数字电路测试系统说明.doc

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1、台湾德律TR-6010逻辑器件测试机 概述：·专为10MHz逻辑IC测试机,具有FunctionPattern测试,  Dc参数量测等功能硬件结构：特性：·2M的向量存储器深度·可4组并行测试·完整的功能Pattwen和DC参数测试·驱动电压：+-8V，比较电压：6V·具有ShmooPlot工具,用于器件特性分析·测试程序调试工具·完善的测试诊断报告和柱状图·TTL和GPIB接口,可直接连接至prober和handler·紧凑小型，易安装资源配置：·测试操纵器：奔腾III以上PC·系统软件：MS-DOS·电源要求：（1）单相交流，AC1

2、10V10A/50-60Hz         （2）单相交流，AC220V6A/50-60Hz性能参数：·测试频率：10MHz·周期速率：100nS-1.31mS·周期分辨率：20nS·测试通道：最大128个·多组测试：2/4组并行测试·闸门模式：边沿式·测试向量深度：2M·驱动器：VIH：+-8V分辨率：5mV·VIL：+-8V分辨率：5mV·比较器：VOH：+-8V分辨率：5mV9/9·定时器：4Pins/TG·定时器分辨率：10nS·VOL：+-8V分辨率：5mVPMU：1组/板卡，最大8组施加电压/测量电流范围：级不电压精确度分

3、辨率010V+%+-5mV2.5mV110V+%+-5mV2.5mV210V+%+-5mV2.5mV310V+%+-5mV2.5mV施加电流/测量电压范围：HVPMU：2组/板卡，最大16组施加电压/测量电流范围：施加电流/测量电压范围：日本VTT公司V777大规模集成电路逻辑测试系统（一）9/9 概 述                                          ·10MHz的测试频率，128个测试通道，   4M字节向量深度的大规模LSI测试系统 系统尺寸 ·主框架：580(W),750(D),1200(H)或

4、1850(H)毫米 ·测试头：580(W),340(D),250(H)毫米 ·电缆长度：4米测试器操纵器                      ·处理器AMD-K6-500·操作系统MS/DOSV·内存32MB·硬盘4.0GB·软盘3.5英寸1.44MB 接口板·标准接口板针对探针机和机械手·GPIB接口板选项PIN电子性能·标准64PIN·全系统128PIN或64PIN*2DUTS软件包                    ·语言C(库:TURBOC)·工具软件 SCHMOO          HISTOGRAM        

5、  WAFERMAP·测试程序转换器  ANDO-SUMMIT至V7100(主程序和波形程序)   SENTRY至V7100(波形程序)   CREDENCE-SC212至V7100(波形程序)   ADVANTEST-MOSPL至V-7100(波形程序)驱动器                        ·输出电压VIH0V至+11V  VIL-2V至+8V·电压摆幅100mVp-p至11Vp-p·精度0.5%+5mV·分辨率2.7mV·最大DC电流输出="H"±20mA输出="L"±20mA·总时钟精度(NRZ格式)±5ns(最大

6、)·时滞 (NRZ格式)有关PINS±5ns(最大)·有关TGS±4ns(最大)·上突波/下突波3%+50mV·VIH/VIL级不4级不9/9·阻抗50±5%ohm·升/降时刻 驱动器模式<5ns/5Vp-p   (20%至80%) I/O模式<5ns/5Vp-p·驱动器模式FIX-HI,FIX-LO,NRZ,/NRZ,   RZ,/RZ,R1,EXOR,/EXOR,·无调制·时钟的限制参照图1  条件:10Mohm和15pF载荷9/9安捷伦83000数字电路测试系统 描述：特性和用途：·用于Credence的ElectraMSR100

7、MHz机台上，依照客户器件封装尺寸设计制作专用的定制型测试接口板，有效解决高速信号干扰之问题。规格：长（L）*宽（W）*厚（H） 9/9 9/9安捷伦93000SOC测试系统 概述                                     ·测试系统具有数字、模拟、存储器、射频（RF）模块（可选件）的功能测试和参数测试·支持扫描测试·支持IDDQ测试·测试系统具有可升级性和可扩展性参数: 9/9（1）系统操纵平台 ·HPC3750UNIX工作站 ·内存2GB ·硬盘36GB ·HPp113021”高分辨率纯平彩色显示器 ·

8、配备DVD光盘驱动器 ·配备磁带机 ·配备10M／100MEthernet接口 ·操作系统HP-UXB11.11（2）数字功能指标 ·数字通道:256 ·数据速率：660Mb/s ·向量存储深度：14M ·