spc 统计过程控制作业指导书

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1、福建正闽钢圈制造有限公司统计过程控制作业指导书　　　　　　　　　（SPC）编号：JS-WI-003版本：A/0编制：　　蒋可能　审核：　　高书辉　　批准：　　　1目的提供SPC的使用准则及步骤，并说明使用方法，以便在运用控制图时能够正确地决定、检讨控制界限与进行控制图的判读。2范围X-R控制图、P控制图、Cpk（制程能力指数）的运用管理。3定义3.1计量值特性　　凡产品的品质特性以实际量测方式取得的特性称为计量特性，例如重长等。　3.2计数值特性凡产品的品质特性不连续，不易或不能以实际量测方式取得，只能间

2、断取值的特性，例如不合格数、不良品率等。4职责4.1相关部门：SPC的运用与维持。4.2工程部：SPC的使用的规划。5作业指导5.1控制图使用规划及选择原则5.1.1使用规划由QA及工程部根据各制造工序影响因素及质量影响因素，结合成本及效益，全面规划需采取控制图控制的工序和产品特性。5.1.2选择原则5.1.2.1计量值特性选用X-R控制图。5.1.2.2计数值特性选用P控制图。5.2控制图绘制、使用步骤5.2.1首次使用控制图的作业程序5.2.1.1决定须控制的特性。5.2.1.2搜集25组数据。5.2

3、.1.3计算中心线(平均值)及控制上、下限。5.2.1.4绘制控制图。5.2.1.5检查是否有超出控制界限的点5.2.1.6将这些超出控制界限的资料剔除并重新计算中心线(平均值)及控制上、下限。5.2.1.7决定控制图的中心线(平均值)及控制上、下限。5.2.2现场使用控制图的作业程序5.2.2.1在新的控制图纸划出控制图的中心线(平均值)及控制上、下限。5.2.2.2依规定的抽样频率及抽样数，并将所得资料记录于控制图上，且依所使用的控制图种类进行计算。5.2.2.3将计算结果描点于控制图上。5.2.2.

4、4控制图判读及异常控制图纠正/预防措施5.2.2.5检讨控制界限5.2.2.5.1当完成一张控制图时，根据控制图图纸上的资料重新计算中心线（平均值）及控制上、下限。计算时须剔除超出控制界的资料。5.2.2.5.2比较计算前后之中心线（平均值）及控制上、下限。5.2.2.5.3若无重大差异时在新的控制图纸延用计算前的中心线（平均值）5.2.2.5.4若有明显的差异时，可在新的控制图纸使用计算后的控制中心线（平均值）及控制上、下限。5.3控制图判读原则及异常控制图的纠正/预防措施5.3.1正常之控制图其各点的

5、动态为：5.3.1.1多数的点集中在中心线附近。5.3.1.2少数的点落在控制界限附近（但未超出控制界限）。5.3.1.3各点的分布呈随机状态，无任何规则可循。5.3.2异常控制图的判读5.3.2.1任何超出控制限的点5.3.2.2连续7个点在中心线之上或之下5.3.2.3连续7个点上升或下降5.3.2.4任何其它明显的非随机图形，如2/3的描点应落在控制限1/3的中间区域，描点成规则形状。5.3.3异常之控制图的纠正/预防措施5.3.3.1出现任何超出控制界限的点，都应提请相关单位进行原因分析，并采取纠

6、正措施。5.3.3.2对于连续7个点在中心线之上或之下，或连续7个点上升或下降，或其它明显非随机图形，都应提请相关部门分析原因，留意趋势采取相应预防措施。5.3.3.3如相关责任部门无视不良现象的存在或长期行动无效果,必要时发出《纠正/预防措施要求书》要求其改善。5.4X－R控制图的使用方法X－R控制图是以控制平均值（X控制图）与全距（R控制图）的方式达到管制的目的。5.4.1决定样本数5.4.1.1使用X－R控制图的样本数（n）以2~5个为适当，但不要超过10个为宜。5.4.1.2样本数一经决定后必须在

7、使用时固定不变。5.4.2平均值与全距的计算5.4.2.1平均值（X）=各组内数据的和÷样本数。5.4.2.2全距（R）=各组内的最大值－最小值。5.4.3X控制图与R控制图之中心线与控制上、下限的计算公式。5.4.3.1X控制图之中心线与控制上、下限的计算公式：5.4.3.2R控制图之中心线与控制上、下限的计算公式：5.4.3.3X－R控制图的系数表N2345678910A21.881.020.730.580.480.420.370.340.31D21.131.692.062.332.532.702.8

8、52.973.08D30.080.140.180.22D43.272.572.282.112.001.921.861.821.785.5P控制图的使用方法　　　P控制图是以控制不良率的方式达到控制的目的。5.5.1决定样本数5.5.1.1使用P控制图的样本数（n）以能够发现1-5个不良品最为适当，样本数的决定公式为：5.5.1.2若未决定样本数，导致控制下限小于0，则下限取0。5.5.2控制图的控制界限必须依控制上、下限公式计