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时间:2018-04-12
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1、实验22原子发射光谱摄谱法定性分析合金中的元素一、目的掌握原子发射光谱分析摄谱法的电极制作、摄谱、冲洗感光板等基本操作。掌握用铁光谱比较法定性判别未知试样中所含的元素,并估计其相对含量。二、内容提要在原子发射光谱分析中,将试样引入激发光源,当外界给以一定能量时,试样被蒸发分解成气态原子(或离子),一部分原子(或离子)的外层电子被激发至高能态。处于激发态的原子(或离子)很不稳定,当其跃迁至低能态或基态时,会发射出紫外和可见区的特征辐射,由光谱仪器分解为光谱,辨认特征波长谱线的存在情况可以进行定性分析,测量特征波长谱线的强度可以进行定量分析。该分析方法主要用于金属元
2、素的分析(非金属元素不易激发)。它已普遍地应用于矿物、金属、半导体材料等试样中的杂质分析。将样品光谱按波长顺序记录在感光板上,称为摄谱法。根据记录下来的光谱,进行定性或定量分析。发射光谱摄谱法分析的优点是灵敏度高,对大部分元素可测至l0-3%~10-4%,快速简便,一般样品不需任何处理,可同时分析许多元素;元素含量在0.OOO1%~0.l%时,结果可靠性优于一般化学分析;取样量少,一般只需数毫克至数十毫克。然而,它的缺点是在摄谱时,实验条件苛刻,某些条件往往难以控制,影响分析结果的准确度。实际工作中使用电感耦合等离子体光源的光电接收光谱仪器,可得到更准确、更灵敏
3、的定量结果,但摄谱法作为金属元素的定性分析手段仍有自己的特点。各种元素因其原子结构不同而有着不同的光谱。因此,每一种元素的原子被激发后,只能辐射出特定波长的光谱线,它代表了元素的特征,这是发射光谱定性分析的依据。然而,从一个元素可以获得许多条谱线,各条谱线的强度也不相同。当元素的含量降低时,光谱中强度弱的谱线相继不能被检出而消失,最后消失的几条谱线叫做最后线,也即灵敏线。最后线是检出限量最低的谱线。每种元素有它自己的最后线。定性分析时,只要检查光谱中的几条最后线(一般2~3条)是否出现,它们的强度比是否与谱线表所示相符,就可判明元素存在与否,因此,这些谱线有时也
4、称为分析线。在228.0~460.0nm范围内各种元素的主要分析线见表5—2。至于其他一些灵敏度较次的谱线出现,可不去理会它。如该元素存在,那末最后线必然出现。如该元素的最后线不出现,那末这些灵敏度较次的谱线就不可能出现,这时若在灵敏度较次的谱线位置上出现了谱线,则可能是由其他元素谱线的干扰而引起的。事实上,由于试样中许多元素的谱线波长相近,而摄谱仪及感光板的分辨率又有限,在记录到的试样光谱中,谱线会相互重叠,发生干扰。当需要确证某一种元素的分折线是否受到干扰时,首先要判明干扰元素是否存在(可检查干扰元素的最后线出现与否)。当一条分析线确实受到干扰时,可以根据别
5、的分析线来确定该元素是否存在。定性分析中通常按谱线强度级别来估计含量,方法是在被估计元素所出现的谱线中,找出其谱线强度级最小的级次,由表5-1列出的数值估计该元素的百分含量,一般要求估计准确度在一个数量级以内。例如,铝的分析线308.2nm及309.2nm,谱线强度级为8、9。若光谱上两条线都出现,且309.2nm线比308.2nm线略强或接近,通常可以得出铝存在的结论。若309.2nm线很弱,而308.2nm线不出现,这也是正常的,得出含有痕量(0.001%)铝存在的结论。若两条谱线之中一条很强,而另一条根本不出现,则对出现的一条线不能确信是铝的谱线,而可能是
6、其他元素的干扰线。摄谱法定性分析的方法,通常是将细粒或粉末试样装载在光谱纯石墨电极的孔穴内(棒状金属、合金试样可做成“自电极”),在电弧或火花光源中,试样的各种组分先后蒸发到弧焰中成为单个原子或离子、分子,并被激发而发光,经光谱仪分解为光谱而被感光板记录下来。用哈特曼(Hartmann)光栏将铁光谱并列拍摄在试样光谱的旁边。因为铁的光谱含有许多相距很近的谱线,且每一条谱线的波长已经过精确的测定,可以用作测量元素谱线的标尺。记录有光谱的感光板在光谱投影仪上放大20倍,使感光板上的铁光谱与元素光谱图片上的铁光谱重合,就可以方便地从元素光谱图上标记的谱线来辨认摄得的试
7、样谱线。实验内容:1)判明未知金属或合金的组分及估计其含量,如铅合金、锡合金、焊锡、保险丝、黄铜、铝、镁。2)检查某矿物中的指定元素,如铝矿中的镓。3)检查某纯金属材料中的杂质元素,如铝材。三、仪器和试剂摄谱仪WPG-100型平面光栅摄谱仪,狭缝6um,中心波长300nm光源屑粒状、粉末状试样用交流电弧,棒状金属试样用火花电极光谱纯石墨电极(下电极有孔穴,孔穴内径3.5mm,深4mm,壁厚1mm;上电极圆锥形)感光板天津紫外II型,9cm×18cm显影液按感光板附方,或用高反差显影粉配制定影液F5酸性坚膜定影液投影仪8W型光谱投影仪图谱米平面光栅摄谱仪用的《元素
8、发射光谱图》四、实验步骤
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