该批为合格；若有一项不合格，则判该批为不合格。9、注意事项a)包装、标志、运输、储存产品要求进行内包装，并用统一的瓦楞纸箱进行外包装，H型封箱，确保内装物不受损、不污染

6、，符合长途运输包装要求。标志贴于内/外包装的显眼处，标志内容包括：产品名称、货号、生产日期、数量、供应商及表明合格状态的证明等。运输时应防止机械碰撞和日晒雨淋。不得与有霉、有腐蚀性、有害易挥发性或有异味的物品同时运输。产品应储存在整洁、阴凉、干燥的库房内，距离热源要大于1m，堆放整齐。7、其它本检验规范如有新版本下发实施，相关方必须确保版本的有效性。