材料分析测试技术智慧树知到课后章节答案2023年下山东科技大学.docx

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材料分析测试技术智慧树知到课后章节答案2023年下山东科技大学山东科技大学第一章测试1.X射线特征谱的产生机理与（）有关。A:X射线管的阴极材料B:X射线管的电压C:X射线管的阳极靶材的原子结构D:X射线管的电流答案:X射线管的阳极靶材的原子结构2.倒易矢量的长度与正点阵中同名晶面的晶面间距（）A:成倒数B:垂直C:没有关联D:相等答案:成倒数3.粉末多晶样品中，不同晶面指数的倒易点分布在（）半径的倒易球上。A:相同B:其他选项都不对C:任意D:不同 答案:不同1.在体心点阵中，当（HKL）晶面的H+K+L为奇数时，产生系统消光。（）A:错B:对答案:对2.关于X射线衍射仪的测量动作，说法正确的是（）。A:机械连动时，样品台转过θ角时，计数管转2θ角。B:样品台和计数管可以分别绕O轴转动，也可机械连动。C:样品台和计数管必须机械连动D:机械连动时，样品台转过θ角时，计数管转θ角。答案:机械连动时，样品台转过θ角时，计数管转2θ角。;样品台和计数管可以分别绕O轴转动，也可机械连动。3.X射线衍射仪中，通常用于测定2θ范围不大的一段衍射图，常用于精确测定衍射峰的积分强度和位置的扫描方式为（）。A:其他选项都不对B:步进扫描C:慢速扫描D:连续扫描答案:步进扫描4.当倒易球与反射球相交，交线是一个圆环，环上每一点都满足衍射条件，可以产生衍射。（） A:错B:对答案:对1.X射线衍射的充分条件是（）。A:其他选项都不对B:晶面间距大于等于半波长C:满足布拉格方程且结构因子不为零。D:满足布拉格方程且结构因子为零。答案:满足布拉格方程且结构因子不为零。2.晶体的X射线衍射方向反映了晶胞的（）A:形状B:大小C:原子种类D:原子位置答案:形状;大小3.每种晶体物质都有自己特定的晶体结构，晶体结构不同则X射线衍射花样也就各不相同。（）A:错B:对答案:对 第二章测试1.影响电磁透镜分辨率的因素包括（）。A:色差B:像散C:球差D:衍射效应答案:色差;像散;球差;衍射效应2.孔径半角越小，衍射效应所决定的电磁透镜的分辨率越高。（）A:错B:对答案:错3.透射电镜的成像操作和电子衍射操作是通过调节（）的位置来实现的。A:中间镜B:物镜C:投影镜D:聚光镜答案:中间镜4.制备透射电镜薄膜样品时，离子减薄既适用于导电样品，又适用于不导电样品。（） A:错B:对答案:对1.产生电子衍射的充分条件是满足布拉格方程。（）A:对B:错答案:错2.简单立方结构材料发生衍射时，可以产生衍射的晶面为（）。A:（200）B:（110）C:（100）D:（111）答案:（200）;（110）;（100）;（111）3.衍射衬度在晶体和非晶体中都是存在的。（）A:对B:错答案:错4.根据衍衬运动学原理，理想晶体衍射强度随（）而变化。A:样品质量B:样品厚度C:偏离矢量D:衍射矢量 答案:样品厚度;偏离矢量1.暗场像中位错线的像为亮线。（）A:错B:对答案:对第三章测试2.电子束与固体样品作用时，产生的信号有（）。A:俄歇电子B:二次电子C:背散射电子D:特征X射线答案:俄歇电子;二次电子;背散射电子;特征X射线3.电子束与固体样品作用时，会产生背散射电子。背反射电子的产额随样品（）的增加而增多。A:表面形貌B:原子序数C:表面面积D:厚度 答案:原子序数1.扫描电镜的二次电子像中，样品表面的深凹槽底部产生较多二次电子，在荧光屏上这些部位的亮度较大。（）A:错B:对答案:错2.