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时间:2020-05-22
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1、集成电路RFID芯片测试系统设计与实现王卓(航天信息股份有限公司技术研究院,北京市100195)【摘要】RFID测试系统的设计与实现是进一步提升RFID芯片的必然要求,在今后工作过程中对于这项工作应该保持高度重视。本文将主要探讨一种基于ISO14443A协议的非接触式集成电路芯片的功能测试系统。该系统的实现对于保证系统具有重要的意义。测试系统的设计和实现是一个专业的过程,对于这个过程必须要严格按照设计规范来操作。【关键词】RFID;测试系统;集成电路;ISO14443A协议【中图分类号】TN407【文献标识码】B【文章编号】1006—4222(2014)15—0022
2、—021绪言题.在本次设计过程中设计人员主要采用的是具有标准接口通信的芯片.这类芯片的使用将能够实现直接握手通信,能够近些年来,我国的电子信息产品市场获得了较快发展,尤直接传递接收数据包。从而最终能够判断出被测单元指令的其是ATE设备得到了迅速地发展壮大。这是一种通过计算机执行进度。这是新型测试系统的典型优势。传统测试系统在这来实现对电路板、各种器件以及子系统进行控制的设备。当前的ATE系统虽然得到了较快发展,但是还存在着一系列问方面还有不少差距.传统测试系统同芯片的通信是通过连接题.最为典型的问题就是操作设置的非常复杂化、高性能在一外围单元.再连接通信芯片模块来实现
3、的。这样的方式通信效率必然会受到影响。本次设计与以往不同的是要在芯片Tvss、定程度上甚至会造成严重浪费。这些问题如果得不到解决就会严重影响到系统性能在这样的背景下加强新型测试系统TX1连接EMC模块和耦合电容之后.要接入芯片测试引脚。的研究就具有极强的现实意义了。本文将着重研究某款RFID这样才能够实现系统的各项功能耦合模式及耦合电压的调节是硬件设计的重要环节。本芯片成品测试系统测试系统设计过程中主要是采用直接耦合模式和非接触式耦2硬件实现合模式两种形式耦合电压的调节则是通过电容调节的方式针对集成电路RFID芯片测试系统的设计,主要是分成硬来实现。对于上述工作需要引
4、起高度重视.正是因为用这种方件设计和软件设计两部分。本文将先从硬件设计开始。测试系式进行调节才能够使得芯片Vddp能够达到启动电压,从而能统中的硬件主要是包含485通信模块、单片机控制模块、够更加适应测试不同的产品。此外在设计过程中还需要高度ReaderChip(RC522)硬件部分。关注PCB板设计,针对PCB板要专门设置相应的接口。通常测试系统硬件设计的主要目的就是要能够通过单片机来情况下不同的拨码位置应该对应不同的直接耦合测试模式以推动ReadChip收发信号.同时还要执行不同的ease功能操及非接触测试模式。为了方便在线调试.设计工作过程中耦舍作。Chip在接
5、收到信号之后就要启动case操作。总的来看测电路还需要设置手动调节部分。这样的设计可以有效保证系试系统中整体硬件测试板采用的是可插拔叠加分离单独测试统的性能.如图2单元,通过该系统将能够适用不同要求。硬件电路中包含多个子电路,包含多个不同的功能模块。读写芯片模块、电源保护模块、芯片控制电路、外围电路模块、USB烧录电平转换模块、外围电路模块以及射频调节是其中最为常见。也最起作用的模块。对于以上模块我们需要高度重视。芯片控制负责用来收发由上位机发出来的指令同时还要传递给读写芯片.而芯片模块指令则是要执行待测芯片的通信指令。系统中电源保护模块的主要作用是要提供板上电源和短
6、路保护。射频外围电路则是要用来调节载波峰值。USB电平转换模块的主要功能是为了烧录电平的转换。实际工作过程中对于上述各个模块的不同功能需要有深入了解.如图l图2耦合电路图3软件实现软件设计是系统设计的重要组成部分.针对系统的软件设计要严格按照既定步骤来进行设计。润建设计的主要目的就是要设计上位机程序和下位机程序。系统软件的主要功能就是要能够实现同探针台通信交换指令及数据源系统中上位机和下位机分别承担着不同功能.下位机的主要功能是要图1读卡器结构图进行执行操作和数据交换。上位机的主要功能则是要负责对测试系统和测试芯片的通信是系统设计的一个重要问USB/串口和GPIB通讯
7、口的通信、监听和扫描信号上位机和蓠下位机两者程序的编写方式也是不一样的,上位机是用VSC#零.如果全为零则表示这是正常的。为了保证操作的顺利完成来进行编写.而下位机则是通过STC—ISP在线烧录更改程序。还可以适当延长bit写入值Delaytime。底层的实现方式是:测试系统中上位机最终要通过232转848总线来进行连接.status=PcdWrite(1,&UIDBufer[number]);此外还需要同探针台GPIB接口联通。//一一一一一一一一一一number对应不同的Bufer[1系统的测试流程。了解系统测试流程是进行科学地软件delay一1
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