集成运放参数测试仪设计报告 郭天祥

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1、试题编号B……………………………………………………………………………………试题编号B集成运放测试仪设计报告学校：哈尔滨工程大学姓名：郭天祥姓名：杜勉柯姓名：于振南集成运放参数测试仪设计报告内容摘要：本文介绍了运算放大器闭环参数的测试原理，分析了影响运算放大器闭环参数测试精度和稳定性的诸多原因和因素，及所采取的针对性措施，还探讨了闭环参数的测试精度、测试稳定性和测试适应性的评价问题。此系统以凌阳16位单片机为核心，采用凌阳的片载AD与DA使系统简洁功能强大。输出采用240128LCD显示，可以显示多种字符及图形，拥有友好的人机界面及强大的显示功能。特别适用于智能控制的可编程人性化显

2、示，并实现了菜单式中文图形界面，增强了系统的易用性。系统采用MAX038作为信号源，可以输出一定范围内的任意频率可调，灵活易用。外围单片机采用AT89C55单片机进行液晶屏的控制，键盘的驱动等。Thistextintroduceoperationamplifierclosetestprinciple,ringofparameter,isitinfluenceoperationamplifiercloseringparametertestprecisionandagreatdealofreasonsandfactorsofthestabilitytoanalyse,andthepe

3、rtinencemeasurestaken,havealsoprobedintotheprecisionoftestofclosingtheringparameter,appraisalquestionoftestingthestabilityandtestingadaptability.Systemthisinordertoisitascore,adoptADandDAmakethesystemsuccinctandpowerfulayearinYangsuchasLingtoinsultmalegenital16one-chipcomputer.Isitadopt240128

4、LCDshow,canshowmanykindsofcharacterandfigure,havefriendlyman-machineinterfaceandstrongdisplayfunctiontooutput.Theprogrammablehumanizationverymuchapplytointellectualcontrolshows,haverealizedthemenutypeChinesefigureinterface,havestrengthenedtheaptusingofthesystem.ThesystemadoptsMAX038todothesig

5、nalsource,itisadjustable,flexibleandeasytouseinfrequencyconversionthatcanoutputthesignal.Theperipheralone-chipcomputeradoptsAT89C55one-chipcomputerandcarriesonthecontrolthattheliquidcrystalrejected,driveofthekeyboard,etc..关键词：凌阳单片机人机界面信号源第1章绪论1.1、设计任务设计并制作一台能测试通用型集成运算放大器参数的测试仪，示意图如图1所示。图11.2、

6、设计要求1.2.1、基本要求（1）能测试VIO(输入失调电压)、IIO(输入失调电流)、AVD(交流差模开环电压增益)和KCMR(交流共模抑制比)四项基本参数，显示器最大显示数为3999；（2）各项被测参数的测量范围及精度如下(被测运放的工作电压为±15V)：VIO：测量范围为0～40mV（量程为4mV和40mV），误差绝对值小于3%读数+1个字；IIO：测量范围为0～4μA（量程为0.4μA和4μA），误差绝对值小于3%读数+1个字；AVD：测量范围为60dB～120dB，测试误差绝对值小于3dB；KCMR：测量范围为60dB～120dB，测试误差绝对值小于3dB；（3）测试仪

7、中的信号源(自制)用于AVD、KCMR参数的测量，要求信号源能输出频率为5Hz、输出电压有效值为4V的正弦波信号，频率与电压值误差绝对值均小于1%；（4）按照本题附录提供的符合GB3442-82的测试原理图(见图2~图4)，再制作一组符合该标准的测试VIO、IIO、AVD和KCMR参数的测试电路，以此测试电路的测试结果作为测试标准，对制作的运放参数测试仪进行标定。附录（1）VIO、IIO电参数测试原理图图2①在K1、K2闭合时，测得辅助运放的输出电压记为VL0，则有：②在K1、K