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《gbz 147-2002-t x射线防护材料衰减性能的测定》由会员上传分享,免费在线阅读,更多相关内容在行业资料-天天文库。
1、ICS13.100GBZC57中华人民共和国国家职业卫生标准GBZ/T147-2002X射线防护材料衰减性能的测定DeterminationofattenuationpropertiesforprotectivematerialsagainstX-rays2002-04-08发布2002-06-01实施中华人民共和国卫生部发布目次前言1范围2术语和定义3测定项目与一般要求4量的测定5衰减性能的测定6测定结果的说明2前言根据《中华人民共和国职业病防治法》制定本标准,原标准GB16363-1996与本标准不一致的,以本标准为准。本标准保留了原标准G
2、B16363-1996中实际可行的部分内容,即屏蔽性能要求。与此同时,本标准参照采用国际电工委员会标准IEC1331-1:1994《医用诊断X射线防护器具第1部分:防护材料衰减性能的测定》,依据该标准增加了宽束测量条件。本标准由卫生部提出并归口。本标准起草单位:中国疾病预防控制中心辐射防护与核安全医学所本标准主要起草人:林志凯、赵兰才、崔广志、金辉、葛淑清本标准由卫生部负责解释。3X射线防护材料衰减性能的测定GBZ/T147-2002l范围本标准推荐了对X射线防护材料衰减性能的测量方法。本标准适用于X射线管电压为(30~400)kV、总过滤为(
3、0.05~3.5)mmCu的X射线防护材料。2术语和定义下列术语和定义适用于本标准。2.1衰减比attenuationratio核辐射在经防护材料衰减前后的空气比释动能率之比值。2.2铅当量leadequivalent用铅作为参考物质时以铅的厚度来表示的衰减当量,单位是毫米铅(mmPb)。每单位厚度(mm)防护材料板的铅当量称为比铅当量,比铅当量应该是衰减性能、物理性能和使用性能的最佳结合。2.3宽射束broadbeam辐射量测量中的一种辐射束条件。当辐射束立体角增大时,所测量的辐射量并无明显增加,但存在散射影响。2.4窄射束narrowbea
4、m为了测量理想的辐射量而用立体角尽可能小的辐射束,在此条件下散射辐射的影响趋于最小值,并在必要时保证侧向电子平衡。3测定项目与一般要求3.1衰减比所测防护材料应标明衰减比,即核辐射经防护材料衰减后减弱的倍数。3.2累积因子(符号:B)所测防护材料应标明累积因子B,即被测物质在所规定的辐照条件下,宽射束中心的相应辐射量值与窄射束中心的相应辐射量值之比。3.3衰减当量(符号:δ)所测防护材料应标明在规定线质的线束中和规定的测量条件下,与参考物质具有相同衰减程度时被测防护材料所相当的参考物质的厚度(mm)。3.4铅当量出厂的X射线防护材料应该标明其标
5、称铅当量和非均匀性,并用X射线管电压和总过滤表示线质。3.5非均匀性防护材料衰减当量的非均匀性应不超过±10%。4量的测量本章主要规定了在测定防护材料衰减性能时,应根据宽束测量条件和窄束测量条件测量相关辐射量、几何量,同时对辐射探测器的位置、检验仪器、检验物、线质均提出了要求。4根据所测相关辐射量给出防护材料的衰减性能。4.1辐射量在测定衰减性能时,应按照表1中的要求测定空气比释动能率。表1应测定的空气比释动能率空气比释动能率..衰减性能符...KcKs条文号K1K0Ke..KocK1s衰减比F测测测测5.1累积因子B测测测测5.2衰减当量δ测
6、5.3铅当量δpb测5.45.5非均匀性V测.K1是按照第4.3条在经过衰减的宽射束中测量的空气比释动能率;.K0是按照第4.3条在未经过衰减的宽射束中测量的空气比释动能率;.Ke是按照第4.4条在经过衰减的窄射束中测量的空气比释动能率;.Kc是根据图1测定的辐射源与检验物之间宽射束中心处的空气比释动能率;..Koc是如图1所示的经限束系统后,同Kc点离辐射源相同距离处测定的宽射束外的空气比释动能率;.Ks是如图1所示的初始宽射束投影内、由光阑限制的辐射束外的空气比释动能率;..K1s是同Ks点离辐射源相同距离处测定的经衰减的宽射束空气比释动能
7、率。4.2几何量应该按照表2中的要求测定示出的几何量。4.3宽射束条件下的测量4.3.1在宽射束条件下,应该按照图1的要求进行测量。..4.3.2在测量期间,空气比释动能率Koc应不大于空气比释动能率Kc的5%,即:..KKoc≤0.05×c..4.3.3在测量期间,空气比释动能率Ks应不大于空气比释动能率K1s的1%,即:..Ks≤0.01×K1s5表2应测定的几何量衰减性能符号cabAW条文衰减比F测测5.1累积因子B测测测测5.2衰减当量δ测5.3铅当量δpb测5.4V5.5非均匀性.c是对测量点Ke离辐射源的距离(见图2)偏差的修正因子
8、。按照下式测定c:1500+a2c=()1550a是图2所示的窄射束中心从检验物的远侧平面到辐射探测器参考点的距离。a应不小于截面A平方根的10倍;b
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