x射线衍射法测定高岭石合成

x射线衍射法测定高岭石合成

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1、X射线衍射法测定高岭石合成的NaY分子筛物相组成、结晶度、晶胞参数及硅铝比研究程群*(北京普析通用仪器有限责任公司北京100081)摘要:由高岭石合成的NaY分子筛经如下处理:将试样放入玛瑙研钵中充分研细,经120℃,1小时烘干,然后置于氯化钙过饱和水溶液气氛中(室温20~30℃)吸水16至24小时;将处理后试样照X射线衍射仪(XRD)进行测定,分析其物相组成、结晶度、晶胞参数及硅铝比。该方法测得的NaY分子筛各参数,比通常采用的化学分析方法省时、简便、重复性好,并为高岭石合成NaY分子筛提供了有效的理论依据,从而可以及时监控合成NaY分子筛的生产过程,降低了NaY分子筛生产成本。关键词:X射

2、线衍射仪;NaY分子筛;物相组成;结晶度;晶胞参数;硅铝比StudyonDeterminingComposition,crystallinity,cellparameterandratioofsilicatetoaluminiumofZeoliteNaYtreatedfromkaolinitebyX-rayDiffractometerAbstract:Inthispaper,ZeoliteNaYtreatedfromkaolinitecontinuedtobetreated,suchasgroundintheagatemortar,driedin120℃foranhour,dampedinth

3、esurroundingsofsupersaturatedcalciumchloridesolution(roomtemperaturefrom20℃to30℃)for16to24hours,ThetreatedZeoliteNaYwasdeterminedbyX-raydiffractometer,theComposition,crystallinity,cellparameterandratioofsilicatetoaluminiumofZeoliteNaYwasanalyzed.TheAnalyticalresultshowedthefeasibilityofsynthesizingZ

4、eoliteNaYfromkaolinite,Thenthecostisobviouslyreduced.Keywords:X-raydiffractometer;ZeoliteNaY;Composition;crystallinity;cellparameter;ratioofsilicatetoaluminium1引言Hewell等人首先利用高岭土矿物合成NaA沸石以来,引起了国内外学者对以天然矿物合成NaY沸石方法的广泛重视[1-3],而且矿物原料来源丰富,降低了成本,所以其在矿物合成NaY沸石中,占有重要的地位。本文中,研究了XRD测定由高岭石合成产物结晶度、晶胞参数及硅铝比,为高岭石

5、合成NaY分子筛提供了有效的理论依据,从而可以及时监控合成NaY分子筛的生产过程,降低了NaY分子筛生产成本。2实验原理2.1测定结晶度实验原理[4]为了排除高岭石特征衍射峰的干扰,本实验选择331,333,660,555四峰为被测峰,以NaY分子筛79Y-16为外标,用四峰的峰面积之和计量衍射峰强度,用外标法测定试样的相对结晶度,分别计算试样和外标衍射峰强度和,按照下式计算样品的结晶度Rc:___________*E-mail:qun.cheng@pgeneral.comRc=×90%2.2测定晶胞参数和硅铝比实验原理[4]本实验选择533衍射为被测衍射峰,以硅粉111衍射为外标,令外标硅粉

6、111衍射的标准角度值为2(本实验所用的硅粉2=28.443°),外标硅粉111衍射的角度测量值为2,试样533衍射的角度测量值为2,角度测量偏差Δ=2-2,则试样533衍射的角度校正值2=2-Δ试样的衍射峰角度位置经外标校正后,即可按照关系式a=计算出晶胞参数a,在本实验条件下,上式可简化为a=。硅铝比直接由经验公式SiO2/Al2O3=得到。3实验部分3.1仪器与试剂XD-2型多晶X射线衍射仪(北京普析通用仪器有限责任公司),202-1电热干燥箱(黄骅市综合电器厂),氯化钙为分析纯(北京化工厂),水为二次蒸馏水。3.2物相分析实验方法将由高岭石处理一段时间得到的NaY分子筛试样放入玛瑙研钵

7、中充分研细,经120℃,1小时烘干,置于氯化钙过饱和水溶液气氛中(室温20~30℃)吸水16至24小时;将处理后的粉末试样于XRD进行测定,测定条件:Cu靶,管压:36kV,管流:30mA,连续扫描:2θ:4°~65°,步宽:0.02°,发散狭缝(DS):1°,接收狭缝(RS):0.3mm,防散射狭缝(SS):1°,石墨单色器。3.3测定结晶度实验方法试样前处理同上,将处理后的粉末试样于XRD进行

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