集成运放综合参数测试仪的设计

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1、集成运放综合参数测试仪的设计　　集成运放综合参数测试仪的设计　　摘要：集成运放是模拟电路中很重要的一种器械，但一般实验室因为各种原因都不配备次器件。本文作者针对当前的这种现象，设计一款精度高、稳定性好和成本低的集成运放综合参数测试仪。该测试仪使用了STC12C5A60S2单片机、显示部分采用HY-220TFT彩屏、信号源为AD9850，主要用于测试运放芯片的参数和功能。　　关键词：集成运放；参数测试仪；运放芯片　　Theintegratedoperationalamplifierintegratedparametertest

2、er　　Abstract:Theintegratedoperationalamplifierisaveryimportantinstrumentinanalogcircuits,butthegenerallaboratoryforvariousreasonsarenotequippedwithadevice.Inthispaper,theauthorofthisphenomenon,Theintegratedoperationalamplifierparameterstesterdesignagoodstabilityand

3、lowcost.ThetesterusestheSTC12C5A60S2microcontroller,displayusingHY-220TFTcolorscreen,thesignalsourceforAD9850,Theintegratedoperationalamplifierparameterstesterismainlyusedforparameterandfunctiontestchip.　　Keywords:operationalamplifier;Parametertester;Chip　　目录　　第1章绪

4、论2　　1.1集成运放综合参数测试仪概述2　　1.2研究内容与研究意义2　　第2章集成运放综合参数测试仪总体方案设计3　　2.1集成运放综合参数测试仪具体参数设计3　　2.2集成运放综合参数测试仪芯片选择5　　2.3集成运放综合参数测试仪整体设计6　　第3章集成运放综合参数测试仪硬件设计13　　3.1STC89C52单片机核心控制部分设计13　　3.2运放测试部分设计14　　3.3信号源部分设计14　　3.4显示部分设计15　　第4章集成运放综合参数测试仪软件设计17　　4.1编程及相关软件使用说明17　　4.2显示部分设计

5、19　　4.3AD转换部分软件设计20　　4.4按键部分软件设计23　　第5章结论25　　致谢27　　参考文献28　　附录129　　附录230　　参考文献　　[1]谢自美主编.电子线路设计·实验·测试,华中理工大学出版社　　[2]内山明治.运算放大器电路..科学出版社，XX　　[3]冈村迪夫.OP放大电路设计.科学出版社，XX　　[4]胡汉才.单片机原理及其接口技术.清华大学出版社，1996　　[5]王松武，于鑫.电子创新设计.国防工业出版社，XX　　[6]谢红主编.模拟电子技术.哈尔滨工程大学出版社，XX　　[7]岩石主编

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