在扫描电镜观察样品，对样品微观组织形貌敏感的成像信号是（）。A:背反射电子B:二次电子C:俄歇电子D:特征X射线答案:二次电子3.与光镜呈像相比，扫描电镜图像立体感强，形态逼真，这是由于扫描电镜的（）比光镜大100-500倍。A:速度B:尺寸C:景深D:放大倍数答案:景深 1.扫描电镜中，无论二次电子呈像还是背散射电子呈像，图像的分辨率不发生改变。（）A:对B:错答案:错2.被样品原子核反弹回来的入射电子称为非弹性背散射电子，能量基本上没有损失。（）A:对B:错答案:错3.扫描电镜的分辨率等于入射电子束直径。（）A:错B:对答案:错4.扫描电镜的背散射电子像中，图像上亮区对应区域的原子序数（）暗区对应区域的原子序数。A:其他选项都可以B:小于C:等于D:大于答案:大于5.二次电子像衬度最亮的表面区域是（）。A:法线与电子束成36°的表面B:法线与电子束成0°的表面 C:法线与电子束成86°的表面D:法线与电子束成66°的表面答案:法线与电子束成86°的表面第四章测试1.电子探针的能谱仪和波谱仪比较，波谱仪（）。A:分析元素范围广B:适合粗糙表面工作C:分辨率高D:分析速度慢答案:分析元素范围广;分辨率高;分析速度慢2.在电子探针中，测定X射线特征能量的谱仪为能量分散谱仪，简写为（）。A:EPMAB:EDSC:WDSD:XRD答案:EDS3.利用电子探针，可以对样品的成分进行（）。A:只能定性分析 B:只能定量分析C:定量分析D:定性分析答案:定量分析;定性分析1.利用电子探针的波谱仪，一个分光晶体能够覆盖的波长范围有限的，因此一个分光晶体只能检测一定原子序数范围的元素。（）A:对B:错答案:对2.在电子探针面分析中，根据图像上亮点的疏密和分布，可确定该元素在试样中分布情况，亮区代表元素含量（）。A:没有B:中等C:低D:高答案:高3.电子探针的主要功能是进行微区成分分析。（）A:错B:对答案:对4.利用电子探针对材料微区成分进行面分析，包含几种元素就显示几种元素的分布图像。（） A:对B:错答案:对1.电子探针只能对材料进行微区成分分析，不能同步观察材料微观形貌。（）A:错B:对答案:错2.在电子探针中，测定X射线特征波长的谱仪为波长分散谱仪，简写为EDS。（）A:对B:错答案:错3.电子探针和X射线衍射仪一样，都可以直接确定材料中所包含的物相。（）A:错B:对答案:错第五章测试4.差热分析法的简称为（）。A:DSCB:EDSC:DTAD:WDS答案:DTA 1.差热分析中，若试样没有热效应时，记录仪所记录的ΔT曲线，为水平直线，称为（）。A:吸热峰B:放热峰C:DTAD:基线答案:基线2.热分析技术中，试样用量越多，热效应大，内部传热慢，温度梯度大，导致峰形扩大，峰顶温度滞后，容易使相邻峰重叠，降低分辨率。（）A:对B:错答案:对3.差热分析中，试样对曲线会产生影响，影响因素有（）。A:试样的装填B:试样用量C:试样结晶度D:试样粒度答案:试样的装填;试样用量;试样结晶度;试样粒度4.在热分析技术中，参比物质的选择是任意的。（） A:错B:对答案:错1.热重分析法的简称为（）。A:DTAB:DSCC:EDSD:TG答案:TG2.在热分析技术中，利用程序温控装置，可以升温、降温，但不能测定材料在恒温过程中发生的变化。（）A:对B:错答案:错3.热分析中，不同性质的气氛对测试结果没有影响。（）A:错B:对答案:错4.热分析中对样品的重量没有要求，只要样品尺寸能放进坩埚内，就可以获得良好的测试结果。（）A:对B:错答案:错 1.（）需要试样与参比物之间温度始终保持相同。A:DTAB:XRDC:DSCD:TG答案:DSC