元器件检验通用标准

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1、完美WORD格式.整理来料检验标准版本：第三版文件编号：WI/HV-12-001受控状态：碳膜电阻修改页：第1页共53页抽样检验标准：依据MIL-STD-105D-Ⅱ；MI：AQL=1.5；MA：AQL=1.0；CR：AQL=0.65MI：次要缺陷MA：主要缺陷CR：致命缺陷序号检验项目检验标准及要求AQL检验方法1外观色环标识色环标识与电阻标称值精度等级是否一一致.用毛刷沾洗板水轻擦色环，不能出现脱色现象。MI目测元件体电阻有无破损，引脚是否氧化。MI目测2尺寸符合产品工程图；符合实际装配。MA钢尺或游标卡尺3电性1.用LCR电桥测

2、量电阻值是否在偏差允许范围内,电阻值小于10K的用串联方式，频率选用100Hz.电阻值大于等于10K的用并联方式，频率选用100Hz。2.分别在高温85℃、低温-20℃、温度93%±3%、100CM高度自由跌落3次，对应R值均符合标称值以及偏差允许范围。3.碳膜电阻误差值：±5%MALCR电桥4可焊性用40W烙铁快速一次上锡，要求焊点饱满，引脚放在230±5℃锡炉中一次上锡面积大于85%。表面色环的颜色不发生变化。MA烙铁小锡炉5材料1.所用材料与样品相符。2.与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。3.外壳用刀片刮取，壳体坚韧度需符

3、合。MA目测、对比样品刀片.专业资料分享.完美WORD格式.整理6包装标识1、包装材料用料正确。2、小包装方式、数量无误。3、装箱方式、数量无误。4、（内包装、外箱）标识单内容正确。MA目测拟制：审核：批准：日期日期日期来料检验标准版本：第三版文件编号：WI/HV-12-002受控状态：金属膜电阻类修改页：第2页共53页抽样检验标准：依据MIL-STD-105D-Ⅱ；MI：AQL=1.5；MA：AQL=1.0；CR：AQL=0.65MI：次要缺陷MA：主要缺陷CR：致命缺陷序号检验项目检验标准及要求AQL检验方法1外观色环标识色环标识

4、与电阻标称值精度等级是否一致。MI目测元件体电阻有无破损，引脚是否氧化。MI目测2尺寸符合产品工程图。MA钢尺或游标卡尺3电性1．室温下用LCR电桥测量电阻值是否在偏差允许范围内，电阻值小于10K的用串联方式，频率选用100Hz；电阻值大于等于10K的用并联方式，频率选用100Hz。2．分别在75℃、-5℃以下、湿度93％±3％、100CM高度自由跌落3次，对应R值均符合标称值及偏差允许范围。MALCR电桥43.金属膜、精密电阻阻值偏差不得超出标称值的上下限。4.金属膜电阻误差值±1％CR.专业资料分享.完美WORD格式.整理5可焊性

5、用40W烙铁快速一次上锡，要求焊点饱满，引脚放在230±5℃锡炉中，一次上锡面积大于85%。MA烙铁小锡炉6材料1、所用材料与样品相符。2、与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。MA目测、对比样品7包装标识1、包装材料用料正确。2、小包装方式、数量无误。3、装箱方式、数量无误。4、（内包装、外箱）标识单内容正确。MI目测拟制：审核：批准：日期日期日期来料检验标准版本：第三版文件编号：WI/HV-12-003受控状态：氧化膜电阻修改页：第3页共53页抽样来料检验标准：依据MIL-STD-105D-Ⅱ；MI：AQL=1.0；MA：AQL

6、=0.65；CR：AQL=0MI：次要缺陷MA：主要缺陷CR：致命缺陷序号检验项目检验标准及要求AQL检验方法1外观丝印色环标识与电阻标称值精度等级是否一致。MI目测.专业资料分享.完美WORD格式.整理元件体电阻有无破损，引脚是否氧化。MI目测2尺寸外形尺寸是否符合产品工程图。MA钢尺或游标卡尺3电性1.用LCR电桥测量电阻值是否在偏差允许范围内，电阻值小于10K的用串联方式，频率选用100Hz；2.分别在75℃、-5℃、湿度93％±3％、100CM高度自由跌落3次，对应R值均符合标称值及偏差允许范围CRLCR电桥4材料所用材料与样

7、品相符MA目测、对比样品5包装标识1.包装材料用料正确。2.小包装方式、数量无误。3.装箱方式、数量无误。4.（内包装、外箱）标识单内容正确。MI目测拟制：审核：批准：日期日期日期.专业资料分享.完美WORD格式.整理来料检验通用标准版本：第三版文件编号：WI/HV-12-004受控状态：AI机用的电阻、二极管引脚标准要求修改页：第4页共53页抽样检验标准：依据MIL-STD-105D-Ⅱ；MI：AQL=1.5；MA：AQL=1.0；CR：AQL=0.65MI：次要缺陷MA：主要缺陷CR：致命缺陷碳膜电阻、金膜电阻、二极管1N4148

8、、二极管1N4007引脚直径序号检验项目检验标准及要求AQL检验方法1电阻引脚1．1/4W碳膜、金膜电阻引脚直径要求必需达0.43-0.5mm2.1/4W电阻要求带编带（26mm），编带中间电阻引脚的两端尺寸为26mm，