GBZT147-2002 X射线防护材料衰减性能的测定.doc

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1、GBZT147-2002X射线防护材料衰减性能的测定ICS13.100GBZC57中华人民共和国国家职业卫生标准GBZ/T147-2002X射线防护材料衰减性能的测定DeterminationofattenuationpropertiesforprotectivematerialsagainstX-rays2002-04-08发布2002-06-01实施中华人民共和国卫生部发布..bzxzk4>>.目次前言1范围2术语和定义ww3测定w项目与.一1般要7求jzw>4量的测定5衰减性能的测定w6w测定结

2、w果的说.明17bzw.17jzw.netwww.3x888>2..bzxzk>.前言根据《中华人民共和国职业病防治法》制定本标准,原标准GB16363-1996与本标准不一致的,以本标准为准。本标准保留了原标准GB16363-1996中实际可行的部分内容,即屏蔽性能要求。与此同时,本标准参照采用国际电工委员会标准IEC1331-1:1994《医用诊断X射线防护器具第1部分:防护材料衰减性能的测定》,依据该标准增加了宽束测量条件。本标准由卫生部提出并归口。本标准起草单位:中国疾病预防控制中心辐射防护与

3、核安全医学所本标准主要起草人:林志凯、赵兰才、崔广志、金辉、葛淑清本标准由卫生部负责解释。3..bzxzk>.X射线防护材料衰减性能的测定GBZ/T147-2002l范围本标准推荐了对X射线防护材料衰减性能的测量方法。本标准适用于X射线管电压为(30~400)kV、总过滤为(0.05~3.5)mmCu的X射线防护材料。2术语和定义w下列w术语和定w义适用于.本标1准。2.1衰减比attenuationratio7jzw>核辐射在经防护材料衰减前后的空气比释动能率之比值。2.2铅当量leadequiva

4、lent用铅作为参考物质时以铅的厚度来表示的衰减当量,单位是毫米铅(mmPb)。每单位厚度(mm)防护材料板的铅当量称为比铅当量,比铅当量应该是衰减性能、物理性能和使用性能的最佳结合。2.3w宽射束wbroadbeam辐射量测量中的w一种辐射.束条1件。7当辐射b束立体z角增大w时,所测.量c的辐射n量并无明显增加,但存在散射影响。2.4窄射束narrowbeam为了测量理想的辐射量而用立体角尽可能小的辐射束,在此条件下散射辐射的影响趋于最小值,并在必要时保证侧向电子平衡。3w测定项目w与一般要w求3

5、.1衰减比.17jzw.net所测防护材料应标明衰减比,即核辐射经防护材料衰减后减弱的倍数。3.2累积因子(符号:B)所测防护材料应标明累积因子B,即被测物质在所规定的辐照条件下,宽射束中心的相应辐射量值与窄射束中心的相应辐射量值之比。3.3衰减当量(符号:δ)w所w测防护材w料应标明.在规3定线质x的线束8中和8规定的8测量条.件c下,与o参考物m质具有相同衰减程度时被测防护材料所相当的参考物质的厚度(mm)。3.4铅当量出厂的X射线防护材料应该标明其标称铅当量和非均匀性,并用X射线管电压和总过滤表

6、示线质。3.5非均匀性防护材料衰减当量的非均匀性应不超过±10%。4量的测量本章主要规定了在测定防护材料衰减性能时,应根据宽束测量条件和窄束测量条件测量相关辐射量、几何量,同时对辐射探测器的位置、检验仪器、检验物、线质均提出了要求。4..bzxzk>.根据所测相关辐射量给出防护材料的衰减性能。4.1辐射量在测定衰减性能时,应按照表1中的要求测定空气比释动能率。表1应测定的空气比释动能率空气比释动能率..衰减性能符KK条文...csKKK..号10eKKoc1s衰减比F5.1测测测测B测5.2累积因子测

7、测测衰减当量δ测5.35.4铅当量δpb测5.5非均匀性V测.K是按照第4.3条在经过衰减的宽射束中测量的空气比释动能率;1.K是按照第4.3条在未经过衰减的宽射束中测量的空气比释动能率;0.K是按照第4.4条在经过衰减的窄射束中测量的空气比释动能率;e.K是根据图1测定的辐射源与检验物之间宽射束中心处的空气比释动能率;c..K是如图1所示的经限束系统后,同K点离辐射源相同距离处测定的宽射occ束外的空气比释动能率;.K是如图1所示的初始宽射束投影内、由光阑限制的辐射束外的空气比释动s能率;..K是同

8、K点离辐射源相同距离处测定的经衰减的宽射束空气比释动能率。1ss4.2几何量应该按照表2中的要求测定示出的几何量。4.3宽射束条件下的测量4.3.1在宽射束条件下,应该按照图1的要求进行测量。..4.3.2在测量期间,空气比释动能率K应不大于空气比释动能率K的5%,即:occ..KK≤0.05×occ..4.3.3在测量期间,空气比释动能率K应不大于空气比释动能率K的1%,即:s1s..K≤0.01×Ks1s5..bzxzk>.表2应测定的几何量衰减性能

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