集成运放参数测试仪的设计

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1、集成运放参数测试仪的设计　　集成运放参数测试仪的设计　　摘要：该课题主要是集成运算放大器参数测试仪的设计，主要基于MSC-51单片机，并且由显示模块(LCD)，键盘模块，数据采集和转换模块，采用DDS芯片（AD9851）实现了扫频输出模块等五部分组成。采用辅助运放测试方法，可对运放主要参数：输入失调电压、输入失调电流、交流差模开环电压增益和交流共模抑制比进行测量。在软件上用C语言实现。其要实现的功能包括：对来自A/D转换的数字信号进行接收、分析、计算和对结果的显示；通过不同键值的接收、分析来控制对不同对象的测量，并且在各数据之间实现键位转换,并在LCD上

2、显示按键对应的数据；对来自DDS的信号的频率进行控制来实现对集成运放的带宽参数的测试和显示。　　关键词:集成运算放大器；参数测试；单片机　　TheInstrumentfortestingtheParametersofIntegratedOperationAmplifier　　Abstract：Thesubjectismainlythedesignofintegratedoperationalamplifierparametertestinstrument,mainlybasedonMSC-51microcontrolleranddisplayedbyth

3、edisplaymodule(LCD),keyboardmodule,dataacquisitionandconversionmodulebyDDSchipAD9851)toachievethesweptfrequencyoutputmodulefiveparts.Usingauxiliaryopamptestmethod,onthemainparametersofoperationalamplifier:inputoffsetvoltage,inputoffsetcurrentanddifferentialmodeexchangeopenloopvol

4、tagegainandACcommonmodesuppressionratiomeasured.InthesoftwareusingClanguage.Toachieveitsfunctionsinclude:toreceivethedigitalsignalwitha/Dconversionfrom,analysis,calculationandtheresultsDisplay;throughthedifferentkeyreceptionandanalysistocontrolmeasurementtodifferentobjects,andint

5、hedatabetweenthekeyswitch.AndthecorrespondingkeydataisdisplayedontheLCD;fromthefrequencyoftheDDSsignalcontroltoachievetheintegratedoperationalamplifierbandwidthparametertestanddisplaye.　　Keywords：Integratedoperationalamplifier;parametertest;singlechipmicrocomputer　　绪论　　集成电路测试技术也是

6、发展集成电路产业的三大支撑技术之一。集成电路测试仪作为一个测试技术受到很多人的高度重视。集成电路测试仪还开发了小型集成电路测试的规模，规模和规模集成电路测试。　　目前市场上流通的集成运放参数测试仪种类繁多、功能强大，而且这些集成运放测试仪普遍性都采用“辅助放大器的测量方法”，是测试仪具有较高的稳定性、精确度、大范围等优点，但这些测试仪普遍的存在大片的问题：价格过高、电路过于复杂、使用不方便在一定的程度上没有解决问题，因此在一些工业电子生产中不能得到普遍的使用。　　目录　　绪论........................................

7、..........................................................................................................................3　　一、系统原理框图3　　二、硬件单元电路设计与实现4　　2.1Vioc、Iio、Aid、KCWR四个参数4　　2.1.1输入失调电压4　　2.1.2输入失调电流IIO4　　2.1.3开环差模放大倍数Aod5　　2.1.4共模抑制比KCMR5　　2.2集成运放测试仪测试芯片选择6　　2.3A/D采样电路6　　2.

8、4键盘接口电路7　　2.5测试模块8　　2.6显示接口电路8　　三、软件设计9