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时间:2019-11-17
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1、《数字逻辑技术》实验学生指导书参考教材《电子技术基础实验-分析、调试、综合设计》王传新主编,高等教育出版社实验要求及注意事项1、实验前必须预习实验内容,做到思路清晰,实验任务明确。2、实验时认真阅读实验指导书,按电路原理图正确连接实验导线,仔细检查无误,方可通电实验。3、实验中多注意观察,如冇元器件冒烟、发烫或冇异味等应立即关断电源,报告实验老师,待找岀原因、排除故障后才能重新实验。4、实验屮须更改连线,必须切断电源后才能进行。5、实验中应仔细观察实验现象,认真记录实验结果、数据、波形、分析正确与否。6、实验结束关闭电源,拔除电源插
2、头,并将仪器设备、工具、导线等按规定整理好。数字集成电路与封装(1)数字集成电路分类•小规模数字集成电路(SSIC)•中规模数字集成电路(MSIC)•人规模和超人规模数字集成电路(LSIC和VLSIC)(2)数字集成电路制造工艺•中、小规模数字IC中最常用的是TTL电路和CMOS电路。•TTL器件型号以74(或54)作前缀,称为74/54系列,如2输入与非逻辑门为74LS00等。•中、小规模CMOS数字集成电路主要是4XXX/45XX(X代表0-9的数字)系列,高速CMOS电路HC(74HC系列),与TTL兼容的高速CMOS电路HC
3、T(74HCT系列)。,如2输入与非逻辑门为4011。•TTL电路与CMOS电路各有优缺点,TTL速度高,CMOS电路功耗小、电源范围大、抗干扰能力强。由于TTL在世界范围内应用很广,所以在数字电路教学实验中,我们主要使用TTL74系列电路作为实验用器件,采用单-+5V作为供电电源。(3)中、小规模数字集成电路封装形式数字IC器件有多种封装形式。为了教学实验方便,实验屮所用的74系列器件封装选用双列肓插式。•从正而(上而)看,器件一端有一个半圆的缺口,这是正方向的标志。缺口左边的引脚号为1,引脚号按逆时针方向增加。图中的数字表示引脚
4、号。双列直插封装IC引脚数冇14、16、20、24、28等若干种。•74系列器件一燉左下角的最后一个引脚是GND,右上角的引脚是VCCo例如,14引脚器件引脚7是GND,引脚14是VCC,但也冇一些例外。所以使用集成电路器件时要先看清它的引脚图,找对电源和地,避免因接线错误造成器件损坏。(4)数字集成电路使用注意问题必须注意,不能带电插、拔器件。插、拔器件只能在关断电源的情况下进行。实验1门电路逻辑分析与设计实验1.1实验基本目的1、掌握TTL普通门电路的使川方法。2、掌握小规模数字集成电路组成组合逻辑电路的基本分析方法。3、掌握小
5、规模数字集成电路组成组合逻辑电路的基本设计方法。4、了解小规模数字集成电路组成组合逻辑电路的基本调试方法。1.2实验任务1、TTL四2输入与非门74LS00逻辑功能分析(参考实验教材P303)(1)选用一个与非逻辑门,进行2输入与非逻辑功能分析。(2)参考图6.1.6连接电路,在实验板创建2输入与非逻辑功能分析电路,改变开关4、B状态,用数字万用表测量电路输出,将测试结來记入表6.1.7中。IdE□□叵叵叵一迟2rGND条454/<4rM%3y^回回刃回可I]oos」s(8)(b)图6.1.6表6丄7实验输入输出操作〃a/V(A键)
6、〃b/V(B键)典型值/V实测值/V逻辑值100205350455(3)仪器仪表:直流稳压电源+5V、数字万用表。(4)元器件:74LS00(四2输入与非门)。2、分析“三个开关控制一盏灯”电路(参考实验教材P318)(1)参考图6.2.5,在实验板创建“三个开关控制--盏灯”电路。图6.2.5(2)转换开关A、B、C位置,检测发光二极管输出状态,将测试结果记录到白拟的表格屮。(3)根据检测结果,分析电路逻辑功能。(4)仪器仪表:直流稳压屯源+5V、数字万用表。(5)元器件:74LS86(四异或门)、300Q、发光二极管。3、设计多
7、数表决电路-“与非”逻辑门实现(参考实验教材P318)(1)采用“与非”逻辑门,设计三人表决电路。要求:当三人中多数对表决事件表示同意时,多数表决电路指示灯亮。(2)在实验板创建三人多数表决电路。(3)检测发光二极管输出状态,将测试结果记录到口拟表格中,验证设计的正确性。(4)选用器件:74LS00(四2输入与非门)、74LS10(三3输入与非门)。(5)选丿IJ仪器仪表:直流稳压电源+5V、数字万用表或发光二极管。1.3预习内容1、TTL与非逻辑门基本功能。2、小规模数字集成电路组成纽合逻辑电路的基本分析方法。3、小规模数字集成电
8、路组成组合逻辑电路的基本设计方法。4、利用Multisim电了电路辅助分析和设计软件完成实验内容2。5、利用Multisim电了电路辅助分析和设计软件完成实验内容3。实验2典型组合逻辑电路分析与设计实验2.1实验目的1、掌握3线-8线
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