spc 统计过程控制

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1、SPC统计过程控制(StatisticProcessControl)一、定义于1924年美国品管大师W.A.Shewhart休哈特博土发明。它是生产过程中品质状况的一种记录图表，用于连续生产中，它能判断生产过程中是否有异常，提供异常因素存在的信息，便于查明异常原因并采取措施，使生产过程达到控制状态。它是一种动态的控制图表，经济而有效的品质控制方法之一。在控制图上有三条横线，中心的一条为中心线（CentralLine-CL)，一般用蓝色实线绘制,在上面的一条称为上控制界线(UpperControlLimit–UCL),在下面的一条称下

2、控制界线(LowerControlLimit-LCL)，用红色虚线绘制，是表示变异的范围。二、原理1，品质变异的原因：A.机遇原因(偶然)：不可避免的原因，非人为的原因，共同原因，偶然原因，一般原因，是属于控制状态的变异。B.非机遇原因(异常)：原因分类变异的情形对产品的影响是否值得查原因机遇原因一定有，而且很多无法避免微小，不明显不值得非机遇原因很少或没有，或不允许存在明显而巨大值得而且可以找到可避免的原因，人为原因，特殊原因,异常原因，局部原因等。此种原因，应采取行动，使工序恢复正常，进入控制状态。 三、控制界线之构成与规格界线

3、之关系控制图用平均加减三个标准差（±3s）作为控制界线，以判断生产是否存在问题发生。当实际值在±3s的控制界线以内，就表示99.73%机率是良品。 m+Ks在内之出现率在外之出现率m+s68.26%31.74%m+2s95.45%4.55%m+3s99.73%0.27%２３四、种类1、依数据之性质来分类：A、计量值控制图如长度、重量、成分等特性均为连性者，最常用之此种控制图有：1）-R控制图（平均值与全距控制图）2）-s控制图（平均值与标准差控制图）3）-R控制图（中位数与全距控制图）4）X-Rm控制图（个别值与移动全距控制图）5）

4、L-S控制图（最大值与最小值控制图）B、计数值控制图如不良数、缺点数等间断数据者，最常用有：1）P控制图（不良率控制图）2）Pn控制图（不良数控制图或nP控制图，D控制图）3）C控制图（缺点数控制图）4）U控制图（单位缺点数控制图） 2、依用途来分类：A、控制用控制图用于实际的生产品质控制，可及时的发现生产异常情况。B、分析用控制图用于品质和工程分析，研究工序或设备状态。五、控制图的绘制方法 1、-R控制图1）收集100个以上数据，依测定时间顺序或群体顺序排列。2）把2-5个（一般4~5个即N）数据分为一组（约20~25组即K）3）

5、把数据记入数据表中。4)计算各组平均值~取比测定单位小一位数5)计算各组的全距R R=Xmax-Xmin6)计算总平均（控制中心线）~取比测定单位小两位数 7)计算全距平均8)计算控制界线X控制图：中心线（CL）=上控制界限（UCL）=下控制界限（LCL）=R控制图：中心线（CL）=上控制界限（UCL）=D4２３下控制界限（LCL）=D3*A2，D4，D3可由系数表查得。 9)绘控制界限，并将点描入图中2、P控制图1.)   收集20~25组数据,依测定时间顺序排列.2.)   把数据记入数据表中3.)  计算平均值~取比测定单位小

6、一位数4.)  计算控制界线中心线:CL=上控制界限下控制界限  3、其它控制图的绘制： 其它控制图的绘制方法同P-chart/X-BarRchart控制图步骤，只是公式不同六、控制图的判断方法1)、正常状态:A.多数点集中在中心线附近B.少数点落在控制界线附近C.点分布呈随机状态，无任何规律可循D.下列情况也可视为在控制状态(1)连续25点以上出现在控制界线以内(2)连续35点中，出现在控制界线以外不超过1点(3)连续100点中，出现在控制界线以外不超过2点2)、异常状态:A、连续7点或更多在中心线同一侧B、连续7点或更多点呈上升

7、或下趋势C、连续11点中至少有10点在中心线同一侧D、连续14点中至少有12点在中心线同一侧E、连续17点中至少有14点在中心线同一侧F、连续20点中至少有16点在中心线同一侧G、连续3点中至少有2点或7点中至少有3点落在二倍与三倍标准差控制界线之间七、使用控制图注意事项1、控制界限千不可用规格值代替2、使用控制图前，现场作业必先标准化3、XbarR控制图每组数据取N=4~5最合适4、要使控制图发挥效用，使CP值>1以上5、点超出界限或异常状态，必利用各种措研究改善，找出异常原因，加以消除八、控制图应用前应考虑的问题 1、应用控制图

8、应具备的基本条件1）、企业的基础管理比较稳定2）、企业的生产过程比较稳定3）、职工（特别是技术人员）应接受统计技术的系统培训4）、具备统计技术应用所需要的技术，资源条件２３2、应用条件（什么情况下可以应用控制图）1）、控制对象可以是质