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《全反射X射线荧光光谱法同时测定复混肥料中钒铬锰铁镍铜锌铅》由会员上传分享,免费在线阅读,更多相关内容在行业资料-天天文库。
1、2012年1月岩矿测试Vo1.31.No.1February2012ROCKANDMINERALANALYSIS142~146文章编号:0254—5357(2012)01—0142—05全反射x射线荧光光谱法同时测定复混肥料中钒铬锰铁镍铜锌铅王凯,金樱华,李晨,闵红,屠虹(上海出入境检验检疫局,上海200135)摘要:样品经硝酸微波消解,以镓为内标,采用全反射X射线荧光光谱法(TXRF)同时测定复混肥料中的钒、铬、锰、铁、镍、铜、锌、铅,方法检出限从铅的1.0g/g到钒的7.0tLg/g,精密度(RSD)铬为2.5%,铅为16%,
2、除铅以外,其余元素的RSD均小于10%;方法回收率为80%~120%,Pb的回收率略低主要是由于化肥中AsK仅谱线对Pb谱线的干扰导致测定结果偏低。用TXRF和电感耦合等离子体发射光谱法(ICP—AES)测定不同复混肥料中各元素的含量,经统计检验,两种方法测定结果在95%置信区间内无显著性差异。对于金属元素含量较高的样品,TXRF法测定结果的相对标准偏差小于ICP—AES法。对于不同的复混肥料,在微量、痕量元素检测范围内,TXRF法具有较高的准确度和适用性,仪器使用和维护成本低,方法快速准确。关键词:复混肥料;微波消解;全反射x射
3、线荧光光谱法;电感耦舍等离子体发射光谱法中图分类号:0657.34;S14文献标识码:BSimultaneousQuantificationofV,Cr,Mn,Fe,Ni,Cu,ZnandPbinCompoundFertilizersbyTotalReflectionX-rayFluorescenceSpectrometryWANGKai,jINYing—hua,LIChen,MINHong,TUHong(ShanghaiEntry-ExitInspectionandQuarantineBureau,Shanghai200135,
4、China)Abstract:Inthiswork,galliumwasusedasaninternalstandardandV,Cr,Mn,Fe,Ni,Cu,Zn,PbincompoundfertilizersweresimultaneouslydeterminedbyTotalReflectionX-rayFluorescenceSpectrometry(TXRF)aftermicrowavedigestionwithnitricacid.Thedetectionlimitsofthismethodrangefrom1.0g/
5、gforPbto7.0txg/gforV。TheRSDofal1elementswerelessthan10%,exceptforPb,whichwas16%.Therecoverieswere80%一120%.ThelowerrecoveryofPbwascausedbytheinterferenceoftheAsKoLspectrallinewiththePbLolspectralline.TheresultswerecomparedwithInductivelyCoupledPlasma-AtomicEmissionSpec
6、trometry(ICP—AES)andtherewerenostatisticallysignificantdifferencesbetweenthetwomeasurements,withinaconfidencerangeof95%.TheRSDobtainedbyTXRFwaslessthanthatbyICP—AESforhighcontentsofmetallicelementssamples.TheresultsfordifferentcompoundfertilizersshowthattheTXRFtechniq
7、ueisaccurateandapplicableinthedeterminationofvariouslymetallicelements.ItisinexpensivetouseandmaintaintheTXRF.Theestablishedmethodisrapidandaccurate.Keywords:compoundfertilizers;microwavedigestion;totalreflectionX—rayfluorescencespectrometry;inductivelycoupledplasma—a
8、tomicemissionspectrometry收稿日期:2011—06—02;接受日期:2011—08—05基金项目:国家质量监督检验检疫总局项目(201IIK040)作者简介:王凯,工程师,主要从事全反射x射线荧光光谱分析工作。E-mail:
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