集成电路测试系统

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1、LYB-100集成电路测试系统TL431可调精密并联基准测试仪使用说明手册辽阳仪器仪表高新技术有限公司一、概述本测试仪能够测试TL431可调精密并联稳压器的基准电压Vref、基准电压变化对稳压电压变化比率△Vref/△Vka、基准端电流Iref、最小稳压电流Imin、关断漏电流Ioff、动态阻抗

2、Zka

3、等参数。本测试仪具有人工测试和接机械手自动多项参数测试等测试方式。人工测试时，与测试盒相连，在测试状态下，插入器件后，就开始测试，由人工进行分选；自动测试时与机械手分选台相连，由机械手分选台输出的“开始测试信号”控制，本测试仪根

4、据用户预先设定好的相关参数，对器件进行测试，并把分档结果送与机械手分选台。本测试仪内部预置可修改的方案，开机即可进行测试，测试结束后能够浏览测试结果。本测试仪适合于ＩＣ生产厂家对TL431进行大批量测试，也适合于ＩＣ应用厂家的筛选测试。二、指标1、测试分辨率项目显示分辨率基准电压：0.001V基准电压变化对稳压电压变化比率：0.01mV/V基准端电流：0.01μA最小稳压电流：0.01mA关断漏电流：0.1nA动态阻抗：0.01Ω2、各项测试时间项目测试时间基准电压：Vref≤20mS基准电压变化对稳压电压变化比率1：dUU1≤

5、50mS基准电压变化对稳压电压变化比率2：dUU2≤50mS基准端电流：Iref≤50mS最小稳压电流：Imin≤150mS关断漏电流：Ioff≤450mS动态阻抗：Zka≤50mS13、硬件指标快速电压源：≤40V分辨率：0.1V可编程恒流源：≤120mA分辨率：0.01mA高速测试芯片:分辨率:16位三、原理图1:测试原理图一图2:测试原理图二2图3:测试原理图三图4:测试端口接线图图1原理可以测Vref、Imin、

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7、图2原理可以测△Vref/△Vka、Iref图3原理测Ioff测试条件参见附录2。3四、面板：前面板

8、图2图41、指示灯及数码显示指示灯：òCOUNT:显示计数值状态òRESULT:显示测试结果òCONDITION:显示测试条件òLIMIT:显示结果限值òON_OFF:显示项目测否òSETUP:指示设置参数状态òTESTING:指示测试状态òAUTO:指示为自动测试方式òMANUAL:指示为人工测试方式òCALIBRATION:指示计量状态V:电压单位伏mV:电压单位毫伏Ω:电阻单位欧姆nA：电流单位纳安μA：电流单位微安mA:电流单位毫安数码管：数码管显示分成三个区域：前部数码显示测试项目、中间数码显示相关选项、后面4位数码显

9、示数值。测试项目：(ITEM)对应Vref对应△Vref/△Vka1（10V--Vref）对应△Vref/△Vka2（36V--10V）对应Iref对应Imin对应Ioff对应

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11、相关选项(CASE)基准电压分档数目5基准电压分档起点基准电压1档基准电压2档基准电压3档基准电压4档基准电压5档基准电压6档测试器件不合格调节电压高调节电压低调节电压阴极电流大阴极电流小阴极电流结果上限值测试该项不测该项2、开关及键盘开关EN:是否允许进行参数设置。键盘MEUN:循环切换显示“测试结果RESULT”、“测试条件6CONDITIO

12、N”、“结果限值LIMIT”、“项目测否ON_OFF”菜单。ITEM:循环切换显示“基准电压Vref”、“基准电压变化对稳压电压变化比率dUU1”、“基准电压变化对稳压电压变化比率dUU2”、“基准端电流Iref”、“最小稳压电流Imin”、“断态漏电流Ioff”、“动态阻抗

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14、”等测试项目。CASE:循环切换显示相关的选项。MODE:切换人工、自动测试方式。SETUP:进入/退出设置参数状态。CALI:进入/退出计量状态。TEST:进入测试状态。COUNT:进入/退出察看测试器件数量状态。ESC:退出测试状态。ENTER

15、:保存参数。↑:增↓:减←:左移→:右移3、测试端口参见图4。SHELL端接本测试仪外壳。COM端为内部测试公共端。4、机械手接口25D插座针脚定义：1第一档BIN110mSTTL低电平2第二档BIN210mSTTL低电平3第三档BIN310mSTTL低电平4第四档BIN410mSTTL低电平5第五档BIN510mSTTL低电平6第六档BIN610mSTTL低电平7第七档BIN710mSTTL低电平8不合格档10mSTTL低电平9分选结束信号EOT10mSTTL高电平10空11开始测试信号START大于1mSTTL高电平脉冲有效

16、12空13地GND14到25空75、串行接口2脚：RxD、3脚：TxD、5脚：GND五、操作1、设置测试条件拨动左上部的“EN”开关，“EN”灯亮，此时“SETUP”键有效。按“SETUP”键，进入参数设置状态，“SETUP”灯亮，数值某位闪烁。在参数设置状态，