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时间:2019-05-15
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1、复旦大学硕士学位论文多能级闪存的辐射效应研究姓名:孟宣华申请学位级别:硕士专业:材料物理与化学指导教师:肖斐20030425摘要多能级闪存是近年来出现的一种理想存储介质,兼顾了EPROM密度高以及EzPROM易进行电操作的优点,广泛应用于计算机等领域。自从9.11事件以来,为了确保安全,机场和邮局均开始使用辐射系统进行安全质检,已有报道称这些辐射会对数码相机、手提电脑等半导体产品里面的存储介质产生损害,造成存储介质上数据的丢失。研究这些存储介质的辐射效应,对其进行辐射加固,显得刻不容缓。本文丰要研究了Y射线和x射线辐射对多能级闪存的阈值电压变化及其分布、特性曲线、漏电流等的影响,并研
2、究了辐射后的多能级闪存在不同温度下的退火效应。就辐射和退火对多能级闪存产生的各种变化给予了合理的解释。Y射线和x射线辐射都会对多能级闪存的性能造成影响。“00”、“01”、“10”三种:状态的阈值电压随着剂量的增加而下降,而“1l”状态的阈值电压在小剂量辐射后上升,剂量足够大时下降,当剂量足够大时,所有状态的阂值电压趋于相同。退火对多能级闪存的性能有一定的恢复作用,高温退火效果好于低温,高剂量辐射后的退火要好于低剂量辐射后的退火。关键词:多能级闪存,辐射效应,Y射线辐射,x射线辐射,浮栅AbstractMulti—levelflashmemoryhasrecentlyemergeda
3、sallidealstoragemediumwhichcombinesthedensityofEPROMwithelectricalerasabilityofE‘PROM,andnOWiSwidelyusedinapplicationssuchascomputersystems.etc.However,sincethe9.1lattackinUS.airportsandpostalservicebegantousepowerfulirradiationsystemsoutofsecurityconsideration.ItiSreportedthatallthesewillirrev
4、ocablydamageflashmemory,causinglOSSofdataandrenderingthecardsinoperable.Therefore,itiSurgenttoinvestigatetheirradiationeffectsonelectronicdevices.Inthispaper,Multi-levelflashmemoriesexposingtObothYrayandX—rayirradiationarestudied.TheimpactsofirradiationOnthedevice’Sparametersareinvestigated,inc
5、ludingthethresholdvoltageshiftsanditsdistributioninablock,characteristiccarveandleakagecurrent,etc.Besides,theannealingeffeetatdi髓renttemperaturesiSalSOstudied.Areasonableexplanationabouttheeffectsofirradiationandamlealonthemulti—levelflashmemoriesiSgiven.BotllgammarayandX—myirradiationshaveani
6、mpactontheperformanceofmulti—levelflashmemories.Withthedoseincreasingforbo也rays、theVTdecreasesforstateof“00”.“01”and“10”.whileincreasesatlOWdoseanddecreasesathighenoughdosefor“1r’state.WhenthetotaIdoseiShighenough,alltheVThasatendencytoaconstantvalue.TheauneaIprocesshasareboundeffecttotheperfor
7、manceofmulti-levelflashmemory.Thehighertemperaturerecoversmorethanthelowertemperature.ThehighertotaldosealSOhasabetterrebounde恐ct也allthe10werdose.Keywords:multi—levelflashmemory,irradiationeffects,gammarayirradiation,Xrayirradiati
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